X射线荧光镀层膜厚仪会对被检测物造成伤害吗？

　　镀层膜厚仪在企业生产中中应用广泛，市面上也有很多不同的镀层膜厚仪，镀层膜厚的检测方法也非常多。但是有些镀层膜厚的检测方法对于检测物会造成一定的伤害。那市面上几种常见的膜厚测试方法是如何进行检测的呢?今天X射线荧光镀层膜厚仪生产厂家就来跟大家介绍一下吧。

　　一、破坏性方法：

　　1. 金相显微镜法 (特点：破坏性测试、耗时长、价格贵)

　　利用显微镜光学原理，对物体进行放大，可以观察到物体表面或断面的金相显微结构

　　2. 库伦法 (特点：破坏性测试，耗时长，消耗电解液，测量范围小。测量直径2mm以上)

　　根据库仑定律,以溶解镀层金属消耗的电量、溶解镀层面积、镀层金属的电化当量、密度以及阳极溶解的电流效率计算镀层的局部厚度。

　　二、非破坏性方法：

　　3. 磁性法 (特点：便携式，精度差，应用范围窄。测量直径2mm以上)

　　利用磁通量随涂膜的非磁性层在磁体和底材之间厚度的变化而变化的原理来测定磁性金属(铁基)底材上的涂膜厚度。

　　4. 电涡流法 (特点：便携式，精度差，应用范围窄。测量直径2mm以上)

　　利用感应涡流随仪器探头线圈与基础金属间涂膜厚度的大小变化来测定非磁性金属(非铁基)底材上非导电涂层膜厚。

　　5. X射线法(特点：精确，测量镀层范围广，能解决细微面积及超薄镀层的测量。不但能快捷广泛测量膜厚，还能分析成分)

　　X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。

　　看完今天的文章，你是不是对X荧光镀层膜厚仪有了更深入的了解呢?以上就是X射线荧光镀层膜厚仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于X射线荧光镀层膜厚仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。