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核心参数
测量原理： 震动样品磁强计
磁体类型： 电磁铁性
产地类别： 进口
Semiconsoft-薄膜厚度测量系统-MProbe Vis
产品型号：MProbe Vis
产品介绍：MProbe Vis薄膜测量系统是紧凑且多功能的台式系统。它可以测量不同基板上10nm – 150μm厚度范围的半透明薄膜。而且，它经济且易于使用。MProbe Vis（X） 的生产版本设计用于承受振动并使用 LAN 连接 24/7 全天运行。它可用于在线和OEM应用。它与洁净室环境兼容。MProbe20 VisX系统是MProbe20 Vis系统的一个版本，在更长的波长（>700nm）下具有更高的灵敏度。
性能特点：
经济且易于使用
参数：
产地：美国
波长范围（可用）：400-1000nm（典型校准范围：380-1050nm）和VisX的450nm -1050nm
波长分辨率：< 1nm，20μm狭缝（整个光谱均匀）
厚度范围 ： 10nm – 150 μm
精度/重复性：<0.01nm 或 0.02%
精度：<1nm或0.2%
测量光斑尺寸：< 1mm（标准）
最小数据采集时间：10 μs
光源：5W TH灯，使用寿命10000小时（可选：20W TH灯，使用寿命2000小时）
通信接口：USB和1Gb LAN
Semiconsoft磁学测量系统MProbe Vis的工作原理介绍
磁学测量系统MProbe Vis的使用方法?
SemiconsoftMProbe Vis多少钱一台?
磁学测量系统MProbe Vis可以检测什么？
磁学测量系统MProbe Vis使用的注意事项？
SemiconsoftMProbe Vis的说明书有吗？
Semiconsoft磁学测量系统MProbe Vis的操作规程有吗？
Semiconsoft磁学测量系统MProbe Vis报价含票含运吗？
SemiconsoftMProbe Vis有现货吗？
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利用MProbe Vis系统进行光刻胶厚度测量
使用MProbe-Vis系统可以轻松测量光刻胶厚度。实际上，任何光刻胶都可以快速可靠地测量：烧结或部分烧结，薄的或厚的。尽管如此，第一次测量可能会令人困惑——光致抗蚀剂的类型和处理条件多种多样。本应用说明试图通过烧结和两个部分烧结的光致抗蚀剂样品来阐明测量过程。使用500nm-1000nm波长范围进行光致抗蚀剂测量，以最小化吸收的影响。
半导体
2024/04/18
企业名称
天津瑞利光电科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司
信用代码
91120118MA05MALTXU
成立日期
2016-12-27
注册资本
伍佰捌拾万元人民币
经营范围
光电技术开发、技术咨询、技术转让、技术服务;光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备、电子设备、智能设备、通讯设备、仪器仪表、实验室设备、五金交电、电线电缆、环保设备、汽车配件、工艺品、办公用品的销售;自营和代理货物及技术的进出口业务;光电设备安装、调试及检修(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
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