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奥影科普 | 探测器像素分辨率能力测试：双丝像质计
在此前介绍空间分辨率的文章中我们曾科普过，影响空间分辨率的主要因素有：射线源焦点尺寸、探测器孔径（探元像素）尺寸、工业CT设备平台的几何放大倍数、重建算法等。射线源焦点尺寸通常使用JIMA 卡检测，而探测器的像素分辨能力检测测试，则需要使用另一个工具——双丝像质计。
分辨率（力）指标通常是以单位长度上可分辨两个相邻细节间最小距离来测定。它受几何不清晰度和固有不清晰度的综合影响。几何不清晰度与焦点尺寸和放大倍数密切相关，当焦点尺寸较小且放大倍数适当时，图像中的细节能够更为清晰地呈现。而固有不清晰度则主要由探测器的像素尺寸决定，像素尺寸越小，探测器捕捉到的图像细节就越多，图像的分辨率也相应的越高。
一、什么是双丝像质计
二、双丝像质计的使用方法
在使用双丝像质计时，应将其置于被检物体的源侧，并尽可能地靠近射线束轴线，以确保测量结果的准确性。其金属丝与数字图像的行或列倾斜角度应为2°到5°。
使用双丝像质计评估数字图像的质量，通过调整系统到较优图像成像状态，扫描获得DR图像，包括调整系统的放大倍数和射线源的焦点尺寸到适合的状态（保证穿透工件的同时，确保图像曝光充足），通过对DR图像来评判细丝之间的干涉条纹不再清晰可见，从而确定分辨率。
实际检测区分丝对能否清晰，一般不是用肉眼直接再图像上判定，而是利用数字射线设备自带的符合标准的软件进行测量。测量得到的首对双峰调制度值小于20%的丝对，其丝对尺寸则代表了探测器在一定放大倍数下数字图像中可分辨的最小几何尺寸。例如下图这个案例中D12双丝线对直径即为该图像的分辨力值。
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