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半导体分立器件静态参数测试系统

产地: 陕西
型号: KEW3500(柜机)
报价: 面议
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核心参数

产地类别: 国产

产品介绍

       KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统,可测试IGBT参数包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流参数,所有小电流指标保证1%重复测试精度,大电流指标保证2%以内重复测试精度。阳极可扩展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。

      针对目前封装的多单元IGBT特征,根据用户需要提供4/8/20单元扫描测试适配器,从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试。

售后服务
保修期: 1年
是否可延长保修期:
现场技术咨询:
免费培训: 不限人次技术培训
免费仪器保养: 3月1次
保内维修承诺: 免费维修更换零件
报修承诺: 48小时内到达现场并进行维修
工商信息

企业名称

陕西开尔文测控技术有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

91610000054790554Q

成立日期

2012-10-22

注册资本

1000

经营范围

致力于新型器件(SiC, GaN,石墨烯等)材料分析、元器件检测、可靠性评测、系统功能验证等服务。目前,测试系统及测试技术服务以深入国内大专院校、航天、航空、兵器、中船、电子行业等,尤其是电力设备、电动汽车、轨道交通领域的动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造等行业,得到了广泛的应用,以产品性价比高、可测器件种类多且参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、故障率低、软件丰富、操作使用方便、售后服务及时周到。同时还承担着同类进口产品的售后维修服务。

联系方式
陕西开尔文测控技术有限公司为您提供开尔文测控半导体分立器件静态参数测试系统KEW3500(柜机),开尔文测控KEW3500(柜机)产地为陕西,属于国产半导体器件测试仪器,除了半导体分立器件静态参数测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多半导体器件测试仪器,开尔文测控客服电话,售前、售后均可联系。

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公司地址: 西安市高新区新型工业园发展大道26号7号楼1层 联系人: 杜浩晨 邮编: 710119

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