【新闻】启用红外波长为1380 纳米光学指纹传感器

精恩光学

2022/06/08 16:58

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启用红外波长为1380 纳米的光学指纹传感器

2021年六月，慕尼黑--Instrument Systems公司开发了一种模块化高端红外测试解决方案，可满足波长超过1100 纳米的光学显示器下指纹传感器的要求。由于1380 纳米处的红外辐射经过验证可避免老化现象，因此要求的测试设备必须是高端解决方案：高分辨率和校准，用于精确测量辐射量，脉冲测量µs范围和温度控制。

红外辐射非常适合传感器和数据传输。典型应用是消费类电子产品（如飞行时间）、汽车工程（如激光雷达）和指纹传感器中的3D传感。尤其是对于智能手机，显示器下指纹扫描是最广泛使用的技术，可安全且舒适的解锁设备。用于此应用的光输出之前是定位在约940 纳米的波长处。不幸的是，在这种特定波长下，OLED显示器会出现老化现象。解决这一缺点的办法是使用1380 纳米的红外（IR）辐射。对于用户来说，应用程序保持不变，近红外中从较低波长到较高波长的转换需要其他高分辨率和校准过的测试设备，用于精确测量辐射量，脉冲测量µ范围和温度控制。

Instrument Systems公司开发了一种模块化高端红外测试解决方案，以满足波长超过1100纳米的光学显示器下指纹传感器的要求。该系统的核心是CAS 140CT 红外系列的高端光谱辐射计，针对近红外波段（IR1型）的波长测量进行了优化。型号IR1和冷却的InGaAs线传感器涵盖了波长范围从780纳米到1650纳米不等，且具有传感器可下降到-10°C温度的热电冷却功能。这确保了低噪音和优质的长期稳定性。高增益选项使灵敏度范围明显扩大，可包含低功耗应用。波长范围为1300至1440 纳米的高分辨率模型还能够详细研究光学分辨率<1 纳米的窄带辐射源。结合具有高反射PTFE涂层的积分球、经过校准的快速光电二极管和以LED为基础的校准标准，Instrument Systems公司提供了高度灵活的系统解决方案，其校准可追溯至国家标准，如PTB或NIST。