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简介
薄膜测量系统TF-168是TF-166的改进系统，从顶部更容易进行光束对准。它具有非接触式光学测量功能，可测量各种多层光学薄膜和涂层的厚度，折射率和吸收率。
应用
光学组件上的介电涂层，涂覆的滤光片，晶圆上的半导体制造，液晶器件，多层聚合物膜。
薄膜层的示例： SiO 2，CaF 2，MgF 2，光致抗蚀剂，多晶硅，非晶硅，SiNx，TiO 2，溶胶凝胶，聚酰亚胺，聚合物膜。
基材材料示例：硅，锗，GaAs，ZnS，ZnSe，丙烯酸，蓝宝石，玻璃，聚碳酸酯，聚合物，石英。
| 测量范围 | 20 nm至50 μm（仅厚度），100 nm至10 μm（厚度w / n＆k） |
| 可测层 | up to 4层 |
| 现货尺寸 | 可调0.8毫米至4毫米 |
| 样本量 | 从1毫米起 |
| 厚度精度 | ±1 nm或±0.5％中较大者 |
| 精确 | 0.2纳米 |
| 重复性 | 0.1纳米 |
| 平台尺寸 | 7英寸x 7英寸或178毫米x 178毫米 |
| 系统尺寸 | 宽度8英寸，深度9 1/2英寸，高度14英寸 |
薄膜厚度测量系统
单独使用包含的光源或光谱仪 主机包括一个钨卤素灯光源（360-2500 nm）和一个基于PC的USB微型光谱仪（350-1000 nm），每个均具有SMA 905连接器。 | |
| 通过将薄膜测量光纤与内部光源和光谱仪断开连接，可以将单独的光纤连接到光源和光谱仪，以促进其他照明或光谱测量应用。 | |
测量功能
基材折射率和吸收率评估
膜厚测量，均值和标准差
膜材料的折射率和吸收率评估
保存测量的光谱相关反射率数据
加载先前保存的反射率数据
测量结果统计
用户友好的光标控制显示测量结果
灵活选择计算波长范围
灵活选择厚度范围以大程度地减少计算时间
从随附的数据库中方便地选择薄膜和基材材料
用户定义的材料选择和导入。
白光干涉测厚TF168的工作原理介绍
白光干涉测厚TF168的使用方法?
TF168多少钱一台?
白光干涉测厚TF168可以检测什么？
白光干涉测厚TF168使用的注意事项？
TF168的说明书有吗？
白光干涉测厚TF168的操作规程有吗？
白光干涉测厚TF168报价含票含运吗？
TF168有现货吗？
企业名称
上海埃飞电子科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310114003006789
成立日期
2015-12-16
注册资本
经营范围
从事电子技术领域内的技术开发、技术咨询、技术服务,家用电器、仪器仪表、电子产品、数码产品、电子元器件、通讯器材、安防产品、汽车饰品、通信设备及相关产品、计算机、软件及辅助设备、照明设备、灯具、汽车零配件、金属制品、玻璃制品的销售,商务咨询,图文设计制作,会务服务,通信工程,网络工程,从事货物与技术的进出口业务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
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