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产地类别: 国产
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XAU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。
应用核心EFP算法和微光聚集技术,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)
变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm
自主研发的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可准确测量
先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限
高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器
光路系统:微焦加强型射线管搭配聚集
多准直器自动切换
1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)
2. 成分检出限:1ppm
3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
4. 涂镀层检出限:0.005μm
5. 测量直径小至□0.1*0.3mm(测量面积小至0.03mm2)
标配:测量直径小至0.3mm(测量面积小至0.07mm2)
6. 对焦距离:0-30mm
7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm
9. 仪器重量:45KG
10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm
11. XY轴工作台承重:5KG
广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域。
选择一六仪器的四大理由:
1.一机多用,无损检测(涂镀层检测-环保RoHS-成分分析)
2.测量面积小至0.002mm2
3.可检测凹槽0-30mm的异形件
4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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XAU-4C光谱分析仪推荐书
XAU-4C 是一款一机多用型光谱仪,应用了先进的 EFP 算法和微光聚集技术,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足成分分析。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
738KB
2022/07/09
企业名称
江苏一六仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
320583001150955
成立日期
2017-06-01
注册资本
1000
经营范围
光谱仪、光学仪器、计量器具的研发、生产、销售及技术服务;电子产品、电子元器件的技术开发与销售;计算机软件的开发与销售;货物及技术的进出口业务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
深圳一六仪器有限公司
公司地址
深圳市宝安区沙井区全至科技创新园
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公司名称: 深圳一六仪器有限公司
公司地址: 深圳市宝安区沙井区全至科技创新园 联系人: 徐经理 邮编: 518100 联系电话: 400-860-5168转5094
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