OCT基于光学相干原理是一种非侵入式光学成像技术，以近红外光为光源，迈克尔逊干涉仪为核心光学结构，产生光学干涉信号实现成像。原理图如下所示：近红外波段的激光信号，通过使用相干干涉法测量样本的深度就能提供微米级别的分辨率聚焦后的近红外激光信号能提供更高的横向分辨率东隆科技总代的Wasatch Photonics OCT光谱仪是基于光谱仪结构设计，通过记录不同频率激光的干涉情况，并使用傅里叶变换得到具体的影像结果。由于采用了高灵敏度、高波长分辨率设计的光谱仪结构，使得该OCT光谱仪在业内具有领先的检测深度及灵敏度，还可以提供高分辨率的细节图像，尤其对精细结构材料的缺陷和表面平整度进行详细而完善的测试。如下图所示，OCT光谱仪能清晰地测量到汽车车门表面的油漆划痕。OCT光谱仪可以非接触式测量，无需耦合剂，其高分辨率可在2.6μm-10μm范围内呈现，图像捕捉速度达30帧/s，秒成像深度最大达5.8mm，可很好的应用在3D成像上，对材料结构也能进行系统化分析。据悉，OCT光谱仪已被广泛的应用在各领域的无损检测中，如工业加工、航空及自动化、显示面板及医疗设备等行业。▶ 工业加工OCT光谱仪适用于测量工业加工中的元器件、磨具、终件的形状及外形尺寸，如上图中是用于3D打印的高分子聚合物材料的测量结果，从图中可以明显看出工件的内部加工缺陷。同时，OCT光谱仪还可以用于加工产线上的实时动态监控、烧蚀深度的实时控制以及加工缺陷的动态分析等应用。▶ 航空及自动化OCT光谱仪也可应用于航空业及自动化领域，对一些特殊涂层或表面喷漆进行测试。由于OCT的高分辨率成像特性，可以探测到极微小的缺陷及内部结构异常，从而保障设备的安全使用。如图中呈现的是一种复合涂层的成像结果，通过无损检测能快速的对材料表面的缺陷进行定位。▶ 显示面板OCT光谱仪卓越的轴向分辨率对于多层结构的显示面板器件有着很好的成像效果。如在3D成像信息对显示器表面的平整度以及可能存在的缺陷进行分析，厚度小于10微米的子层可以被清晰地成像显示出来，如图所示为手机显示屏的表面镀层成像的结果。▶ 医疗设备OCT光谱仪其实很早就在医疗行业中应用和进行相关研究，如图中所示运用OCT光谱仪对隐形眼镜进行成像的图片。由于OCT光谱仪具有非接触及高灵敏度的特性，非常广泛的应用于在测量非常微小或者结构复杂的样本，尤其测量样本内部孔铜、缺陷、间隙等参数，在眼科治疗中已广泛使用。而Wasatch Photonics的OCT光谱仪的探头是可以集成在手持式的平台上用于样本的测量，并且根据不同客户的需求定制不同应用场景需求的探头，还可以为OEM客户定制适合不同应用场景的OCT光谱仪。

OFDR设备不能连接超量程的光纤问：仪器标称测量长度是100米，那我连接大于100米的光纤，只测量前面100米，行不行呢？答：不行！我们在与客户交流时，经常会被问到以上问题，通常情况下，连接的光纤必须要小于仪器标称测量长度。这里既然用“通常”，那么当然也存在一些特殊情况可以连接大于100米的光纤，而不影响测量结果。如果要搞清楚这个问题，首先我们需要了解一下信号采集原理中的“混叠现象”，大家可自行搜索百度百科查看。如下截图所示：图1 “混叠”百度百科简单解释就是：假如仪器采样频率是fs，信号频率是fo，并且fs/2 f = fs – fo而OFDR光频域反射技术是通过光纤上各个位置散射光与本地参考光的频率差来实现定位。也就是说光纤上各个位置的散射光在到达光电探测器后频率是不同的。图1.OFDR原理如图1示，OFDR系统的迈克尔逊干涉仪结构。激光器发出的线性扫频光经过耦合器分成两路。一路进入参考光路经反射镜反射后，再次经过耦合器到达光电探测器；另外一路进入传感光纤，在传感光纤各处产生瑞利散射后，经耦合器到达光电探测器。两路信号产生差频后经系统采集。通常系统的采样频率是2MHz，测量长度是100米。根据奈奎斯特采样定理，则传感光纤100米位置对应的散射信号频率为1MHz（采样频率的一半）。0~1MHz的散射信号对应于传感光纤的0~100米区域，所以我们也可以得到传感光纤70米~100米区域对应的散射信号频率是0.7MHz~1MHz。图2.正常光纤瑞利散射图像当接入传感光纤70米，小于实际最大传感长度约112米（最大量程即横坐标最大值），光纤尾端下降台阶明显。如果我们在100米传感光纤后面再接入30米光纤的话，光电探测器探测到的这段30米光纤（100米~130米段）的散射信号频率为1MHz~1.3MHz。由于我们的采样频率只有2MHz，则对于这段信号的采集就会产生混叠效应，实际采集到的信号频率是2MHz-（1MHz~1.3MHz），即1MHz~0.7MHz，对应于100米~130米这段光纤。因此，反过来看这段光纤，可以得到130米~100米光纤段的信号频率（0.7MHz~1MHz）与70米~100米光纤段的信号频率（0.7MHz~1MHz）一样，两者混合在一起，导致无法区分这两段光纤，也就不能用来测量。而0~70米这段光纤的散射信号频率并没有与某个光纤段重合，所以仍然可以用来测量。这也就是前文我们说的连接光纤大于100米时仍可以测量的特殊情况。图3.超量程接入时传感光纤瑞利散射图像当接入传感光纤144米，超量程32米（最大量程112米），光纤末端（140米位置）实际显示在112-32=80米位置。即80米~112米光纤段瑞利散射信号与144米~112米光纤段瑞利散射信号混合在一起，无法区分。