X射线CT断层扫描系统

CT-COMPACT nano超高分辨率可到达亚微米级，强大的功能性可以提供原位/4D 解决方案。与传统的层析成像相比，CT-COMPACT nano纳米分辨率不受样本大小的限制，实现0.4μm的超高分辨率，适用于材料科学、半导体、石油、天然气、生命科学等领域。

CT-COMPACT nano是以复杂并且容易改变的目标来运作。无匹配的系统架构与典型的ProCon X-Ray设计相结合，为您提供了一个方便、高效的系统。通过亚微米分辨率和卓越的对比度实现高品质的扫描结果。

特征

·操作简便

·非接触式计量

·兴趣量 - 扫描

·质量控制独立于材料

·缺陷识别（空洞，裂缝......）

·不同的重建算法过滤反投影，代数，统计

·多个扫描轨迹Circular，Helix，Planar等等

·许多扫描轨迹的视野扩展

·体积缩放（Hounsfield）

·环形伪像抑制和降噪算法

·光束硬化校正和金属伪影减少

·用于漂移补偿的抖动校正

·相位和暗场对比度选项

·用于编写脚本的Matlab / Python / Labview界面

·批处理和扫描计划

·时间分辨CT扫描（4D CT）

·原位选项

·实时CT重建

·使用Flat- panel探测器快速扫描<10秒

·“Industriepreis 2018” - 获奖者