2017/09/06 13:57
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产品配置单:
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
型号: RISE Microscope
产地: 捷克
品牌: 泰思肯
¥500万 - 700万
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方案详情:
如下图,试样为不锈钢的裂纹区,在低倍下进行EDS面扫描分析,发现了有Si元素的富集区域。
对Si富集区进行放大后进行EDS的元素分布和点扫分析,发现Si富集区域的EDS含量结果除了显示Si占主要外,还有少量的C、O、Fe等。
此外,分析区域处在裂纹中,位置比周围略低,所以存在X射线的阴影区域,对元素含量分析的准确度也是大打折扣。所以仅仅根据EDS的分析结果,我们很难分析出有价值的信息。而且对EDS本身结果的不准确性,我们还要给出诸多解释说明。我们无法知道Si在其中究竟是以何种方式存在,是单质还是化合物,其他元素如C、O、Fe也不知道究竟以何种化合方式存在。
而在RISE系统上可以在Si富集区进行过SEM-EDS分析后,再转移到拉曼光谱下,我们可以轻易的根据SEM图像或者SEM与EDS Mapping的混合图像找到各个感兴区域,进行拉曼光谱的点分析。由于拉曼光谱光路垂直与试样表面,因此不存在阴影区,就是处于凹坑或者裂缝内部,依然可以进行光谱的检测。
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