由此得出，假如仪器规定的传感长度是100米时（OSI-S传感长度100米，OSI-D传感长度20米），如果您连接的传感光纤长度超过100米，多了n米时，则由100米位置向前推n米，即（100-n）米~100米这段光纤是不能用来测量的。高分辨光学链路诊断仪OCIOCI都是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。高分辨光学链路诊断仪OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。产品特点：· 波长范围：C+L波段：1525~1625nm或O波段：1265~1340nm· 空间分辨率：10μm@50m、20μm@100m· 测量长度：100m（可定制升级）· 自校准，无需人为干预，稳定性好· 可扩展分布式温度、应变测量· 可提供定制服务

近日，PicoQuant中国应用中心正式宣布新增了一款高性能科研仪器——Luminosa单光子计数共聚焦显微镜，它将为科研领域带来前所未有的高灵敏度、高分辨率的成像体验，推动生物、医学以及材料科学等领域的深入研究。PicoQuant中国应用中心负责人表示：“Luminosa的加入，不仅为科研工作者提供了更为先进的实验设备，也进一步推动了光学测量领域的技术创新。我们将继续秉承‘服务创造未来’的理念，为科研工作者提供更加优质的服务与支持。”Luminosa单光子计数共聚焦显微镜的正式亮相PicoQuant中国应用中心，标志着PicoQuant中国应用中心在推动科技创新、服务科研领域方面又迈出了坚实的一步。我们期待这一创新技术能够为中国乃至全球的科研事业注入新的活力。‍‍‍‍‍‍小编简单的向大家介绍这款高分辨率、高灵敏度、高颜值的Luminosa单光子计数共聚焦显微镜性能：‍‍‍‍1、极简操作，超高数据质量，您值得拥有PicoQuant 在时间分辨单光子计数方面拥有多达25年的经验。与此同时，PicoQuant 与科学界建立了牢固的联系和深入的合作。我们收集了众多科学工作者和专家的知识和宝贵经验，并将其融会贯通，进而创建了迄今为止我们最好的时间分辨系统和软件：Luminosa。2、值得信赖的质量和精度实现每个测量环境中单分子研究的最佳性能：即使不需要样品，也可以一键式自动对准程序。在同一台显微镜上同时实现振镜扫描（最大速度）和物镜扫描（最大光子探测效率）。3、节省时间，使您专注于您的样品基于上下文的直观工作流程指导您自信、有效的利用 smFRET、FCS 和 FLIM 的全部功能。以最少的用户交互获得分析结果。基于GPU算法可快速提供可靠的结果。4、先进的灵活性只需单击一下，即可调整观察量以匹配FCS和smFRET检测的动态。开放式操作模式，可通过软件完全访问每个光机械组件。如您对此设备想进一步了解更多详情，可随时联系我们，欢迎您来我司参观和申请测样体验!

近日，全球领先的光电技术公司Wasatch Photonics的首席执行官David Creasey博士，受邀到访中国合作伙伴——武汉东隆科技有限公司。此次访问不仅强化了双方的合作关系，更展示了Wasatch Photonics的高端光电子产品在中国市场的深入布局。Wasatch Photonics，作为全球知名的光电技术领军企业，专注于生产高性能的透射式 VPH光栅（体积相位全息光栅），并基于这一核心技术开发出先进的拉曼光谱仪和OCT光谱仪。其产品因高效率、低偏振依赖性和宽带宽上的均匀性能而广受好评。而作为Wasatch Photonics的核心销售渠道，东隆科技不仅为Wasatch Photonics的产品提供了广阔的销售平台，还通过其专业的技术服务和市场推广，使更多中国客户能够更加方便的接触并应用到这些世界领先的光电子产品。在访问期间，David Creasey博士受到了我司高层的热情接待。双方就当前光电子技术的最新进展、市场动态以及未来发展方向进行了深入交流。David Creasey 博士表示，他对我司在光学技术领域的专业能力和创新潜力感到印象深刻。他表示，双方有着广阔的合作空间，希望能够共同探索更多的市场机会，加强VPH光栅（体积相位全息光栅）、拉曼光谱和OCT光谱技术在中国范围内的应用与发展。

OCT光谱仪在皮肤病学中的高清应用皮肤是人体最大的器官，具有惊人的自愈能力，即使在受到严重损伤后也能自愈。皮肤作为我们抵御微生物和外界环境的主要屏障，了解皮肤的修复过程以及如何加速皮肤修复过程是至关重要的。OCT光谱仪提供了一种新颖、无损的方法来实现这一目标，它可以”窥视”皮肤下1-2mm的深度，并且分辨率优于10 μm。为了验证这一潜在的应用，迈阿密大学Irena Pastar领导的 研究小组决定评估在伤口愈合研究中使用OCT作为组织切片的替代方法。结果如何？OCT光谱仪能够捕捉到详细的伤口图像，可与显微镜收集的图像相媲美，并能更客观地评估干细胞新疗法对伤口愈合的益处。伤口愈合过程包括出血、炎症、增殖和重塑（上皮化）等相互重叠的阶段▶ 揭示愈合过程在伤口愈合过程中，皮肤会经历炎症、增殖（或迁移）和重塑的重叠阶段。尽管出于伦理原因，急性伤口愈合的过程没有在人体内进行研究，但它可以在活体外进行近似模拟。用作 “活体外”伤口愈合的模型来自减容手术者捐赠的皮肤，需要在受控条件下维持足够长的时间，以研究其所涉及的分子机制，并评估旨在加速愈合的治疗方法。该模型的主要缺点是，传统上需要破坏伤口，通过组织学检查（HE）来评估愈合过程。