XAFS技术简介

2022-05-30 11:21

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资料摘要：

X射线吸收精细结构（XAFS）是一种发展于同步辐射技术的结构分析方法，通过X射线对物质进行结构探测后得到的一类谱线。主要是指吸收边附近和吸收边之后的吸收系数随能量的变化，从中得到电子和原子结构的信息，是用于描绘局部结构最强有力的工具之一。本文介绍包括XAFS技术特点、发展、主要测量方法等

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X射线吸收精细结构（XAFS）简明概念

X射线可被原子吸收。当入射光子能量hν大于等于原子某个内壳层束缚能E0时，被吸收的入射光子将其能量全部转移给该内壳层的电子；电子受激脱离束缚态，成为光电子，具备动能E动=hν-E0。光电子经过周围原子被散射，产生散射波。散射波在吸收原子附近产生干涉，影响吸收原子处的光电子波函数，导致吸收系数μ随入射光子能量E在共振吸收能量附近的振荡变化，这种变化称为X射线吸收精细结构（X-Ray Absorption Fine Structure,XAFS）本文主要介绍，X射线吸收过程及退激发过程方式及现象。

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