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核心参数
产地类别: 国产
仪器种类: FIB
(电子光学系统)发射源: 7
(电子光学系统)分辨率: 6
(电子光学系统)探针电流: 5
(电子光学系统)视野范围: 4
(离子光学系统)发射源: 4
(离子光学系统)分辨率: 3
(离子光学系统)探针电流: 2
(离子光学系统)视野范围: 1
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聚焦离子束FIB
聚焦离子束系统(FIB):材料微纳结构的样品制备,包括:SEM在线观察下制备TEM样品、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。 聚焦离子束场发射扫描双束电镜(FIB)是国际上纳米结构分析和材料微纳结构制备的先进设备。它配有电子束和Ga离子束,可以实现电子束与离子束的同时在线观测,具有束流稳定、分辨率高、纳米操控精确的特点,可以在纳米尺度的分辨率下对材料进行三维、高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。主要技术指标The main technical indicators: SEM 分辨率Resolution: 1.0nm @ 15kV 1.9nm @ 1kV 放大倍数Mag.:12 ~ 1000,000x 加速电压EHT:0.1 ~ 30kV FIB 分辨率Resolution:2.5nm @ 30kV 放大倍数Mag.:300×~ 500,000× 加速电压EHT:1.0 ~ 30Kv 配置Configuration探测器Detector:Inlens二次电子探测器 E-T 二次电子探测器 ESB背散射电子探测器X射线能谱仪 X-ray spectrometer分辨率Resolution:127 eV @ MnKα探测元素范围Detection range of elements: Be(4) ~ Fm(100)EBSD探测器 EBSD Detector空间分辨率Spatial resolution:50nm主要功能:1. 场发射扫描电镜(SEM):各种材料形貌观察和分析,如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等2. X射线能谱分析仪(EDS):材料微区成分分析;MnKa峰的半高宽优于127eV;CKa峰的版高宽优于56Ev;FKa峰的半高宽优于64eV;元素Be4-U92;3. 3D背散射电子取向成像系统(EBSD):多晶材料的晶体取向和织构分析和3D重构;空间分辨率:优于50nm;探测器灵敏度: 加速电压在3KV时,束流小于50pA能采集到花样;解析速度至大可达600点/s;测试能谱和EBSD 同步采集和一体化功能,选取实际样品进行三维EDS & EBSD测试; 4. 聚焦离子束系统(FIB):材料微纳结构的样品制备,包括:SEM在线观察下制备TEM样品、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。
企业名称
武汉赛斯特精密仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
420102000505809
成立日期
2016-06-17
注册资本
1000
经营范围
仪器仪表及设备、检测仪器、分析仪器、电子工业专用设备、第一类、第二类医疗器械、电力设备、电气设备、实验设备及耗材、新能源电池检测仪器及设备、机电设备、机械设备、办公自动化设备、新能源设备、电脑设备及耗材、办公设备、监控设备、数码产品、电子产品的研发、销售、技术咨询、技术服务及售后服务;建筑材料、五金交电、化工产品(不含化学危险品)的销售;环境工程设计、施工;计算机软硬件系统设计及技术服务;货物或技术进出口(国家禁止或涉及行政审批的货物和技术进出口除外)。(依法须经审批的项目,经相关部门审批后方可开展经营活动)
公司地址
江岸区兴业路136号工业厂房(二期)1栋12层车间1
客服电话
冷凝器、蒸发器脉冲试验台
机油冷却器脉冲试验台
流量阻力试验台
水爆破试验台
插快接头脉冲综合试验机
水压爆破试验机
常温爆破试验台
冷却水板脉冲试验台
油散热器脉冲试验台
隧道接触网零部件破坏荷重试验机
玻镁板抗折试验机
骨骼生物材料扭转试验机
海绵拉伸压陷硬度测试试验机
薄膜拉力试验机及检测设备
石英砂破碎率专用压力试验机
硬质橡胶抗压强度试验机
微机控制全自动航空插件插拔力试验机
全自动接插件插拔力疲劳寿命试验机
石膏砌块断裂荷载试验机
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公司名称: 武汉赛斯特精密仪器有限公司
公司地址: 江岸区兴业路136号工业厂房(二期)1栋12层车间1 联系人: 左经理 邮编: 439000
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