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尊敬的女士/先生:
非常荣幸地邀请您参加于2010 年7 月22 日(周四)下午在深圳东方银座酒店举行的“分立器件测试技术研讨会”
本次研讨会将由美国STI公司副总裁John Bailey与大家一起分享半导体分立器件的测试技术，STI分立器件测试仪的应用，并为您现场解答您关心的测试问题。
本次研讨会我们邀请了艾默生网络能源，山特，意法，安森美等知名企业，希望大家能够相互交流测试经验。对于与会者我们将有精美礼品奉送!
时间：2010 年7 月 22 日星期四 14:00-17:00
地址：深圳福田区深南大道竹子林东方银座酒店雅典厅
公交路线：乘公交车到竹子林站(深南大道北侧)即可到达酒店
地铁路线：乘坐地铁到竹子林站B出口，即可到达酒店
驾车路线：深南大道北侧，竹子林
酒店电话：0755-8350 0888
主办方：深圳市云帆兴烨科技有限公司 www.sinyee.cn
美国科学仪器测试公司
会议日程
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日期
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时间
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主题
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讲师
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7月22
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14:00-15:00
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分立器件测试与ATE
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John
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7月22
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15：00-15:15
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Tea Break
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7月22
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15:15-16:15
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STI5000C 器件特性曲线扫描
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John
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7月22
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16:15-16:45
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现场答疑
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John
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7月22
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16:45-17:00
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国内客户案例分享
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艾默生
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报名方式
请填写下表e-mail至 caipf@sinyee.cn 或传真0755-83323909
如有疑问请致电(0755)83248861/13751095731 蔡鹏飞
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公司名称
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公司地址
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所在部门
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E-mail
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公司所在行业
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□电源
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□照明
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□家电
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□电力
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□元器件
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□教育
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□电机
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□其他
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[来源：深圳市云帆兴烨科技有限公司]
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