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上海星门国际贸易:半导体 Si中痕量元素分析

2017/10/15 21:04

阅读:106

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应用领域:
半导体
发布时间:
2017/10/15
检测样品:
其他
检测项目:
痕量元素
浏览次数:
106
下载次数:
参考标准:
国标

方案摘要:

本解决方案设计多种前处理设备,既可以单独使用,也可以配合使用,提高处理效率。仪器自动化程度高,样品处理效率,使用方便,适用面广。

方案详情:

      本方案针对食品、土壤、水等不同种类样品,提供了详细的解决方案。

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Questron样品前处理方案.ppt
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