ICP-5000 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Al等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中B等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Ca等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Fe等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Ni等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Mn等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

微量杂质钨和钒的含量直接影响高纯金属 的物理和化学性能。常用分析方法如萃取法具有 分析周期长、环境危害大等特点。 本文采用标准基体匹配和电感耦合等离子 体发射光谱法（ICP-OES）测定合金钢中的钨 （W）和钒（V）元素。结果表明该方法具有分 析快速、准确度高、精密度好和检出限低等特点。

仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。 目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Al、等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Al等15种杂志元素含量。

仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。 目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Ca等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Ca等15种杂志元素含量。

仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。 目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Cd等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Cd等15种杂志元素含量。

仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。 目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Co等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Co等15种杂志元素含量。

仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。 目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Cr等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Cr等15种杂志元素含量。

活性炭由于其比表面大、强度高、吸附性能好等优点，它作为一种优质的吸附剂和催化剂载体, 被广泛应用于食品卫生、医药、环境保护、饮用水处理、溶剂回收及气体的分离、净化等诸多领域。活性炭中杂质元素的含量直接影响到催化剂的催化性能，因此在催化剂制备过程中，活性炭中各杂质元素含量的测定显得十分重要。 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）具有多元素同时测定、线性范围较宽、灵敏度高、干扰少、分析效率高等优点被广泛用于活性炭杂质元素检测。本文按照《GJB 6239.12-2008 军用浸渍活性炭试验方法》，采用ICP-5000测定活性炭中银、铬、铜、钼、锌元素含量。

碳化硼具有高温耐磨性能、耐腐蚀性能、优异的热稳定性能，可以吸收中子而不形成任何放射性同位素，其与铝粉混合制备而成的B4C/Al铝基复合材料，作为中子屏蔽材料，在核工业中广泛使用。硼的含量对其屏蔽性能起决定性的作用，工业生产制备过程中对碳化硼中各元素含量具有严格的技术要求，因此，碳化硼中元素检测具有重要意义。 由于碳化硼的耐腐蚀性能，其溶解存在很大的困难，国标中采用碱溶法，容易造成基体效应，不利于杂质元素的测定。另外，B为难电离的非金属元素，消解过程中易损失。本文采用氢氟酸、硫酸、硝酸等混合酸对碳化硼进行微波消解，随后用ICP-5000及耐氢氟酸进样系统对样品中B、Cu、Fe、Mg、Mn、Ti、Zn元素进行测定，并进行了加标回收试验。

硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Al、B、Ca、Fe、Ni、Mn、P、Ti 8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。

近日，环保部、国土资源部和农业部联合发布《关于组织做好全国土壤污染状况详查实验室筛选工作的通知》，要求各省市对自己所辖区域内可参加全国土壤污染详查的实验室进行筛选。《通知》对实验室应配备的仪器列出了基本要求，大致可分为无机污染物检测实验室、有机污染物检测实验室、二恶英检测实验室以及质量控制实验室。 聚光科技（杭州）股份有限公司（以下简称“聚光科技”）实验室业务平台携旗下子品牌吉天仪器和安谱实验，提供包括前处理、无机以及有机检测以及分析方法和关键耗材（含标准品）的解决方案，为广大用户提供好用、耐用的分析利器，助力用户快速高效地开展“土壤详查”和“土壤检测”的各项工作。

土壤质量关系到人们的生活健康和饮食健康，由于工业废水、废渣、废气的任意排放，以及农业生产过程中大量施肥、喷农药、污水灌溉等行为造成了土壤的严重污染。目前土壤污染问题已经得到高度的重视。2016年5月31日，国务院正式印发《土壤污染防治行动计划》（“土十条”），其中提到土壤污染的重点监控无机污染物包括镉、汞、砷、铅、铬、铜、锌、镍等重金属。环保部于2016年6月24日发布并于8月1日实施了环境新标准《HJ 804-2016 土壤 8种有效态元素的测定 二乙烯三胺五乙酸浸取-电感耦合等离子体发射光谱法》。由于该方法采用的提取液既含有有机物又含有较高的盐，基体比较复杂，因此，对检测仪器的要求也相应提高。 针对HJ 804-2016，聚光科技提出了相应的解决方案。

