四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。

（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V  50Hz，为实验室环境使用）

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C适用范围

四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求

电阻测量范围： 
1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

电   阻：1×10-5～2×105Ω

电导率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  最小1μΩ 
测量误差±5%
2、测量电压量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   测量精度±（0.1%读数）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。
   ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶误差：±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸：330mm*350mm*110mm

5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ

7、标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品