绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A

绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A工作频率范围 100Hz～100kHz（6个频点）精度：±0.05% 20Hz～1MHz数字合成，精度：±0.02%电容测量范围 0.0001pF～99999μF四位数显 0.00001pF～9.99999F六位数显电容测量基本误差 ±0.05% ±0.05%损耗因素D值范围 0.0001～9.9999四位数显 0.00001～9.99999

绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A离子气流量 (L/min) 0.1-1  

保护气流量 (L/min) 1-10  外形尺寸 (cm) 46*54*72  脉冲频率 (Hz) 2-50  脉冲占空比 五档可调  起弧电流 (A) 1-50  

收弧电流 (A) 1-50  电流上坡时间 (s) 0.5-5  电流下降时间 (s) 0.5-5  滞气时间 (s) 2-8  

绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A

波长准确度： ±2nm(200nm-900nm) 波长再现性： ＜0.2nm波长分辨率： 0.1nm 光谱宽带： 4nm光度测量范围： 3.0Abs(200-900nm) 光度测量准确度： ±0.5%T光度重复性： 0.2%T 杂散光： ＜0.05%T

光度漂移： ±0.002A/h 样品池兼容性： （10nm,20nm,30nm比色皿）曲线数量： 218条(160条标准曲线，58条拟合曲线) 数据存储： 4500个显示方式： 5.6寸彩色液晶触摸屏 操作界面： 中文显示

绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985

可测试材料

　　绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A技术指标

1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023；b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 10kHz～10MHz固有误差 ≤5％±满度值的2%工作误差 ≤7％±满度值的2%频率范围 10MHz～70MHz固有误差 ≤6％±满度值的2%工作误差 ≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：1nH～8.4H3．电容测量：直接测量范围 1～520p主电容调节范围 30～550pF准确度 100pF以下±1pF；100pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。4．信号源频率覆盖范围：频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHzCH2 100～999.999kHzCH3 1～9.99999MHzCH4 10～70MHz频率指示误差 3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～10006．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．消耗功率：约25W；8、选配液体杯，可做液体材料的检测。