流体控温装置芯片测试电路设计

　　随着国内芯片行业的不断发展，无锡冠亚流体控温装置不断得到应用，为此，针对流体控温装置芯片测试的电路设计，流体控温装置厂家需要了解清楚，才能更好的生产销售流体控温装置。

　　AM-OLED显示驱动芯片是AM-OLED平板显示屏的关重件，具有重要经济价值，显示驱动芯片内部集成了行列驱动电路、图像SRAM、电荷泵、LDO、伽马校正和多种输入输出接口。内置图像SRAM可支持到WVGA分辨率，可显示16.77兆色的显示屏；片内的低功耗电源管理技术增强了手持设备的电池续航能力。该芯片具有高集成度、低成本、低功耗的特点，可运用于中小尺寸AM-OLED显示屏模块，包括智能手机、数码相机等电子产品。 因此，流体控温装置针对AM-OLED驱动控制芯片的测试需求，并结合该芯片的多功能模块结构特点，提出了一种AM-OLED驱动芯片的测试电路设计方案。

　　AM-OLED驱动控制芯片电源模块由三个电荷泵、两个LDO以及一个上电检测电源组成，用来向伽马校正、行驱动、列驱动以及SRAM模块提供所需要的驱动电压。内置SRAM用来存储需要显示的图像数据。OSC振荡器主要是作为片内时钟源，可以通过倍频、分频、调整占空比等方式，结合各需求模块的具体需求，产生高精度的时钟频率。数字控制模块由Command decoder和TCON模块组成，主要实现不同分辨率显示，不同显示模式显示，低功耗模式控制，不同控制和数据接口兼容，行列驱动电路控制以及伽马校正，接口译码功能。使各模块能协调按序工作。

　　针对以上驱动芯片，需要对他的各项功能模块和整体性能进行有指标的测试，常用测试项目有电源模块测试，测定芯片内基准、电荷泵、LDO等电源的电压、电流指标要求。联动测试，包括上电，启动复位、省电、睡眠等各模式之间的切换。动态电流和平均电流测试，用于统计芯片的平均功耗和瞬时功耗。列驱动Source Driver输出固定电平测试、建立时间、DNL、INL、DVO测试。通过SPI口对集成在芯片内的SRAM进行测试，测试基本的存储功能是否正确。伽马电路测试，需要分步进行，先对其内部各个模拟电路进行测试，确定参考电压产生是否正确，然后再和列驱动连接进行联合测试。比对显示效果，可调整电压误差范围。 数字控制模块的测试，主要在接口之间的兼容，可在线调试，寄存器可配等特点来提高芯片的可测试性。

流体控温装置的芯片电路设计不同厂家有着不同的特点，流体控温装置专业厂家应对此能够集中分析测试，更好的进行芯片测试。

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