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当前位置： 广皓天 > 解决方案 > 签到刷卡机芯片冷热冲击试验箱试验

签到刷卡机芯片冷热冲击试验箱试验

2024/10/12 10:00

阅读：1

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应用领域：
电子/电气
发布时间：
2024/10/12
检测样品：
电子元器件产品
检测项目：
无
浏览次数：
1次
下载次数：
0次

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参考标准：
/

方案摘要：

本试验方案利用冷热冲击试验箱对签到刷卡机芯片进行可靠性测试。通过设定不同的低温和高温值，进行冷热冲击循环试验，以功能完整性、电信号稳定性、抗热疲劳性能和可靠性为评估指标，详细记录试验数据并进行分析。该试验方案有助于发现芯片在温度快速变化环境下可能存在的问题，为签到刷卡机芯片的质量提升和应用可靠性提供有力支持，确保芯片在实际使用中能够稳定工作。

产品配置单：

前处理设备

温度冷热冲击试验箱

型号： TSD-80F-3F

产地： 广东

品牌： 广皓天

¥6.68万

参考报价

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侧边喷淋防水冲击试验箱

型号： GHT-IPX9K

产地： 广东

品牌： 广皓天

¥8.97万

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蓄冷蓄热室三箱式冷热冲击试验箱

型号： TSE-100F-3PS

产地： 广东

品牌： 广皓天

¥10.5万

参考报价

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方案详情：

一、试验目的


本试验旨在通过冷热冲击试验箱对签到刷卡机芯片进行测试，评估其在温度快速变化环境下的可靠性、稳定性和性能表现，为芯片的质量控制和应用提供依据。


二、试验设备


  1. 冷热冲击试验箱：能够实现快速温度变化，温度范围涵盖芯片预期工作的低温和高温极值。

  2. 签到刷卡机芯片：待测试的芯片样品。

  3. 测试夹具：用于固定芯片并确保其与测试电路的良好连接。

  4. 电源供应器：为芯片提供稳定的电源。

  5. 逻辑分析仪或示波器：用于监测芯片在试验过程中的电信号。

  6. 数据采集系统：记录试验过程中的温度变化和芯片的电信号数据。


三、试验步骤


  1. 试验前准备

    • 将签到刷卡机芯片安装在测试夹具上，并连接好电源和测试仪器。

    • 对冷热冲击试验箱进行预热和校准，确保温度控制精度符合要求。

    • 设置试验箱的初始温度为常温。

  2. 冷冲击试验

    • 迅速将试验箱温度降至低温设定值（如 -[低温数值]℃），转换时间应符合冷热冲击试验的标准要求。

    • 在低温环境下保持一定时间（如 [低温保持时间]），同时使用逻辑分析仪或示波器监测芯片的输出信号，数据采集系统记录信号数据。

  3. 热冲击试验

    • 快速将试验箱温度升至高温设定值（如 +[高温数值]℃），转换时间同样符合标准要求。

    • 在高温环境下保持与低温相同的时间，并持续监测和记录芯片的信号数据。

  4. 冷热冲击循环

    • 重复进行冷冲击和热冲击循环，循环次数根据产品要求确定（如 [循环次数]）。

    • 在每个循环的关键节点，记录芯片的性能参数，如信号频率、幅度、相位等。

  5. 试验后检查

    • 试验结束后，将芯片从试验箱中取出，在常温环境下放置一段时间，使其恢复至正常状态。

    • 对芯片进行外观检查，查看是否有物理损坏、封装开裂等现象。

    • 再次将芯片连接到测试电路上，进行功能测试，检查其是否能正常工作。


四、性能评估指标


  1. 功能完整性：检查芯片在冷热冲击试验后是否能正常完成签到刷卡机的功能，如读取卡片信息、传输数据等。

  2. 电信号稳定性：分析芯片输出电信号的频率、幅度、相位等参数在试验过程中的变化情况，评估其稳定性。

  3. 抗热疲劳性能：观察芯片在多次冷热冲击循环后的物理结构变化，判断其抗热疲劳能力。

  4. 可靠性：通过统计芯片在试验过程中出现的故障次数和类型，评估其可靠性。


五、数据记录与分析


  1. 数据记录

    • 建立详细的数据表格，记录每次冷热冲击循环的温度变化曲线、芯片的电信号数据、功能测试结果以及出现的故障现象。

    • 将数据以电子文档的形式保存，以便后续分析。

  2. 数据分析

    • 绘制电信号参数随冷热冲击循环次数的变化曲线，分析其趋势和规律。

    • 对比不同芯片样品在相同试验条件下的数据，评估芯片个体之间的差异。

    • 根据数据分析结果，判断芯片是否满足设计要求和质量标准。


六、试验安全注意事项


  1. 操作人员应熟悉冷热冲击试验箱和测试仪器的操作方法，严格遵守操作规程。

  2. 在试验过程中，确保试验箱的通风良好，避免因温度变化引起设备故障。

  3. 注意电源安全，防止因电气故障导致的安全事故。

  4. 对试验数据进行严格保密，防止数据泄露。



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