新款覆层测厚仪测量原理

层测厚仪是新研发的新产品，与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点：

　　测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍。

　　能、数据、操作、显示是中文。

　　对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关家和际标准中称为覆层(coating)。覆层厚度测量已成为加业、表面程质量检测的重要环，是产品达到优等质量标准的备手段。为使产品际化，我出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者须遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的缘覆层测厚时采用。

　　 测量原理

　　、磁吸力测量原理及测厚　　磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可行测量。鉴于大多数业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用广。不同的型号有不同的量程与适用场合。

　　这种仪器的点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。

　　二、 磁感应测量原理

　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新术，利用磁阻来调制测量信号。，引入微机，使测量度和重现性有了大幅度的提(几乎达个数量)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。

　　磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化石油待业的各种防腐涂层。

　　三、电涡流测量原理

　　频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的水平。

　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳氧化膜。覆层材料有定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类务还是采用磁性原理测量较为合适。