可变角原位25次衰减全反射ATR

可变角原位25次衰减全反射ATR

FT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测

特点

·           入射光30°-60°可调

·           25次反射

·           适用于FT-IR或色散仪

·           样品架配两个引脚

·           标准 3” x 2” 样品架盘

·           多种晶体可选

·           可互换样品架(固体，液体，凝胶)

25 次反射 ATR

可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。

标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。

为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。

KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件

研究范围。

四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住

应用

? 固体? 液体? 凝胶

? 涂层及薄膜多深度研究

订购信息

GS11000 入射光可调25次反射ATR附件

含固体架及45度角KRS-5 晶体

可选配件

GS11001 25次反射ATR固体架

GS11002 25次反射ATR凝胶架

GS11003 25次反射ATR液体架

耗材

GS11004 KRS-5 晶体 (45°)

GS11006 Ge 晶体(45°)

GS11009 Si 晶体(45°)

GS11014 ZnSe 晶体(45°)

GS11008 PTFE 垫圈液体架用（1大、1小，5套）