在药物的质量管理中,次品的产生原因分析是一项十分重要的工作。虽然异物和污染物的大小和形状不同,最佳的分析方法也存在差异,但在分析药物片剂的缺陷部位时多会用到红外显微镜。
本文使用自动缺陷分析系统 AIM-9000 对药物片剂表面的异物进行了定性分析。在市售的药物片剂表面上发现了微小的异物。使用 AIM-9000 的大视野相机观察片剂的图像。异物的大小约为 100 μm,该异物的测量方法包括:①在固定各片剂的状态下通过直接 ATR 法测量,②用针等采样后通过透射法或ATR 法测量的两种方法。采用显微镜和大视野相机对异物进行观察,研究最佳方法。
异物暴露于片剂表面时采用 ATR 法,掩埋于内部时、或难以与 ATR 晶体接触时采用透射法测量,由此完成了对异物的定性。通过使用 Micro Vice Holder 和 Diamond cell 等配件,能对各种状态的异物进行分析
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