X射线荧光光谱仪技术原理及优势

　　X射线荧光光谱仪简称XRF，是一种具有快速、无损、多元素同时分析、操作简单、使用成本较低的检测仪器，在冶金、水泥、矿石、石油、化工、医疗、土壤、塑料、RoHS、首饰、镀层等多个领域和行业发挥着重要作用。下面和一六仪器一起了解X射线荧光光普仪技术原理及优势。

　　X射线荧光光谱仪由X射线发生器、探测器、辅助控制系统、工控电脑及其内置的专用算法软件系统组成。

　　在高压电源产生高电压的情况下，X射线管内的高速电子流激发到金属靶材上产生初级X射线，通过准直和滤光后激发到样品表面，样品内的原子核外电子产生跃迁，跃迁的能量即为二次X射线，又称特征谱线。每种元素的特征谱线的波长和能量均不相同，在经过特定的光电探测器检测后，转换为不同高度的脉冲信号，这些信号经过特殊的信号处理之后，就可以得到计算机软件能识别的光谱谱形，最后经过FP算法处理计算，即可得到成分和镀层厚度的分析结果。

　　X射线荧光光谱仪优势：

　　1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统;

　　2)拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm;

　　3)核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度);

　　4)配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测;

　　5)可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl(17)- 铀U(92)，涂镀层分析范围：锂Li(3)- 铀U(92)，涂镀层最低检出限：0.005μm;

　　6)人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作;

　　7)配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度10%;

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