关注
已关注
已认证
粉丝量 0
用徕卡EM TIC3X三离子束切割仪解剖手机触摸屏玻璃
2020/05/07 13:28
阅读：251
分享：
方案摘要：
产品配置单：
Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪
型号： Leica EM TIC 3X
产地： 德国
品牌： 徕卡
¥30万 - 50万
参考报价
联系电话
徕卡视频显微镜DVM6
型号： 徕卡视频显微镜DVM6
产地： 德国
品牌：
¥30万 - 50万
参考报价
联系电话
徕卡视频显微镜DVM6
型号： DVM6
产地： 德国
品牌：
¥25万 - 50万
参考报价
联系电话
Leica DM4 M & DM6 M 正置材料显微镜
型号： Leica DM4 M & DM6 M
产地： 德国
品牌：
¥25万 - 50万
参考报价
联系电话
Leica DM 2700M 高级LED照明正置材料显微镜
型号： Leica DM 2700M
产地： 德国
品牌： 徕卡
面议
参考报价
联系电话
方案详情：
.jpg)
用徕卡EM TIC3X三离子束切割仪解剖手机触摸屏玻璃，看到截面多层膜结构
样品：手机触摸屏玻璃
.jpg)
实验步骤：
预处理：玻璃刀切割掰断
EM TIC 3X三离子束切割仪参数：
加速电压：7.5kV
离子束流：2.8mA
研磨时间：3h
切割深度：50μm左右
样品制备人员：徕卡纳米技术部
应用专家 程路
.jpg)
手机触摸屏玻璃截面：放大倍率6,000
.jpg)
手机触摸屏玻璃截面：放大倍率50,000
.jpg)
手机触摸屏玻璃截面：放大倍率60,000
.jpg)
手机触摸屏玻璃截面：放大倍率80,000
对这类玻璃基底多层膜样品，机械切割磨抛方式很难保证切割面的平整，也无法避免样品剖面的污染和边缘损伤；如果采用聚焦离子束FIB加工，应对几百微米的加工区域，将耗费大量时间和带来极高的使用成本。因此，氩离子束切割仪几乎成为高效率、低成本的获取无应力损伤和无污染的平整剖面的wei一的选择。
使用的制样设备：
徕卡EM TIC 3X三离子束切割仪
.jpg)
三束氩离子束正在对样品进行切割：
至真图片 制样为先
圆派科学完备方案，让结果超乎您想象！
圆派科学为徕卡Leica授权代理商，为提供样品制备全套解决方案。
下载本篇解决方案：
更多
qTOWER3G上进行新型冠状病毒SARS-COV-2的qPCR检测
市面上有众多的新冠病毒qPCR检测试剂盒，本应用方案采用韩国Seegene公司的AllplexTM 2019-nCoV检测试剂盒在耶拿荧光定量PCR仪 qTOWER³G上进行样品检测，获得符合预期的结果。
生物产业
2020/10/20
双相不锈钢的增强纳米压痕应用
Using Bruker’s Hysitron PI 88 SEM PicoIndenter equipped with tilt and rotation stages in conjunction with the QUANTAX EBSD system enables a more robust characterization of metallic materials by combining high resolution phase and grain orientation mapping capabilities with targeted nanomechanical property measurements. This combination could also be used to extend the scope of research related to other advanced textured, anisotropic, or multi-phase materials.
钢铁/金属
2021/09/02
导致超纯水机性能下降的因素有哪些？
超纯水机在后期使用中会因各种因素导致设备性能下降，所以为了确保延长设备的使用寿命，日常使用时就应该注意设备的维护和保养，那么导致超纯水机性能下降的因素有哪些呢?
制药/生物制药
2022/06/09
利用JEOL球差电镜的常规ADF/ABF探测器直接拍摄敏感材料
沸石、金属有机骨架（MOF）、共价有机骨架（COF）和有机-无机杂化钙钛矿材料，最近因其复杂的结构和赋予新功能的通用性而受到广泛关注。然而，这些精细结构在电子束（e-beam）辐射下容易损坏，这给它们的表征带来了很大的困难。 针对此类样品，上海科技大学（通讯单位）与日本电子株式会社联合报告了一种方法，使用常规ADF/ABF就可以在极低电子剂量下对电子束敏感晶体进行成像。该文以Improving Data Quality in Traditional Low-dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging为题发表在学术期刊?Particle & Particle Systems Characterization上。日本电子应用工程师王灵灵与上海科技大学蒋亦岚老师为共同第一作者，周毅老师与张青老师为共同通讯作者。
其他
2022/11/24
