GB/T 4937.4-2012半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)

2023-08-30 11:05

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资料摘要：

1 范围 GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。 2 强加速稳态湿热试验(HAST)—一般说明强加速稳态湿热试验通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。此试验应力产生的失效机理通常与“85/85”稳态温湿度偏置寿命试验(见IEC 60749-5)相同。试验方法可以从85℃/85% RH稳态寿命试验或本试验方法中选择。在执行两种试验方法时，85℃/85% RH稳态寿命试验的结果优先于强加速稳态湿热试验(HAST)。本试验方法应被视为破坏性试验。 3试验设备试验需要一台能连续保持规定的温度和相对湿度的压力容器，同时提供电连接，试验时给器件施加规定的偏置条件。

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