贝克曼库尔特颗粒表征技术讲座在京举办

　　仪器信息网讯 2010年8月13日，为了给用户提供一个了解颗粒特性表征技术最新动态和一个交流使用心得的平台，美国贝克曼库尔特公司在北京远望楼宾馆成功举办了“颗粒特性与表征分析技术讲座会”，来自科研院所、质检机构、石油化工、水泥、制药等企业单位的50余位颗粒特性表征工作者参加了此次会议，仪器信息网作为特邀媒体应邀参加。

会议现场

美国贝克曼库尔特公司颗粒部全球技术总监许人良博士

　　许人良博士首先介绍了美国贝克曼库尔特公司的发展历程与近期动态。许人良博士表示：“美国贝克曼库尔特公司是由世界科学仪器界传奇式人物阿诺·贝克曼先生与沃勒斯·库尔特先生创建，目前公司拥有一万多名员工，年销售额可达33亿美元，是世界上最大的颗粒分析仪器制造公司之一，名列《福布斯》500强与《财富》1000强。同时，美国贝克曼库尔特公司在中国已开展业务30多年，并建有独资公司——贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司。”

美国贝克曼库尔特公司各类颗粒表征仪器

　　“目前，公司主要包括颗粒表征、核酸研究检测、蛋白质组学、细胞学、离心机、自动化的化学分析等几大领域的分析仪器。其中，颗粒表征仪器主要分为颗粒计数、比表面分析、粒度分析和颗粒与平面Zeta电位分析四大类。”

　　另外，许人良博士还分别介绍了颗粒表征仪器的原理、技术、标准、应用领域以及美国贝克曼库尔特公司的最新产品。

　　(1)纳米颗粒度与平面Zeta电位测量

　　许人良博士说到：“纳米颗粒表征的两大指标为粒度与表面电势。目前，纳米颗粒度与平面Zeta电位测量技术的新进展主要有：PCS(光子相关光谱)背散射技术主要用于亚微米与纳米粒度的测量;FST(穿过透明电极的前向散射)专利技术为测量颗粒在浓溶液中Zeta电位的新技术;EOP(电渗探针法)技术主要用于测量颗粒表面的Zeta电位。”

DelsaNano系列纳米粒度/Zeta电位仪

　　美国贝克曼库尔特公司最新上市的DelsaNano系列是目前惟一应用电泳光散射及动态光散射原理，同时提供颗粒Zeta电位分布、固体及薄膜液-固平面Zeta电位分布和纳米粒度分布的分析仪。

　　在粒度测量方面，DelsaNano系列具备多角散射(15度与165度)功能，可测量粒度范围为0.6-7000nm，浓度范围宽达四个数量级的浓度(0.001-40%)，灵敏度非常高;在Zeta电位测量方面，DelsaNano系列具备多角度测量(15度与30度)功能，浓度范围测量极宽，能够测颗粒在浓溶液中的Zeta电位分布，是目前唯一能测固体与薄膜表面电位的仪器。

　　(2)激光衍射法中的小颗粒测量与干法分析

　　许人良博士谈到：“激光衍射仪已取代筛分与沉降法成为从纳米至毫米大小颗粒度测量的最常用手段。不过，激光衍射仪也面临着如何用激光粒度法测量亚微米甚至纳米粒度，如何能达到测量的高精度、高分辨率、高重现性，如何能真正使干粉的测量也如湿法那样能均匀进样，分散颗粒而不打碎等挑战。”

LS 13320系列激光衍射仪

　　LS 13320系列利用独特的PIDS(偏振光强差异)技术，能够用全米氏理论求得颗粒在17nm-2000μm范围内的粒度分布;同时，LS 13320系列还利用专利的光源滤光器，134个探测器与自动准直系统达到高精度与高度重现性。另外，LS 13320系列采用专利的“旋风式”干法分散系统分析需要干法分析的粉末状样品。

　　(3)最高分辨率的粒度测量与计数技术

　　许人良博士介绍到：“通过库尔特原理(电阻法)可以直接测量出颗粒的大小与浓度，而不是如激光粒度仪那样算出来的。如果所测量的液体量由计量装置精确控制，那么从所得到的计数可知浓度，并可精确测量每个颗粒的固体体积，由此可得到各种粒度的表征参数。”

Multisizer系列(MS)库尔特计数器

　　MS系列采用了唯一能通过三维测量而直接提供颗粒体积数据和绝对计数的分析方法，所有功能都由使用方便的软件控制，符合美国食品药品检验局(FDA) 联邦法规第21章11 款。另外，MS系列采用数码脉冲处理技术，同时，还选用“编辑”技术校正非轴向流动的影响，采用重合效应校正技术使测量可在低于10%重合效应的浓度下测量，因此，MS系列具有极高的准确性与重现性。

现场互动

　　另外，讲座会还特设了颗粒表征技术问答环节，参会者积极发问，增强了仪器用户与厂商专家的互动，取得了良好的效果。

　　附录1：贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司

　　        http://www.coultercounter.com/

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