Palas SMPS扫描电迁移率粒径谱仪

先进的纳米颗粒测量系统

Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪是先进的纳米颗粒测量系统，可测量4nm到1200nm的气溶胶粒径分布，不仅能够提供准确可靠的粒径分析和计数功能，而且高达256原始通道能够实现高粒径分辨率。SMPS全系列多组合满足不同浓度、粒径分布范围气溶胶分析需求；桌面式简便操作，易上手；连接方便，可灵活搭载各种预处理装置（如稀释装置等）；开放式数据文件，读取和分析便捷；可实现自检测和校准；超强兼容性和灵活性，可以跟市场主流计数器兼容等。

U-SMPS 2050X/2100X/2200X

Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪（U-SMPS）可提供两种版本，可以确定 4 至 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），从而在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。Palas® U-SMPS 系统包括一个分类器 [ 在 ISO15900 中定义为电迁移率分级器（DEMC），也称为微分迁移率分析仪（DMA）]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如 UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的 UF-CPC 型号可在各种浓度范围内实现优异的单颗粒计数。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为 U-SMPS 的颗粒分布。

U-SMPS 使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短 30 秒之内执行，并且每十进制多达 64 个尺寸通道。在扫描期间，DEMC 分类器中的电压连续变化，以使每个尺寸通道的计数效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估（各种统计和平均值），以及导出功能。U-SMPS 通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口（USB， LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接网络。 Palas®U-SMPS 可配置 DMA，CPC 和其他制造商的气溶胶静电计。 

产品优势

• 粒径分布范围为 4nm 至 1.2μm；

• 连续快速扫描测量原理；

• 高分辨率，最多 128 个尺寸通道 / 十进制；

• 适用于高达 10^8 颗粒 / cm^3 的浓度；

• 跟其他制造商的 DMA 和纳米颗粒计数器通用；

• 图形显示测量结果；

• 7 英寸触摸屏和 GUI 直观操作；

• 内置数据记录仪；

• 支持多种接口和远程访问；

• 低维护；

• 功能可靠；

• 减少您的运营费用

典型应用

• 过滤测试；

• 气溶胶研究；

• 环境与气候研究；

• 吸入实验；

• 室内和工作场所测量

Palas®中国将定期安排针对SMPS扫描电迁移率粒径谱仪、MFP系列滤料测试台、PMFT口罩过滤效率测试台、Promo®气溶胶光谱仪、气溶胶发生器和稀释系统，以及Fidas®和AQ Guard空气颗粒物浓度监测仪、HMT测试系统等解决方案的在线中英文网络研讨会，欢迎您注册参会，尽快时间获悉在线研讨会信息！

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作为气溶胶测量技术的专家，Palas®将其在颗粒和过滤技术领域制定安全标准的长期专业知识带入了中国，将其独特的技术集成在高精度和认证仪器中，可用于生产和表征空气中的颗粒。除此之外，还将开展培训课程和研讨会来传递专业知识。2020年7月，Palas®中国在上海成立运营，以更好地服务于亚洲市场。Palas®不仅将德国品质带入中国，而且还满足您进行安全可靠测试所需的所有相关规范和标准。作为一家通过ISO 9001：2015质量管理体系认证的公司，Palas®的解决方案符合欧洲标准（EN）、美国国家职业安全卫生研究所标准（NIOSH）、以及中国GB2626口罩检测标准。

帕剌斯仪器（上海）有限公司

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