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材料科学领域透射电镜和扫描电镜制样方法与技巧

2020/06/08 17:38

阅读:217

分享:
应用领域:
其他
发布时间:
2020/06/08
检测样品:
检测项目:
透射电镜和扫描电镜制样方法与技巧
浏览次数:
217
下载次数:
参考标准:
圆派科学

方案摘要:

常备制样方法很多,例如:电解双喷、机械减薄、超薄切片、粉碎研磨、聚焦离子束、散焦离子束,各有优缺点,各有局限性,各种方法如何配合使用得到最好的效果?

产品配置单:

前处理设备

Leica EM RES102 多功能离子减薄仪

型号: Leica EM RES102

产地: 德国

品牌: 徕卡

¥20万 - 50万

参考报价

联系电话

分析仪器

Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪

型号: Leica EM TIC 3X

产地: 德国

品牌: 徕卡

¥30万 - 50万

参考报价

联系电话

Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

型号: Prisma & Prisma EX

产地: 美国

品牌:

¥200万 - 250万

参考报价

联系电话

方案详情:

材料科学领域透射电镜和扫描电镜制样方法与技巧



TEM样品制备

样品形状(块材、薄膜、颗粒)、结构性质(紧密的、多空的)、化学性质(有机、无机)、物理性质(软的、硬的、有延展性的)、电学性质(导体、半导体、非导体)各不相同,如何选择合适的制样方法?


常备制样方法很多,例如:电解双喷、机械减薄、超薄切片、粉碎研磨、聚焦离子束、散焦离子束,各有优缺点,各有局限性,各种方法如何配合使用得到最好的效果?


SEM样品制备

EBSD样品离子束抛光

所有的EBSD样品制备方法都必须保证样品表面不能有任何划痕,因为划痕下面就是严重损伤。一个深的划痕意味着在其下面有一个深的变形存在。为了获得高质量的EBSD花样就必须去除这些划痕和其下面的损伤层。


从各种角度,用不同时间和加速电压进行的离子束抛光用于清洗增加衬度,比起费时费力的湿化学刻蚀方法是更为可取的。


三离子束制备截面样品

优点:

· 无污染

· 高质量平整切割截面

· 形变或损伤的可能性最低

· 直接用于SEM微区分析


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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪

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¥20万 - 50万

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型号:Leica EM TIC 3X

¥30万 - 50万

热机械分析仪 TMA 402 F1/F3 Hyperion®

型号:TMA 402 F1/F3 Hyperion®

¥200万 - 300万

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