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核心参数
按探测器： CMOS
产地类别： 国产
光谱范围： 190-1070mm
分辨率： 16bit
信噪比： 600:1
400-860-5168转6267
其它参数
产品详情：
光纤光谱仪器是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的技术。光谱测量被广泛应用于多种领域，如透射率和反射率测量、吸光度和浓度测量、颜色测量、化学成份的浓度测量或辐射度学分析、膜厚测量、气体成分分析、蛋白质、生物研究等领域。
产品优势：
1. 紫外增强的光谱测量范围190-1070nm
2. 专用的测量紫外、可见、近红外和红外波段的光谱仪
3. 高品质光谱分辨率，波长分辨率和重复性0.4nm
4. 可同时完成光谱波长与强度分布测量，吸光度测量，色品坐标和颜色测量
5. 精巧的外观设计，设计均采用通用标准接口
6. 丰富的可选配件，光源、光纤、CCD探头
7. 无需外接电源，USB直接供电，工作稳定
软件优势：
1. 采用USB接口，全面支持Win10系统
2. 软件自动识别、连接功能，通讯方便，能同时连接多台光谱仪器
3. 集成多种光谱分析模块（光谱波长、强度分布测量、吸光度测量、色品坐标、颜色测量等）
4. 提供多种样品光谱（标准光源光谱/太阳光光谱/氘灯光谱/汞灯光谱/各类LED光谱/高低色温节能灯光谱；各种玻璃片的吸光度光谱）
5. 方便快捷的数据处理功能（将光谱数据与图像导入到Excel、TXT文件中，同时可保存为*.pdf *.bmp等文件）
6. 便捷的智能曝光时间功能
7. 具有光谱录像功能
技术参数：
特性 | SSC-4000光纤光谱仪 | SSC-5000光纤光谱仪 |
有效波长范围 | 190-1070nm | 190-1070nm |
应用 | 紫外、可见、红外测量 | 紫外、可见、红外测量 |
波长分辨率 | 0.2nm | 0.4nm |
波长重复误差 | < 0.2nm | < 0.4nm |
探测器(CCD) | CMOS线性传感器，紫外增强 | CMOS线性传感器，紫外增强 |
像素总数 | 4096 | 2048 |
A/D分辨率 | 16bit | 16bit |
狭缝宽度 | 30μm | 30μm |
光栅 | 600线@250nm | 600线@250nm |
信噪比 | 600:1 | 1200:1 |
外观 | 5V，-10~60℃（25℃）,115mm×80mm×40mm,500g | 5V，-10~60℃（25℃）,115mm×80mm×40mm,500g |
实物图：
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