天瑞仪器受邀出席第35届国际光谱会议

第35届国际光谱会议于2007年9月23～27日在厦门召开。这是CSI（国际光谱会议）第三次在亚洲召开，而且是首次在中国召开。天瑞仪器（中国）有限公司是唯一受邀出席本次会议的专业X荧光光谱仪制造商。


    CSI是世界光谱分析方面的顶级峰会，自1949年在法国举行首届国际光谱会议以来，每两年举办一次，全世界的光谱学家都以能在国际光谱会议上发表自己的研究成果为荣。近年来中国在光谱和光谱分析领域取得了举世瞩目的成就，2003年在西班牙举办的第33届国际光谱会议上，在29个投票国家中以18比11胜出匈牙利，成功赢得了第35届国际光谱会议举办权。


    这次谱学盛会由国家自然科学基金委、中国化学学会、中国物理学会、中国光谱学会以及厦门市政府主办，由厦门大学承办。来自世界40多个国家和地区的600多名科学家参加本届会议，126位世界知名科学家将作报告，其中有六位该领域世界顶级科学家将作大会报告。


    科学家说，近在眼前的食品安全、中药、水质检测，远在天边的火星探险，都离不开光谱化学。本届国际光谱会议主席，中国科学院院士、厦门大学化学系教授黄本立说，“从一定意义上讲，谁掌握了更先进的分析检测技术，谁就掌握了科技发展的优先权、人民健康的保障权、商业发展的制定权以及突发事件的主动控制权”。


   天瑞仪器研发、生产的X荧光光谱仪广泛应用在电子电气、钢铁矿业、水泥建筑等行业，并成为贵金属检测、RoHS检测、玩具安全检测、镀层厚度检测、全元素分析等领域的佼佼者，倍受世界各国瞩目。





    本届国际光谱会议主席、国际知名光谱学家、中国科学院院士、厦门大学化学系教授黄本立先生莅临我司展位，并与我司工作人员合影留念。