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解决方案

X射线辐照探针台测试系统解决方案

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

抗辐照水平
在太空中,电子设备会受到辐射和重粒子的冲击而发生各种辐射效应,造成其工作的异常或故障,从国内外对航天事故的统计数据可以发现,40%的故障源于空间辐射。因此, 在使用器件时必须对其进行专门的抗辐照工艺处理,以确保其工作的可靠性。

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探针台|手动8英寸高温探针台

TS200/TS300/TS200L

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负载牵引~负载-输入系统介绍 及其应用

应用领域

电子/电气

检测样品

检测项目

CP测试
MT1000和MT2000混合信号有源负载牵引系统是经过商业验证的非常受欢迎的解决方案,能够在高达每分钟1000阻抗/功率状态的高速下执行负载牵引

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负载牵引 MT2000

MT2000

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自动探针测试系统解决方案

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

CP测试
随着诸如无线通讯、射频集成电路、近距车载雷达和5G通信等新兴的射频应用的迅速发展,准确、可靠和可重复的测量是非常关键的。尤其是对器件的研发设计、射频集成电路的生产和满足太赫兹应用需求的新产品模块来说,晶圆级射频在片测试显得至关重要。

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探针台|MPI探针台TS3000

TS3000

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