植物冠层图像分析仪-植物冠层图像分析仪-植物冠层图像分析仪-植物冠层图像分析仪

　　植物的生长情况是我们都很关系的，特别是农作物和森林景观。FT-GC20植物冠层图像分析仪是一款非常好用的植物冠层分析仪器，对植物冠层的分析以及叶面积的指数能够进行快速准确的检测，用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过 分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。目前在各种类型的高等院校，已经有很多老师把本款仪器当作教学和试验 的重要设备，因为这一款仪器是利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。

　　FT-GC20植物冠层图像分析仪是采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。

　　作物叶面积指数(1eafareaindex，LAI)是描述作物冠层结构的一个重要参数，影响作物光合、蒸腾作用等关键生理过程 。LAI是许多作物生长模型、长势评价模型、作物估产模型的重要参数 。LAI可通 过遥感反演和地面实测两种途径获得。地面实测LAI的方法有两种：直接法和间接法。常用的直接法就是解析法，通过将地面单位面积的作物植株分解，测量所有叶片的面积，然后加和，即可以获取准确的LAI数据。但是， 解析法的测量速度慢，花费大量人力和时间，且直接损坏植物，不能对特定观测目标作物进行连续重复测量， 所以解析法多用于少量LAI测量或校验其他测量方法，很少用于大量实地LAI测量。目前，作物LAI的测量多采用间接法 。在间接法中，使用植物冠层分析仪测量作物LAI的技术方法最为常用 。采用植物冠层分析仪测量LAI，具有快速、对作物叶片无损伤、对观测对象可重复测量等特点。

　　作物长势监测可为生产中的变量施肥管理及产量预报提供参考。冠层生物量是反映作物长势的重要指标之一。 常规测定生物量的方法 , 需要破坏性取样 , 称重 , 耗时耗力不利于准确的农业决策。研究表明 , 通过一些构建的植被指数 , 遥感技术可用于作物多种生理、生化和群体结构参数反演 , 如叶面积指数 (LAI) , 叶绿素含量 , 冠层水分含量等。植被指数是指某些特定波段反射率的组合 , 与叶片色素或光合作用以及植被的水、氮胁迫状态等有关。