2018-12-06 10:36
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纳米级透射电镜拉伸压缩样品杆 SATO
型号: SATO-Holder
产地:
品牌:
¥ 50万 - 100万
参考报价
多功能TEM样品杆 HATA
型号: HATA Holder system
产地:
品牌:
¥ 50万 - 100万
参考报价
双倾冷冻及真空传输透射电镜样品杆LN2
型号: LN2
产地:
品牌:
¥ 50万 - 100万
参考报价
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Spicer monitoring system SC28 English Catalogue ,监控系统专门设计用于监控高阶电子束仪器的环境,包括扫描电子显微镜 (SEM)、穿透射电子显微镜 (TEM)、电子束光刻工具(曝光机)和基于 SEM 的计量和检测工具。它可以记录环境磁场、振动、噪音、温度和相对湿度的频谱和图表。
由日本Mel-build特别设计,专门为需要双倾、冷冻及杜绝真空传输之TEM样品杆,提高便利性与观测准确性,资料附件英文详细规格。
由日本公司研发特制TEM样品杆,在原位拉伸试验中具备纳米级高分辨率,也可搭配断层扫描系统产生4D数据,搭配各家SEM样品座轻松移动样品,资料附件为英文详细规格。
Spicer Sensor Interface Analysis system SC11 English Catalogue便携式电脑装置,精确测量实验室环境磁场、振动和噪音声波,并具备测量和分析系统,完整呈现实验室环境状态,资料附件为英文详细规格。。