为了研究一种伤口类型或治疗方法，必须制作多个相同的伤口，并且在不同的时间点仔细地切片和染色，然后依次在显微镜下进行检查，以观察舌上皮从伤口边缘生长到覆盖暴露的真皮层的距离。相比之下，OCT可以从开始到结束对同一伤口进行无损监测，从而消除了组织样本和单个伤口之间的差异。由于伤口往往愈合不均匀，比如某些边缘的闭合速度比其他边缘更快，这一点尤其重要。OCT可用于快速收集横截面的纵向图像，以揭示真皮的亚结构，从中可以生成整个伤口的 3D体积或面内图像。这有助于更客观地了解伤口愈合过程，而不是局限于特定的横截面和样品制备质量。▶ 评估OCT光谱仪的活体外应用在这项研究中评估了1300 nm的扫描源成像（SS-OCT）和850 nm的光谱域成像（SD-OCT） 是否能用于评估皮肤伤口的愈合。虽然两个系统的成像深度相似（分别为2 mm和1.9 mm），但Wasatch Photonics的SD-OCT系统提供了比临床SS-OCT系统更高的轴向分辨率（Wasatch Photonics-OCT光谱仪系列为了将OCT成像与组织学检查（HE）进行比较，我们制备了一系列相同的伤口样本，其中一部分用rhEGF（重组表皮生长因子）处理。所有样品均在37°C下培养，并在第0、4和 7 天收集一式三份样本，使用每种技术进行评估。通过组织学检查（HE）评估的伤口在福尔马林溶液中固定，包埋在石蜡中，然后从伤口边缘到直径最宽点切成8 µm的切片，用于染色和显微镜检查。通过比较从伤口边缘迁移的舌上皮的总数与伤口总直径的百分比来计算愈合进度。1300 nm SS-OCT平面成像与愈合伤口上两点的横断面组织分析的比较在进行OCT分析时，只需不到1分钟的时间就能从伤口边缘到另一个伤口边缘的横截面测量，并通过纵向扫描来构建组织表面的正面伤口图像。在这些“自上而下”的伤口视图中，由于舌上皮会延伸到覆盖在伤口中心暴露的真皮层，所以可以很容易区分完整的表皮和迁移的舌上皮。这样就可以使用更客观的面积计算来量化愈合情况，即伤口愈合伤口面积与原始伤口面积的百分比。通过（a）组织学评估和（b）使用 Wasatch Photonics 800 nm OCT系统（c）对活体外人体伤口中的组织进行观察。图中c=角质化表皮；e=非角化舌上皮；p=乳头状真皮；r=网状真皮。与组织学检查（HE）分析相比，OCT始终显示出更高程度的再上皮化（愈合），这并不奇怪，因为OCT能够呈现完整的伤口图像，而不是仅从横截面进行推断。尽管如此，数据显示OCT和HE分析之间存在强烈的正相关关系，并且在新伤口和完全愈合的伤口数据几乎完全一致，这验证了OCT是一种可行的分析技术。使用Wasatch Photonics的800 nm SD-OCT系统获得的横截面图像提供了足够的分辨率和对比度，可以清楚地识别表皮、乳头状真皮和网状真皮以及伤口床中迁移的上皮细胞。这种区分不同组织类型的能力，使得OCT在皮肤病学中的应用远远超出了对伤口愈合或新疗法的评估范围，还扩展到了干细胞作用机制和再上皮化过程中表皮迁移的机制研究。OCT能够以非侵入性方式提供快速、可重复的扫描，这为临床前测试以及通过确定切片的最佳位置来指导深入的免疫组化分析带来了巨大前景。▶ 一种新型干细胞疗法经过验证，OCT光谱仪是一种替代组织学分析的可行的 "光学活检 "方法，Pastar的研究小组将这种新的成像模式用于分析异体人类脂肪衍生干细胞（ASC）在人类活体外伤口中的治疗潜力。干细胞疗法已显示出治疗疑难伤口的前景，但其使用可能存在争议。然而，来自成人脂肪组织的干细胞不受这种限制，并且已被证明可以在从分化到血管生成的各个方面促进伤口的愈合。与之前描述的验证研究同步进行的是，通过向新鲜伤口中心注射ASC，对一系列活体外伤口进行处理。这些伤口也用OCT进行了为期4天的监测——这是活体外伤口愈合的指数阶段。OCT成像发现所有接受ASC治疗的伤口都完全再上皮化，而介质处理的对照伤口则显示只有50%的伤口闭合。发现ASC治疗伤口与rhEGF治疗伤口在愈合上的差异具有统计学上意义，并通过识别表皮单层和分化层的横截面OCT图像证实了伤口闭合性的增强，这些结果表明了ASC促进了再上皮化的能力。对于延伸到真皮层直径为3 mm的伤口，单次ASC治疗可显著促进愈合，OCT对此进行了记录。考虑到活体外伤口模型用于评估新疗法的跟踪记录以及OCT在临床前研究中的应用能力，显示使用OCT评估ASC疗法在体内伤口治疗中具有巨大的潜力。▶ 结论通过对深度达2 mm、分辨率优于10 μm活体外伤口进行非破坏性成像，证明了OCT在人体伤口愈合无创监测方面的可行性和优越性。与组织学检查相比，它不仅速度更快、可变性更小，而且还能在整个伤口愈合过程中进行连续监测，并拥有足够的分辨率来评估解剖学和病理学。这使OCT成为用于伤口愈合以及实验室和临床环境里评估新型疗法的一项很有潜力的技术。在研究用ASC治疗伤口时，OCT发现仅4天后再上皮化就显著增加，进一步证明了OCT对伤口愈合领域具有重大贡献的潜力。想了解更多关于将 OCT光谱仪用于皮肤病学或其他组织应用的信息吗？请随时联系东隆科技。▶ 引用Glinos, George D., et al. “Optical coherence tomography for assessment of epithelialization in a human ex vivo wound model.” Wound Repair and Regeneration 25.6 (2017): 1017-1026.

