利用光焱新型光电感测器特性分析仪 PD-QE 测定光电探测器的NEP参数

光电探测器的NEP(噪声等效功率)是评估探测器性能的关键参数之一。它衡量探测器在检测光信号时的灵敏度，即能够识别的最微弱光信号强度。NEP值越低，代表探测器对微弱光信号的检测能力越强。

NEP的计算基于两个主要因素：探测器内部的噪声和探测器对光信号的响应能力。当光信号与内部噪声功率相等时，其对应的光信号功率即为NEP。NEP越小，表示这个探测器可以检测越微弱的光信号,性能越好。我们希望探测器能检测很弱的光信号,所以希望它的NEP值越低越好。

这项参数在多个领域中扮演关键角色。在天文学中,NEP值低的探测器有助于观测微弱的天文光源，帮助科学家更深入地了解宇宙。在通信领域，NEP值低的探测器可提高光纤通信的效率和可靠性,使数据传输更稳定。在医学成像中，NEP低的探测器能够捕捉极微弱的生物光信号，支持精确的影像诊断。

科学家和工程师经常将NEP视为探测器设计和优化的关键参考。他们通过改善探测器的结构和材料,以降低内部噪声并提高探测器的反应速度，从而增强其对微弱光信号的检测能力。

NEP的优化还能扩展探测器的动态范围，这表示探测器能够处理的最大和最小信号差异更大。因此,NEP的改善不仅提高了探测器对微弱信号的检测，也拓展了其在不同信号水平下的应用范围。

由此可知NEP是评估光电探测器性能的一个关键指标。但传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。这些系统难以进行杂讯频率分析、无法直接测得NEP与D*等杂讯、灵敏性重要参数，更遑论从中分析相关参数，很难有效优化设计以提高探测器性能。

许多研究人员尝试自主开发光电探测器测试平台，希望能分析关键参数以优化设计。但现实状况是，光电探测器量测分析与研发制造两种不同专业领域，常因自行搭建人员或学生非本科专业研究领域，分散团队研究能量，投入大量时间与精力搭建自组设备后，却发现「重复性不高」、「底噪难以降低」、「光源控制技术难度过高」、「与零组件供应商沟通成本过高」、「除错检测故障维修」等不可控状况。这不仅耗费了时间与人力，也很难达到预期效益。

此时，采用成熟的测试解决方案可以避免此困境，它能充分发挥光电专业知识的价值，帮助团队分析关键参数、优化设计，使大家专注于最重要的研发上，避免被技术问题牵绊，让科研之路更加顺遂。有鉴于此，光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 性能分析提供了完整解决方案「PD-QE」。 Enlitech凭借先进数位讯号采集与处理技术，除可精准量测标准EQE与检测IV曲线外，更简便快速的提供各种研发所需分析功能，您无需在额外购买或整合频谱分析仪，就可直接分析各种探测器在不同频率下的杂讯电流图、D、NEP、频率杂讯图！并且搭配专属软体还可以进行多种频段的特性分析，如Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise等，目前在光电探测器量测与分析所需要的进阶数据方面，是Enlitech的PD量子效率量测设备特有提供的全面和完整的量测分析解决方案。 让你专注于研究本身，在本科领域中获得各项研究进展。