2010年3月,梅特勒托利多新型超越系列中文密度计/折光率仪在中国正式上市!
新的中文密度计和折光率仪包括5款主机:DM40、DM45 DeltaRange、DM50、RM40、RM50和对应的5款模块:DX40、DX45 DeltaRange、DX50、RX40、RX50。新仪器具有操作更加简单,测量更加安全和模块化组合的特点,并且能够完全自动的同时测定pH值、电导率和色度。同时,在新的LabX™ 2010软件支持下,密度计和折光率仪能够方便的同LIMS/SAP等系统实现无缝连接。
超越系列中文密度计/折光率仪的特点如下:
-- 操作简单
中文触摸屏和一键测定使用户能简单、快速、直接的启动常规分析任务,特别是当把常规任务做成清晰的快捷键放在桌面上的时候,而且每一个操作者都有自己个性化的主界面、快捷键和操作语言等。独有的产品/方法概念不需要用户做任何设置就能自动按照测试要求启动测定,测定结果能自动转换成用户定义的单位,如白利糖度或酒精度,同时,精准的条形码扫描功能可以便利的输入样品数据,并确保正确的方法被自动选择。
-- 精准高效
完全模块化加上高度灵活的概念使密度计和折光率仪同pH计、电导率仪、色度计完美整合,简单的系统扩展就能同时测定几个参数。强有力的自动进样系统保证整个测量过程完全自动的运行,并最大限度的节约时间和溶剂。全新的LabX™ 2010软件无缝连接LIMS/SAP系统,同时,它有机的整合包括相关数据的样品系列到整个质量控制系统中。
-- 安全最大化
使用指纹识别方式进行用户识别和登录控制,以及可靠的可追溯性使LabX™软件非常方便的、完全的满足各行各业的法规要求。全面的检查和自动误差检测功能,以及自动校准验证功能使整个系统非常的安全,进而保证测量结果的准确性。
有关超越系列中文密度计/折光率仪更多的详细信息请见相关样本(51725235,51725240)。
梅特勒托利多始终致力于技术的不断革新,并为客户提供完美的解决方案,我们相信新型超越系列中文密度计/折光率仪一定会为我们客户的测量带来更多的便利!
梅特勒托利多中国
2010年2月23日
[来源:梅特勒-托利多中国]
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