【案例分享】AFM：整合扭转分子内电荷转移和聚集诱导发光的超快光谱研究摘要近日，《Advanced Functional Materials》刊登了中国科学技术大学周蒙教授团队与陕西师范大学房喻院士团队合作研究工作《Integrating Aggregation Induced Emission and Twisted Intramolecular Charge Transfer via Molecular Engineering》。该研究工作通过分子工程设计合成了同时具有扭转分子内电荷转移(TICT)和聚集诱导发射(AIE)特性的荧光发色团，将看似矛盾的TICT和AIE特性整合在同一分子内，并通过瞬态光谱等手段揭示了上述类型荧光发色团发射机制，提出了调控TICT和AIE特性的分子工程策略，为设计高可调性和强发射的荧光发色团提供了新的思路和发展方向。研究背景荧光发色团在生物成像、环境传感、光动力治疗等领域有着广泛应用前景。TICT和AIE是荧光发色团中普遍存在的两种现象，但这两种现象看似相互矛盾，不能同时存在于同一个荧光发色团分子内。TICT过程通常伴随着剧烈的构象变化，分子运动剧烈；而AIE过程通常伴随着分子聚集，分子运动受限。在良性溶剂中，TICT会被激活，而AIE会被抑制；在不良溶剂中，AIE会被激活，而TICT会被抑制。具有TICT或AIE性质的荧光发色团可调性极强，能够通过调控分子性质满足不同应用需要。如果能够构建同时兼具TICT和AIE特性的荧光发色团，将极大增强荧光发色团的可调控性，并拓宽荧光发色团的应用场景。因而，构建同时具有TICT和AIE特性的荧光发色团受到了广泛关注。研究内容该研究工作通过分子工程设计合成了具有供体受体(D-A)结构的DMA-NAP荧光发色团和MP-NAP荧光发色团。相比DMA-NAP荧光发色团，MP-NAP荧光发色团的给体含有吡咯单元，具有更强的给电子特性和更好的疏水特性。通过比较两种荧光发色团的斯托克斯位移、量子产率、发射峰位，研究人员发现MP-NAP比DMA-NAP具有更强的溶剂极性敏感度。利用瞬态吸收光谱，研究人员研究了两种荧光发色团在正己烷、四氢呋喃、乙腈三种不同极性溶剂中的发射机制。由于极性溶剂中TICT猝灭荧光，而分子聚集可以有效抑制化学键旋转，研究人员推测DMA-NAP和MP-NAP两种荧光发色团会表现出突出的AIE现象。经过不懈努力，研究人员在水-甲醇混合溶剂中观察到了两种荧光发色团的AIE现象，随后又研究了两种荧光发色团在水含量不同的水-甲醇混合溶剂的发射机制。通过以上工作，研究人员证明了可以通过分子工程设计同时具有TICT和AIE特性的荧光发色团，并阐释了两种荧光发色团的发射弛豫机制，为调控设计同时具有TICT和AIE特性的荧光发色团指明了方向。‍图文导读图1. (a) LE/ICT到TICT的激发态构象转变示意图。(b) DMA-NAP和MP-NAP的分子结构。 (c) DMA-NAP和(d) MP-NAP在不同极性环境下的稳态吸收(实线)和荧光光谱(虚线)。 (e) DMA-NAP和(f) MP-NAP在不同极性环境下的荧光寿命衰减曲线。图2. 溶剂极性相关的DMA-NAP和MP-NAP的飞秒瞬态吸收光谱二维彩图。图3. 甲醇和水混合溶剂中，不同混合比例下，DMA-NAP和MP-NAP的AIE效应。图4. 水含量不同的水-甲醇混合溶剂中的DMA-NAP和HP-NAP的飞秒瞬态吸收光谱二维彩图。图5. 两个分子在不同环境中的激发态弛豫途径，以及整合TICT与AIE的示意图。仪器推荐该工作中的时间分辨荧光光谱，由武汉东隆科技有限公司提供的德国PicoQuant高性能稳瞬态一体式荧光光谱仪FluoTime300完成。FluoTime300是一款全自动模块化荧光光谱仪，专注于稳态及时间分辨荧光光谱测试。该系统采用自研的EasyTau2测试分析软件实现人机交互，向导式操作，方便易用。文章信息Integrating Aggregation Induced Emission and Twisted Intramolecular Charge Transfer via Molecular EngineeringWei Zhang*#, Jie Kong#, Rong Miao*, Hongwei Song, Yalei Ma, Meng Zhou*, Yu Fang  Adv. Func. Mater.文章链接https://doi.org/10.1002/adfm.202311404