　　固体废弃物组成复杂、形态与性质多变、可能含有毒性、燃烧性、爆炸性、放射性、腐蚀性、反应性、传染性与致病性的有害废弃物，有些物质难降解或难处理、排放具有不确定性与隐蔽性，这些因素导致固体废弃物在其产生、排放和处 理过程中对资源、生态环境、人民身心健康造成危害，因此固体废弃物的处理与安全监测显得尤为重要，国标GB 50853-2007危险废物鉴别标准对固废中有毒有害物质也作出限定。 　　ICP-OES是固废有毒元素检测的重要手段，国家环境保护发布最新标准HJ782-2016《固体废物22种金属元素的测定电感耦合等离子体发射光谱法》自2016年3月1日起实施。 　　本文采用HJ/T299-2007《固体废物浸出毒性浸出方法 硫酸硝酸法》，对氟化淤泥、废弃固废浸出，使用ICP-5000测定浸出液中Ba、Cd、Cu、Ni、Zn元素含量；

我国地下水环境质量标准GB14848-1993明确将地下水按质量分为5 类，主要关注指标是各种重金属元素，其中对于As、Hg 和Se 的含量限定值在ppb 水平，该限值低于ICP-OES 的仪器检出限，为了更好的提高ICP-OES 检测灵敏度，必须采取必要的样品前处理方法。常规样品前处理方法如加热富集法具有操作时间长、试剂污染大、而且易于导致汞元素挥发。氢化物发生装置作为一种分离富集的方法,常用于样品中As、Hg 和Se 等元素的荧光或原子吸收光谱检测。但是荧光或原子吸收光谱法一般用于单元素分析，无法应用于多元素同时分析检测。本文将氢化物发生装置与ICP-OES 联用，实现了地下水中痕量元素As、Hg 和Se 的同时分析检测。该法具有操作方便，测定快速，可较大程度提高分析灵敏度等特点。

土壤中各种金属元素的含量差别较大。它们 含量高低直接影响植物的健康。电感耦合等离子 体原子发射光谱仪（ICP-OES）是痕量元素分 析的主要技术手段，目前已经广泛应用于土壤样 品中多种金属元素的分析检测。 本文采用硝酸+氢氟酸+高氯酸消解土壤样 品，采用ICP-5000 全谱直读原子发射光谱仪测 定标准土壤样品中的硼、钡、镉、钴、铬、铜、 镍、锶等10 种金属元素，通过计算方法检出限、 回收率和精密度来考察ICP-5000 测定实际样品 的分析性能。结果表明ICP-5000 可用于土壤样 品中多种金属元素的同时分析检测。

印染废水常含有多种重金属元素。常用检测 方法主要有光度法、原子吸收光谱法和伏安法 等。由于印染废水本身带有颜色，采用光度法测 定会带来较大误差；原子吸收光谱则不能进行多 组分或多元素分析，费时费力；伏安法操作方便， 但精密度偏低，干扰影响大；而电感耦合等离子 体原子发射光谱法（ICP-OES）具有灵敏度高、 检出限低、干扰少、线性范围宽等优点，已被广 泛应用于冶金、环境、食品、农业等各行业。 本文采用ICP-5000测定印染废水中铜、镉 和钴等10种金属元素，结果满足相关分析检测 需求。

中药中重金属对于人体危害较大，2010年 版《中国药典》中新增了一些现代分析技术对 于相关药品的检测标准。明确指出采用ICP-MS 测定中药品中Hg、As、Pb、Cr、Cd、Ni、Sb、 Cr、Sn、Cu的含量。加大了原子吸收光谱法在 无机离子的含量测定方面的应用。本文采用微 波消解法对中药黄芪样品进行前处理，利用 ICP-OES测定其中的Pb、Hg、As、Cd、Ni、 Sb、Sn、Cr、Cu元素含量，该方法具有操作 简便、安全、成本低、准确度高、精密度好等 特点。

水果含有多种有害的金属元素，这些金属元 素如铅、镉及砷等元素对人体健康造成严重危 害。传统的检测方法如光度法和原子吸收法等， 常具有操作繁琐、测定周期长、不能同时分析多 种元素等特点。 电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-O ES）具有检出限低，精密度高、线性范围宽、 基体干扰小等特点，已被广泛应用于食品，冶金、 环境等行业。本文采用自主研发的ICP-5000 全 谱直读原子发射光谱仪检测水果中重金属元素， 检测结果满足国家标准相关要求。

