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涂镀层领域常见测试方法有哪些呢？
在很多领域都会用到涂镀层测厚的仪器，很多仪器都可以进行涂镀层测厚，但是他们应用的涂镀层测厚的测试方法是不同的，有的在测试的时候会有一定的破坏性，有的是无损测试，那常见的测试方法有哪些呢?跟着X射线荧光光谱仪厂家一六仪器来了解一下吧。
1. 金相显微镜法：利用显微镜光学原理，对物体进行放大，可以观察到物体表面或断面的金相显微结构
2. 库伦法：根据库仑定律,以溶解镀层金属消耗的电量、溶解镀层面积、镀层金属的电化当量、密度以及阳极溶解的电流效率计算镀层的局部厚度。
3. 磁性法：利用磁通量随涂膜的非磁性层在磁体和底材之间厚度的变化而变化的原理来测定磁性金属(铁基)底材上的涂膜厚度。
4. 电涡流法：利用感应涡流随仪器探头线圈与基础金属间涂膜厚度的大小变化来测定非磁性金属(非铁基)底材上非导电涂层膜厚。
5. X光射线法：X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
以上就是X射线荧光光谱仪厂家一六仪器对于X射线荧光光谱仪的相关介绍，如果你想要了解更多内容，欢迎联系我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务，在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备更佳的表现。
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