近期，在指导很多客户免费试用光纤微裂纹检测仪OLI时，我们发现有很多客户对测量长度的概念以及引纤长度的概念并不是特别理解。而这两个参量均是由设备本身的方案设计所决定的。所以，小编将从最基本的原理去阐述这两个概念之间的联系和区别。1、引纤长度OLI设备的内部示意图可简化为如下图所示：OLI利用相干调制技术实现分布式光信号检测。如上图所示，分光计把光源光分成信号臂和参考臂，利用光源的极低相干性（相干长度短到可忽略），当两条干涉臂光程几乎相等时（因为光源相干长度极短，我们把它忽略成完全相等）发生干涉，这也是OLI精准定位的原因，信号检测模块最终检测干涉之后的拍频信号。光纤微裂纹检测仪OLI从上图可以清楚看到，设备只有一个DUT口，在前面文章中已经有理论和实验论证过，待测链路中的插入损耗是会影响最终回损测量结果的，所以DUT口的光纤连接头的干净完好非常关键。根据测量原理，可人为控制引纤长度使信号臂总光程略大于参考臂总光程（反射镜起点），则引纤末端将总落在测量范围的前几个厘米。因此，我们对每台设备会搭配一根相对应的过渡引纤，它可以长时间插在设备上不拔，以免沾灰或多次插拔损伤。预留一定外接长度另一个原因是当客户的待测样品光链路较长时，有一个很长的引纤长度可以给不同长度的待测品充足的匹配余量。理论上可通过生产控制，引纤长度可以做到无限长（需考虑过长光纤带来的损耗对测量结果的影响），此参数可根据客户的测量需求，定制任意长度。不过一旦设备制作完成，之后不可再次更改此引纤长度。2、测量长度由上面的内部示意图以及前面对“引纤长度”的原理性阐述，当反射镜向右移动时，与参考臂光程对应相等的信号臂位置则为引纤末端向后的一段距离，此段距离等于反射镜移动的距离，即设备实际的有效测量距离，目前光纤微裂纹检测仪OLI最长的测量距离可达到90cm。综上所述，以上两个关键参量共同决定了OLI关于长度方面的使用。通过对这两个参数的理解，我们可以知道，待测品的光链路总长过长时，可通过增大预留的引纤长度来跳过待测品的非测试部分，以抵消匹配长度。同时，还可以通过外搭一定的光路实现数倍的测量长度。如下图：添加图片注释，不超过 140 字（可选）设置预留引纤长度10米，在设备外接一个1x7光开关，使用我司最大的测量距离版本90cm为例。1. 通过光纤长度控制使第7路的末端光路总光程等于10米，则此路可测试样品0-90cm的长度。2. 使第6路光路总长为9.1米，那么此路能测量样品90-180cm长度。3. 依次类推，使光开关每一路都比前一路光程短90cm（设备测量距离），那么每一路的测量长度为前一段测量长度之后再加设备的测量距离。4. 以图中设置的开关通道数和预留的引纤长度，综合起来可以测量0-6.3米，大大提升了设备单次测量的距离。所以，只需要牺牲部分测量时间，一台低成本的光纤微裂纹检测仪OLI一样可以达到相当长的测量距离，适用更广泛的应用场合。

二十六载初心如磐，新征程芳华再续。东隆科技自成立以来，承蒙各位朋友和合作伙伴的鼎力支持，得以不断发展壮大。作为陪伴公司一路走来的见证者，小编深感荣幸。现在，东隆科技迈向新的征程，公司已搬迁至新址：湖北省武汉市东湖新技术开发区北斗路6号未来智汇城 A8 栋。在这里，我们将以全新的面貌迎接新的挑战，踏上新的征程。我们期待与您共同开创新的辉煌。此次公司搬迁不仅代表了物理空间的转变，更是全新阶段的开始。我们将继续秉持“服务创造未来”的核心理念，致力于为客户提供更高效、更优质的服务。我们将以新址为平台，继续深化与客户、合作伙伴的合作关系，共同创造更多的价值。在此，我们衷心感谢您一直以来的信任和支持。希望在未来的日子里，我们能携手共进，共同书写更加辉煌的篇章。如有任何疑问或需要协助之处，请随时与我们联系。让我们共同开创美好的未来！

二维电子光谱（2DES）是一种超快激光光谱技术，可以探测样品的电子、能量和空间分布。它类似于核磁共振技术，能以高空间分辨率确定复杂的分子结构，是一种能使结构生物学发生变化的光谱技术。二维电子光谱（2DES）是 "终极 "时间分辨非线性光学实验设备，因为它能提供有关系统三阶非线性响应的最大信息量，而且任何其他三阶非线性光谱（如泵浦探针）都包含在二维光谱中。在具有多个相互作用成分的系统中，二维非线性光谱可充分发挥其威力。2DES可提供二维光谱，展现激发与发射频率之间的相关性，同时具有很高的光谱和时间分辨率。2DES可以剖析拥塞的光谱，揭示跃迁之间的分子联系，从而为阐明样品的整体功能提供了一种方法。三组分系统的二维光谱示意图。峰值沿对角线的拉长显示了转变过程中频率的瞬时分布，而椭圆形对角线峰值的短轴则测量了均匀线宽。这项技术要求样品与3个激光脉冲序列相互作用，并且其中两个必须是具有可变延迟的锁相复制脉冲，可通过NIREOS的GEMINI-2D干涉仪轻松生成，方法是将其置于样品之前的泵浦光束中，从而将泵浦探测装置转变为最先进的2DES光谱仪。2DES实验中的脉冲序列。在双色实验中，脉冲1-2（干涉稳定）与脉冲3/LO（干涉也稳定）的颜色不同。