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膜厚测量仪把控产品质量细节
台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。那么它是如何把控产品质量细节的?接下来和一六仪器仪器了解膜厚测量仪把控产品质量细节注意事项。
膜厚测试仪测量时需要注意的事项:
1、首先大家在用测量仪进行测试使用时，要选用与试件相似的金属磁性标准片来进行测量，不要选择差别或者区分过大的标准片来试验测量，不然会导致很大的测量误差。
2、其次用户需要把测量仪的侧头与试样表面保持垂直，不要出现任何的倾斜，否则不利于测量工作的顺利展开，会让测量任务半途而废的，变得毫无意义。
3、我们要把膜厚测星仪放置在没有磁性干扰的场所来进行测试，否则会对仪器的测量性能造成影响，使得测星仪器不能够发挥出应有的测量水平来。
4、用户在进行测量仪的测量过程中，需要保持压力的恒定，不然很容易影响到测星的读数，会给大家带来不利的影响，让大家不能记录到正确化的读数结果。
5、测量仪在使用时要让仪器测头和被测试件有直接性接触，如果两种之间有杂质存在的话，需要先进行清理方可再展开测星工作。
6、大家在使用膜厚测量仪进行测试的时候，不要在内转角处和靠近试件边缘处进行测量，这样会造成测量结果的误差，会给我们带来不便性的。让测量出来的数据是没有任何参考价值意义的。
以上就是一六仪器整理分享的关于膜厚测量仪把控产品质量细节注意事项。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。
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