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测厚仪分类及优缺点
金属镀层的膜厚测试的方法主要有金相法、涡电流法、电磁式、库伦法以及咱们的EDXRF。下面和一六仪器了解一下测厚仪分类及优缺点。
涡电流、电磁式、库伦法也被称为便携式测厚仪;
优点：价格便宜
缺点：局限性大、能测试产品范围极小，小样品、10um以内膜厚测试误差较大，部分需要破坏
金相法;
优点：镀层膜厚数值参考价值高，准确值相对较高
缺点：前期准备时间长、破坏性测试、设备价格高，效率较低
X荧光测厚仪(EDXRF);
优点：非接触式无损检测、测试时间短、效率高、产品大小无要求，厚度范围最低检出限达0.005um
缺点：膜厚测试厚度上限受能量大小限制，超过一定膜厚测试无法检测、价格稍微高
江苏一六仪器有限公司是一家以聚焦核心科技、打造民族精品为使命，研发和制造分析仪器的新技术企业。公司现有专用高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体全能X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器，可广泛的应用于新能源、半导体、精密电子、环保rohs、地质地矿、电子元器件、贵金属行业、五金卫浴、5G通讯、电镀产业、航空航天等行业领域。
以上就是一六仪器整理分享的关于测厚仪分类及优缺点，希望可以帮助大家了解仪器。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。
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