NIREOS的GEMINI-2D用于产生脉冲1-2并控制其相干时间τ。GEMINI-2D 干涉仪2DES的优势与其他非线性光谱技术相比，2DES具有以下优势：(i) 在一维实验中，有可能将光谱重叠的非线性信号分开，从而将其区分开来。对交叉峰的分析可揭示样品吸收光谱中的不同跃迁是来自相同、还是不同的分子种类，并可量化不同激发态之间的耦合和相关性。(ii) 2DES可消除不均匀展宽，测量光学跃迁的均匀线宽，从而在高度拥挤的光谱中找出单个信号。(iii) 2DES可以实时跟踪光激发后耦合电子动力学演变的平行路径。这使得二维技术成为一种特别强大的工具，可通过多个通道同时跟踪从起点到终点的激发能量转移过程。(iv) 2DES克服了傅立叶极限，同时获得高时间分辨率（跟踪飞秒时间尺度上发生的动态变化）和光谱分辨率（以高光谱精度分辨重要带宽上的激发和发射能量）。(v) 通过分析交叉峰来探测分子间的电子耦合，或操纵脉冲极化，可以获取有关发色团相对空间排列的结构信息。2DES可以将分子结构（由X射线晶体学确定）与电子能级联系起来，在某些情况下，它还可以帮助人们深入了解未知的分子结构。工作原理在选定的探测波长和固定的时间T2下，振荡瞬态信号是两个泵浦脉冲之间相对延迟T1的函数。对每个探针波长的T1函数进行傅里叶变换，就可以获得与探测波长和激发波长函数相关的二维谱图。该测量结果是在三个不同的种群时间 T2（15 fs、45 fs 和 4000 fs）下，对深红红螺菌（Rhodospirillum Rubrum）样品的光收集（LH1）复合物进行的测量。

原理介绍光在光纤中传输时，绝大部分光为前向传输，即通常所说的透射光。但由于光纤存在结构不均匀，材料密度变化，杂质或者离子掺杂等固有因素，光粒子与光纤介质（主要成分是二氧化硅）相互作用后，因为这些缺陷，必然存在部分与入射光方向完全相反的光粒子，形成了后向传输光，即通常所说的反射光，并且此部分光不可完全消除。标准良好的单模光纤中，瑞利散射是这些后向传输光最主要的形成原因，（原理上，瑞利散射后的光粒子方向是随机的，这里因为我们主要检测后向反射光，所以只讨论反射光强度）。在光通信领域，通常引入回损概念RL（return loss）来表征反射光的大小，即反射光功率与入射光功率的比值：RL=-10 lg（P反射/P入射）（某些使用场合，为了方便计算或沟通，不带负号，直接取绝对值）实际应用中，绝大多数场合均希望光全部单向前传，即P反射尽量小，相应的，回损就越小越好。所以回损的大小是判断光纤或光链路质量的重要指标之一。而OLI的主要功能是分布式测量某一段光链路长度范围内，后向反射光的强度（回损），通过实际测量得到的反射光强（回损），与光链路在正常标准情况下的反射光强对比（回损），进而判断此长度范围内光链路是否异常。从OLI的测试界面上可以看到，横坐标为距离，单位mm，纵坐标为实际回损，单位dB。它的优势在于：某一段连续长度范围内，实时显示回损大小，距离分辨精度可达百um级别，回损测量灵敏度可达-100db。其不仅能够通过回损大小判断链路质量好坏，还能精准找到具体的回损异常位置。特别适合小体积，短距离，模块化等精度要求高的场合检测或分析。测试案例1. PC连接头和APC连接头正常与失效对比按照如下图中接线方式，测量正常APC头和失效APC头的结果对比：按照如下图中接线方式，测量正常PC头和失效PC头的结果对比：根据菲涅尔反射公式，空气折射率取1，光纤折射率近似取1.5，计算出来反射率R约等于4%，转换成对数坐标即-14db左右。此即通常把PC头末端回损标准定义在-14.8db的原因。而APC连接头是为了减少平面接头的反射，把平端面研磨成斜8度，在光通信领域，其正常标准小于-50db（也有要求-55db的）。另外，由图上测量结果可以看出，APC连接头对接完好后，其回损相对于裸露空气中时，会大幅减小（PC头同理，但效果不如APC），有助于光链路传输。2. 光纤弯曲造成回损变大按照如下图中接线方式，测量不同弯曲直径下的回损结果对比：由以上结果对比看出，在某一弯曲范围内，随着弯曲直径变小，光纤中的回损是变大的。需要说明的是，当弯曲直径太大时，引起的回损变化不足以达到设备的最低探测灵敏度（-100db），此时设备探测不到变化（观察不到峰，全是基底噪声）。此种情况间接说明了设备的灵敏度暂时探测不到光纤中固有的瑞利散射。3. 折射率不同的芯片波导造成回损变化按照如下图中接线方式，测量不同芯片波导的回损结果对比：波导芯片的情况较为复杂，测量得到的回损-距离分布曲线与不同厂家的芯片工艺相关。芯片等效的光链路长度、折射率分布、不同材料掺杂甚至不同形状等情况，均会影响到光在其中传输时，链路的回波信号强度分布。需要根据不同的芯片情况针对性分析。

