仪器简介：
PrimusII是理学公司奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析
48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析.
软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户.
维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.
技术参数：
硬件：
对应超轻元素的X射线光管
采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。
采用新型光学系统
采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。
48样品交换器
实现平台式共享化，最多可放置48个样品。多样品交换器实现了省空间。
1次X射线滤光片
除去X射线光管的特征X射线光谱，在减低背景干扰方面发挥威力。
双泵、双真空系统
采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。
防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的结构设计，样品交换实现更高效率。
粉末附件
电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。
定点分析
100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。
采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台)
节能、节省空间
节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下）
PR气体流量减少（5mL/min）
省空间
采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。便于维护
PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗
软件
新版SQX软件
在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。
委托分析EZ扫描
采用对话框形式设定，可进行SQX分析。
定角测试模式
微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。
应用模板
各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。
散射线FP法
不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。
流程条
测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。
其它特点的软件功能
①SQX分析功能
② Mapping数据库
③材质辨别
④理论重叠校正
⑤自动程序运转
⑥校正投入量计算
应用软件包
应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品）
CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。
主要特点：
特点：
轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高
配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75
重金属的高灵敏度分析-采用光学系统
高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm
完美的无标样分析-SQX软件
仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间
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