同方威视与清华大学共同申请专利获北京市发明专利奖一等奖

鉴知技术

2019/02/28 11:20

阅读：404

专利奖1.webp.jpg

2019年2月27日，北京市第五届发明专利奖颁奖仪式在北京会议中心举办。同方威视与清华大学共同申请的专利“CT系统和用于CT系统的探测装置”获本届发明专利奖一等奖。北京市副市长隋振江、国家知识产权局副局长贺化、北京市知识产权局党组书记杨东起等领导出席会议并讲话，高级副总裁陈伟代表同方威视领奖。

技术国际领先，应用领域广泛

本获奖专利“CT系统和用于CT系统的探测装置”首创高低能排间距的差别化设计，实现了高低能排向异性的双能探测器结构和基于该结构的高速双能CT检查系统。基于本专利技术，同方威视在国内外首次提出了基于新型探测器结构的双能安检CT成像技术，形成了具有自主知识产权的新一代X射线双能CT安检成像系统，并成功研制出多款应用于民航、海关以及检验检疫等领域的CT安检成像系统。

专利一等奖.webp.jpg

本项目凭借突出的创新优势和显著的经济社会效益获得北京市发明专利一等奖，充分体现了同方威视技术创新的实力与水平，展示了研发团队技术创新的智慧成果。本专利奖项是对同方威视知识产权工作持续投入的肯定和鼓励，对激发同方威视的创新积极性、提升同方威视知识产权创造和保护水平起到了巨大的推动作用。

北京市发明专利奖是北京市政府设立的重要奖项，设置该奖项的目的是发挥政府主导作用，鼓励创新主体的创新成果及时取得专利权，提高发明专利质量。第五届北京市发明专利奖共评选出获奖项目36项，其中特等奖1项、一等奖5项、二等奖10项、三等奖20项。截至目前，同方威视累计获得北京市发明专利特等奖1项，北京市发明专利一等奖2项。

【延伸阅读】

同方威视拉曼光谱技术荣获第二十届中国专利优秀奖

从“权健”看保健品非法添加同方威视推出拉曼快速检测方案

同方威视：将拉曼光谱技术“用”到极致