东隆集团自研的光纤微裂纹检测仪OLI其原理是基于白光干涉，可以简单理解为，设备出光光源为白光，该光源分为两路，一路在设备内部作为参考光，一路进入待测器件作为信号光，参考光和信号光在相同光程的地方会发生干涉，且误差在百微米内，这也意味着OLI有着超高的定位精度。OLI读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。  今天，小编说的重点是OLI测试范围最新升级至-100dB，这意味着OLI能探测到光链路中任何高于-100dB的光学信号，且能对该位置进行精确定位。小编针对此次重大升级，见图1所示，让用户更直观感受-100dB的概念。一般工业标准规定，APC接头回损值≥-60dB，PC、UPC接头回损值≥-50dB；实际测试中APC接头法兰对接回损值≥-70dB；光纤和芯片耦合完好回损值≥-70dB。图1. 实测示意图图2.是用设备OLI在-100dB测试范围下检测多通道FA端面，OLI外接8通道光开关，开启图3.多通道测试功能并获得的测试结果。图2. 多通道FA图3. 8通道测试结果应用场景• 光纤微裂纹检测• 光器件、光模块测量• 硅光芯片测量• PLC波导瑕疵损耗检测• FA光纤阵列链路性能检测• 光纤连接器插芯检测主要参数东隆集团自研的新一代光纤微裂纹检测仪OLI最新升级后，不仅参数性能进一步提升，而且仪器测量长度已升级为1m，回损测量范围可低至-100dB，欢迎相关用户来电咨询测试。

 SFM激光振镜扫描场焦点分析仪采用刻有10~15微米厚测量线玻璃板的专利技术表征激光光束特性，光电二极管探测刻线的散射光来测量激光光斑在增材制造工业领域恩耐AFX－1000环形光斑激光器越来越受到关注。德国PRIMES公司的激光扫描场焦点分析仪 ScanFieldMonitor（SFM）设计用于监测激光振镜扫描系统状态以及维持增材制造3D打印加工质量，荣获AKL 2022激光技术创新奖一等奖。本文展示了SFM对AFX－1000激光器不同模式光斑的一系列测量，揭示了SFM观察到的模式振荡的来源，光斑分布结果与激光粉末床熔合LPBF加工效果一致。恩耐AFX－1000是全球首款在光纤内部进行光斑调整的kW激光器，可自由切换14μm单模纤芯高斯光和40μm多模环形光等7种模式，无需多余的光学镜组。以增材制造应用为研发初衷，AFX在环形光斑模式下能够稳定熔池，减少烟尘和飞溅，提高材料的加工质量和生产效率。离散型的设计理念可实现每秒30次的极速光斑切换，为因熔化与凝固比例问题、微观物理特性与热应力所导致的零部件失效提供了全新的解决方案。AFX光纤激光器在环形光斑模式下加工致密材料（致密度＞99.5％）的速度已超过每小时100立方厘米。SFM可在3秒内测量功率10W~1500W激光扫描场50μm~500μm聚焦光斑的直径、位置、扫描速度，峰值功率密度可高达100MW/cm2德国PRIMES公司的激光扫描场焦点分析仪SFM是一款多功能一体化的激光光束诊断设备。这项研发是由增材制造选择性激光熔化SLM或激光粉末床熔合LPBF的许多新应用而推动的。SFM分析仪可在整个扫描场范围测量激光焦点参数：光斑直径、位置、扫描速度；还可以确定枕形失真、重叠扫描场的合并、焦点偏移以及激光的开启和关闭延迟、热透镜检查等时间分辨分析；并且能实现LDS软件远程控制，从而使用户能够更好地校准激光3D打印机。AFX－1000的7种Index光斑模式（MSM+测出焦点二维光斑及横向分布），SFM测出焦点横向分布（多次平均后的） PRIMES MSM+ CCD型微细焦点分析仪功能完善，测出AFX－1000的7种Index焦点二维光斑及横向分布作为标准（500W静止光）。PRIMES SFM测量AFX－1000 500W 1m/s扫描加工速度下的焦点横向分布，很接近MSM+的测量结果，测得的光斑直径与MSM+测量结果一致，误差在3%以内。SFM测量头8×8×10厘米，相比MSM+体积小40倍，性价比更高，能直接测量扫描加工速度下的运动光，入射角度最高可达20度，可以在整个扫描区域测量，更适合3D打印激光测量。SFM测量AFX－1000 Index 5光斑经过10次平均后的焦点横向分布，10次测量可以看见光斑模式振荡的细节，平均（红色）后振荡细节消失 AFX输出环形光斑时为多横模，多模之间有模式竞争。相比MSM+ CCD毫秒级曝光时间、1秒测一次光斑看不见光斑模式振荡细节，SFM最高响应10m/s的扫描速度、1秒高达100次测量可以看见模式振荡细节。10次测量AFX Index 5光斑模式的焦点横向分布可以看见模式竞争的振荡细节，平均后（红色）振荡细节消失，环形光斑对应粉末床的平顶强度分布。AFX Index 0（左）与 Index 5（右）两种模式加工剖面对比图，红线区表示固化熔融池范围，很明显环形光斑可以降低深度扩大面积 TUM慕尼黑技术大学测试了AFX不同模式对316L不锈钢的LPBF加工影响。采用300W功率 800mm/s的扫描速度。相比高斯光Index 0，环形光Index 5熔化池浅而宽效果更好，从而可以增加功率与扫描速度，加工效率由12mm/s (Index 0)大大提高到20mm/s (Index 5)。结论：德国PRIMES公司的激光扫描场焦点分析仪SFM精密测量了恩耐AFX激光器非高斯光斑，测得的光斑强度平均分布非常接近于粉末床上沉积的能量分布。

