德祥集团成功参加2009中国环境科学学会学术年会暨武汉国际环境科学与技术会议
2009年6月27-30日在湖北省武汉市举办“2009中国环境科学学会学术年会暨武汉国际环境科学与技术会议”。以华人环境科学家为主体的100-150位国际环境科学家参加会议,学术年会得到了国家环境保护部、中国科协、湖北省环保局、美国环保局(EPA)、中国旅美科技协会、环球中国环境专家协会、美国国家环境毒理研究中心等部门和机构的支持。
德祥公司在此次学术年会中向各界环境用户推荐了美国Innov-X System现场环境污染监测技术和土壤原位测试技术。德祥公司亚太区经理梅女士结合美国EPA 6200方法,在土壤污染控制与修复专场和固体废弃物处理及资源化利用技术专场全面介绍了便携式X射线荧光光谱仪(XRF)在环境污染监测、控制和评估中的应用进展,尤其是美国Innov-X System全球首家推出的GPS-GIS-XRF数据自动集成技术,现场用户反响热烈,预期便携式XRF作为一种快速环保的绿色检测技术,结合行业领先的地理测绘技术Trimble GPS (全球卫星定位系统)和ESRI GIS(地理信息系统),在当前广泛开展的环境重金属污染监测和分布统计工作中发挥积极的作用。
[来源:德祥]
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~