柳沁科技武汉环试高温老化试验箱LQ-GD-80D

武汉环试高温老化试验箱参数详情如下：
★型号/规格：
★型 号：LQ-GD-80；LQ-GD-100；LQ-GD-150；LQ-GD-225；LQ-GD-408；LQ-GD-800；LQ-GD-1000
★试验机内部尺寸(宽×高×长)cm  40×50×40；50×60×50；50×75×60；60×85×80；100×100×80；100×100×100；
★试验机外部尺寸(宽×高×长)cm 以实际尺寸为标准，每个型号的报价方案上都会有对应的外箱尺寸
★试验机内外部材质均采用SUS304优质不锈钢：具有良好的低温强度，耐蚀性、耐热性和机械特性；冲压、弯曲等热加工性好，无热处理硬化现象（无磁性，使用温度-196℃～800℃）
★本试验机有多个温度范围可以选择：0℃~-150℃；-20℃~-150℃；-40℃~-150℃；-60℃~-150℃；-70℃~-150℃
★波动度：±0.5℃
★均匀度：±2℃
★控制器方式：微电脑PID控温
★试验机内部摆放样品的置物架子：标配两层，多层下单时注明。
★整机使用电源：单相220V或者三相380V，功率根据尺寸大小及温度范围而定。
★独特的BTC平衡调温方式，稳定平衡的加热能力，调节理想温度环境，进行高精度高稳定的温度控制。
★具有随温度的设定数值自动选择运转制冷回路的功能，操作简单，使用方便。
★测试机内设有观察窗，照明灯，可随时观察样品在试验机内的测试情况的变化。
执行与满足标准
GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
GB/T2423.1-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法；
GB/T2423.2-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法；
GB/T 2423.22-2002电工电子产品基本环境试验规程  试验N 温度变化试验方法；
GB/T10592-2008《高、低温试验箱技术条件》；
GB/T 10589-2008《低温试验箱技术条件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美国军用标准；
IEC 68-2-1-1990 中文名称: 基本环境试验规程.第2部分:第1节.试验.试验A:低温试验
EC68-2-14_试验方法N_温度变化
武汉环试高温老化试验箱由四运行系统组成：
（一）加热系统：鳍片散热管形镍铬合金不锈钢电加热丝。加热、制冷、循环、除湿、加湿系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
（二）制冷系统：高低温气候试验箱制冷主要配置采用法国知名品牌泰康的全封闭压缩机或（或德国比泽尔的半封闭压缩机）；冷冻系统采用一级或二元复叠式低温回路系统设计。
（三）风路循环系统：采用多翼式离心送风机强力送风循环，避免任何死角，可使试验箱实验区域的温度分布均匀，波动度小。风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。采用可上、下、左、右调整导风板，以保证温、湿度均匀分布。
（三）控制系统：智能型温度可程式控制器以液晶屏方式显示温度值，有加热器、传感器故障指示、变送功能、带有RS/232或RS/485通讯接口可供远程监控，用户可通过触屏编程自行设定系统参数。