您好,欢迎访问仪器信息网
注册
安徽核芯电子科技有限公司

关注

已关注

已认证

粉丝量 0

当前位置: 核芯电子 > 解决方案 > 正电子湮没技术在金属及合金材料中研究中的应用

正电子湮没技术在金属及合金材料中研究中的应用

2024/08/19 11:57

阅读:11

分享:
应用领域:
材料
发布时间:
2024/08/19
检测样品:
合金
检测项目:
金属/合金缺陷、空位、辐照、疲劳、无损等
浏览次数:
11
下载次数:
参考标准:

方案摘要:

通过正电子湮没谱学能实现对金属、合金的一系列如缺陷,空位,辐照效应,疲劳,氢脆的无损研究

产品配置单:

分析仪器

数字化正电子湮没符合多普勒展宽谱仪

型号: DCDB3000

产地: 安徽

品牌: 核芯

面议

参考报价

联系电话

方案详情:

        正电子湮没技术广泛地应用于金属及合金空位形成能的测定;研究形变以及退火过程对材料缺陷结构的影响;研究辐照效应、疲 劳、蠕变、无损检验,钢的氢脆、马氏体相变、非晶态金属及合金的相转变以及合金中G.P.区的形成、沉淀过程等。


空位形成能:

        用正电子湮没(PAT)方法已成功地测量了大量金属的空位形成能,测量精度一般可达±0.05eV,测量结果与用其它方法测量的结果符合得较好,不过有些金属例如碱金属中的空位不能捕获正电子,这时就不能用正电子湮没来测量。


形变:

        范性形变所造成的缺陷,除间隙原子外,空位、位错和微空洞等都有可能捕获正电子而对湮没特性产生影响,形变样品中的缺陷可在退火过程中消除,由于各种缺陷消除的情况不一样,因此在不同温度下退火,并观察正电子湮没参数变化的规律,可分析出微观缺陷运动的情况,推断形变刚完成时材料中缺陷的结构,另外,比较包含不同组分和杂质的材料在相同工艺处理和退火条件下

正电子湮没参数的变化:可进一步了解杂质或某种组分在缺陷运动过程中所起的作用,因此用 正电子湮没研究形变是人们较早就注意到的课题,迄今这方面已有大量工作。通过对完全退火的铁进行冷轧形变,引入形变缺陷的同时,也造成了晶界的破碎。正电子湮没谱学结果显示,形变引 入的空位型缺陷在湮没回复过程中会迁移聚集形成空位 团簇,大部分的空位型缺陷在673 K处回复完毕,723 K后,位错型缺陷开始回复。正电子湮没谱学对形变后缺陷的研究,目前已从纯金属发展到了含有杂质的金属以及低合金。


辐照效应:

        研究中子、离子、电子、激光等的辐照效应是材料科学中十分重要的课题,P正电子湮没谱学特别适合于研究辐照效应,主要因为它有三个特点:

1.正电子对于空位及空位团和微空洞特别敏感,而这种类型缺陷的大量存在正是辐照损伤的特征之一;

2.根据理论计算以及实验的经验估计,目前利用 PAT 测量数据已能粗略估计空位团的大小和相对密度,PAT揭示原子尺度微观缺陷结构的能力是一般其它技术所不及的;

3.PAT 适合于作现场研究,能在从低温到高温的很宽的温度范围内测量,因此,在研究缺陷产生、运动和消失的动力学过程中有很大的潜力。

对中子辐照铁的PAT研究结果表明,在约190K时明显的增大表明微空洞开始形成,从而打破了人们认为铁中单空位在约600K运动的解释。对电子(28MeV)辐照后a-铁PAT研究也表明,单空位的迁移开始于270K处,双空位的迁移约在400K处,这一结果也与人们一般认识矛盾,由此可见,PAT在辐照效应研究中必将大有用武之地。


疲劳:

        在对钢的研究中,在疲劳初期,正电子平均寿命很快增大,这说明材料内部微观缺陷很快增多,只需达到疲劳寿命的约10%,正电子平均寿命就达到了饱和,这时全部正电子都是在缺陷中湮没的,缺陷再继续增多,对正电子平均寿命已不影响,而用X射线测量则要到疲劳寿命的一半才饱和,这说明PAT 监测疲劳初期的变化比X射线方法更为灵敏。


氢脆:

        早期对钢充氢后进行正电子研究的结果表明,充氢时间越长,则氢致缺陷愈多,引起正电子寿命谱中长寿命成分的强度增大四和角关联曲线变窄,用PAT研究形变过的镍的充氢过程得到了如下的认识:对镍充氢能产生缺陷,可能主要是位错,这种位错能引起正电子湮没、多普勒增宽曲线变窄(S参数变大),预先存在的缺陷如晶粒边界、夹杂物与母体材料边界能捕获质子而成为分子氢压中心,由此可能产生新的缺陷,如位错等,这就是氢致缺陷效应。


下载本篇解决方案:

资料文件名:
资料大小
下载
正电子湮没技术在金属及合金材料研究中的应用_何元金.pdf
525KB
相关仪器

更多

离子阱实验教学仪

型号:离子阱实验教学仪

面议

相对论效应实验仪

型号:相对论效应实验仪

面议

卢瑟福散射实验仪

型号:卢瑟福散射实验仪

面议

相关方案

台阶仪在三维形貌表征领域的应用

Stylus-based surface profiling is a standard technique for accurate, repeatable surface shape, topography and step height measurement in applications ranging from semiconductor R&D to solar cell QC.

2008/12/15

YSI防玷污的10个技巧

YSI 防玷污的10点技巧 随着电子技术的进步、电源管理的改进和电池寿命的延长,生物玷污成为目前决定监测仪器投放周期长度的决定因素,特别是应用于长期、连续监测。应用一些防玷污技术可以延长仪器的维护间隔,能够减少野外的仪器维护的次数,并提高水质监测数据精度。 防玷污技巧的详细内容请参考文章《YSI 防玷污的10点技巧》

环保

2014/03/04

城市污水中TOC与COD的关系

TOC与COD的测定方法不同。测定COD是采用强氧化剂和加热回流的方法,只能将水中的有机物部分氧化(氧化率较低),并且测定时间较长,即使目前一些快速的

环保

2017/11/16

连华科技 医疗污水检测方案

医疗污水包含了多种细菌、重金属、有机溶剂及酸碱溶液等生化有毒有害物质。如上述物质直接排放,将会对自然生态及人类生活环境造成危害。我国对医疗污水有清晰的排放标准。连华科技对于《医疗机构水污染物排放标准GB18466-2005》中所涉及的参数,多款便携及实验室仪器及耗材可满足检测需求

环保

2020/02/14

安徽核芯电子科技有限公司

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 安徽核芯电子科技有限公司

公司地址: 安徽省合肥市高新区华佗巷469号品恩科技园B座303室 联系人: 郑炳根 邮编: 230022

友情链接:

仪器信息网APP

展位手机站