气相色谱法检测蔬菜中百菌清农药残留

1、恒温槽采用铝块加热的方式，50~200℃范围内进行高精度温度调节。 2、反应柱分为内径3·5·10mmX长度50·100mm的六个种类，材质分为不锈钢材质和玻璃材质，玻璃反应柱适用于酸性样品的反应。 3、反应柱在恒温槽内的固定操作十分简单，只需一个拉杆动作即可完成安装。 4、样品导入端分为液相反应用和气液反应用2个种类（选购） 5、氢气、氧气、二氧化碳气的气体反应用大流量控制单元也可配备（选购）

Ramina过程分析仪为离线手动或自动湿态化学测试提供了一种快速且易于操作的替代方案。相比于传统的拉曼过程监控系统，它的安装和使用变得更加简单。Ramina为用户开始收集数据提供了所需的全部设备，包括拉曼光谱仪和光纤探针，以及便携式监视器、鼠标、键盘和激光安全护目镜。工厂校准可确保Ramina系统随时能够投入使用，其固态结构提供了长期稳定性。这意味着用户可以进行连续、高精度的测量，而无需频繁校准。用户还可以并联使用多个系统来同时测试不同的反应容器，或者在一个反应容器中组合使用多个探针。

磷酸中杂质的监测对于其应用至关重要。除其它参数外，总有机碳还作为总量参数应用于质量控制中，用于评估有机杂质的整体污染情况。 本文主要对紫外-过硫酸盐氧化法和NDIR检测器对磷酸中TOC杂质的全自动质量控制进行验证。

近几年来，随着国内科技产业的不断升级，对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展，比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等，对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长，这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中，通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理，来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪（XPS）是一种表面分析技术，随着商业化XPS设备的普及，其在微电子器件研究中的应用越来越广泛，逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2，对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试，展示如何通过设备小束斑+成像功能，快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况，来辅助评估表面处理效果及器件质量。