电感耦合等离子体原子发射光谱法 （ICP-OES）是20 世纪80 年代发展起来的新 的无机元素分析测试技术，它具有高效率、高准 确度、低检出限、抗干扰能力强、操作简便、分 析过程简单，可同时进行多元素快速分析等特 性。目前已广泛应用于生物、食品、药材、环境、 材料科学等各个领域。

猪肉中无机元素作为主要化学成分，是人们 评价的一项重要指标。传统猪肌肉元素检测方法 有原子吸收法、原子荧光法等，但这些方法均无 法实现多种元素同时定量检测。电感耦合等离子 体原子发射光谱法（ICP-OES）具有高效率、 高准确度、低检出限、抗干扰能力强、操作简便、 分析过程简单，可同时进行多元素快速分析等特 性。目前已广泛应用于生物、食品、药材、环境、 材料科学等各个领域。

大米中含有多种元素，含量较高的元素有 Ca、Mg、S、P等，此外，还含有较少的微量元 素，如Fe、Mn、Cu、Zn、Sr、Co、Cr等，这 些元素不能在人体内合成。因此，测定大米中金 属元素的含量具有重大的现实意义。本文采用 ICP-5000测定大米粉中多种金属元素，测定结 果满足国家标准相关要求。

常用检测方法如原子吸收法和原子荧光法，具有操作繁 琐、分析周期长等特点。此外，油包中脂肪含量 较高且基体组分复杂，若采用湿法消解法消解需 要大量的酸，从而对实验环境和分析结果产生较 大影响。 本文采用微波消解法对方便面油包进行消 解，采用离子交换技术对Pb 和Cu 进行预浓缩 富集，氢化物发生装置实现As 和Hg 的分离富 集，通过ICP-5000 全谱直读原子发射光谱仪实 现Pb、Cu、As 和Hg 的分析检测。结果满足国 标GB 2762-2012 的相关要求。

针对目前重金属检测的难点和需求，聚光科技推出的icp-5000+AFS系列产品组成的黄金搭档，能够满足用户的高效、快捷、简便、全面的需求。ICP-OES产品丰富的谱线库具有5万多条谱线可供您选择，多元素同步测量能力可同时分析72个元素。仪器包含优化设计的中阶梯光栅二维分光系统、颠覆性的自激式全固态RF电源、定制的百万像素防溢出CCD和全自动谱图采集系统、全面精确的氩气控制逻辑以及绝无仅有的复杂光室温控系统，使得ICP-5000具有高分辨率、大动态范围、高稳定性、低检出限等优异的特点，分析检出限、精密度、稳定性达到国际先进水平。

锰矿石中元素含量决定了其品位、经济价值和用途，如用于冶炼锰铁的矿石按照锰、二氧化硅、铁、磷等含量分为I-A、I-B、II、III四个等级。因此，测定锰矿石中无机元素含量具有重要意义。目前，测量锰矿石中无机元素的主要方法包括化学分析法、原子吸收光谱法（AAS）、X射线荧光光谱法（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）等方法。其中ICP-OES因具有检出限低、多元素同时检测、分析效率高等优点已成为锰矿石中无机元素分析的标准方法（GB 24197-2009和SN/T 2638.2-2010）。 国标方法GB 24197-2009中采用碱熔法溶解锰矿石样品，SN/T 2638.2-2010中采用湿法消解溶解锰矿石样品。由于碱熔法会引入大量的盐，不利于微量元素的检测，因此，本文中选择微波消解法消解样品，随后用ICP-5000测定消解液中铝、钡、钙、铜、铁、镁、锰、镍、磷、钛、锌等11种元素的含量。

碳钢也叫碳素钢，主要指碳元素的含量小于 2.11%的铁碳合金。碳素钢中的残余元素和杂质 元素如锰、硅、镍、磷、硫、氧、氮等，对碳素 钢的性能有影响。电感耦合等离子体发射光谱法 可实现多元素的分析检测，具有分析速度快，动 态范围大、精密度及抗干扰能力好等特点。 本文采用ICP-5000 基体匹配法同时测定碳 钢样品中微量的铬、锰、镍、磷和硅。结果令人 满意，表明该法可用于实际碳钢样品分析检测。