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X荧光测厚仪测试要求及性能指标
能量色散X射线荧光光谱仪广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。 光谱分析仪可以说是检测仪器中的“超能先生”，在生物、能源环境、食品安全等领域都能看到它的身影。
X光金属镀层测厚仪标准配置为：
X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，膜厚测试仪，信号检测电子电路。
X荧光测厚仪测试要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
5 Max功率 ：330W
6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm (长x宽x高)
7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm (长x宽x高)
8 仪器重量 ：55kg
9 分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析
10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
11 X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管
X荧光测厚仪性能指标：
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶;任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：CI～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
以上就是一六仪器整理分享的关于X荧光测厚仪测试要求及性能指标。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。想了解更多相关产品，欢迎持续关注。
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