硅光是以光子和电子为信息载体的硅基电子大规模集成技术，能够突破传统电子芯片的极限性能，是5G通信、大数据、人工智能、物联网等新型产业的基础支撑。光纤到硅基耦合是芯片设计十分重要的一环，耦合质量决定着集成硅光芯片上光信号和外部信号互联质量。耦合过程中最困难的地方在于两者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式约为几百纳米，而光纤中则为几个微米，几何尺寸上巨大差异造成模场的严重失配。准确测量耦合位置质量及硅光芯片内部链路情况，对硅光芯片设计和生产都变得十分有意义。光纤微裂纹诊断仪（OLI）对硅光芯片耦合质量和内部裂纹损伤检测，非常有优势，可精准探测到光链路中每个事件节点，具有灵敏度高、定位精准、稳定性高、简单易用等特点，是硅光芯片检测不二选择。OLI测试硅光芯片耦合连接处质量使用OLI测量硅光芯片耦合连接处质量，分别测试正常和异常样品，图1为硅光芯片耦合连接处实物图。图1硅光芯片耦合连接处实物图OLI测试结果如图2所示，图2（a）为耦合正常样品，图2（b）为耦合异常样品。从图中可以看出第一个峰值为光纤到硅基波导耦合处反射，第二个峰值为硅基波导到空气处反射，对比两幅图可以看出耦合正常的回损约为-61dB，耦合异常，耦合处回损较大，约为-42dB，可以通过耦合处回损值来判断耦合质量。（a）耦合正常样品（b）耦合异常样品图2 OLI测试耦合连接处结果OLI测试硅光芯片内部裂纹使用OLI测量硅光芯片内部情况，分别测试正常和内部有裂纹样品，图3为耦合硅光芯片实物图。图3.耦合硅光芯片实物图OLI测试结果如图4所示，图4（a）为正常样品，图中第一个峰值为光纤到波导耦合处反射，第二个峰值为连接处到硅光芯片反射，第三个峰为硅光芯片到空气反射；图4（b）为内部有裂纹样品，相较于正常样品再硅光芯片内部多出一个峰值，为内部裂纹表现出的反射。使用OLI能精准测试出硅光芯片内部裂纹反射和位置信息。（a）正常样品（b）内部有裂纹样品图4.OLI测试耦合硅光芯片结果因此，使用光纤微裂纹诊断仪（OLI）测试能快速评估出硅光芯片耦合质量，并精准定位硅光芯片内部裂纹位置及回损信息。OLI以亚毫米级别分辨率探测硅光芯片内部，可广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

目前在光伏业界，正在进行一项重大努力，以提高光伏和发光应用中所用半导体的效率并降低相关成本。这就需要探索和开发新的制造和合成方法，以获得更均匀、缺陷更少的材料。无论是电致还是光致发光，都是实现这一目标的重要工具。通过发光可以深入了解薄膜内部发生的重组过程， 而无需通过对完整器件的多层电荷提取来解决复杂问题。HERA高光谱照相机是绘制半导体光谱成像的理想设备，因为它能够快速、定量地绘制半导体发射光谱图，且具有高空间分辨率和高光谱分辨率的特性。硅太阳能电池的电致发光光谱成像光伏设备中的缺陷会导致光伏产生的载流子发生重组，阻碍其提取并降低电池效率。电致发光光谱成像可以揭示这些有害缺陷的位置和性质。"反向"驱动太阳能电池（即施加电流）会产生电致发光，因为载流子在电极上被注入并在有源层中重新结合。在理想的电池中，所有载流子都会发生带间重组，这在硅中会产生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶体结构中的缺陷会产生其他不利的重组途径。虽然这些过程通常被称为"非辐射"重组，但偶尔也会产生光子，其能量通常低于带间发射。捕获这些非常罕见的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本实验中，我们使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常适合测量硅发光衰减。测量装置如图1所示：HERA安装在三脚架上，在太阳能电池上方，连接到一个10A的电源。640×512像素的传感器安装在样品上方75厘米处，空间分辨率约为250微米。图1. 实验装置最重要的是，HERA光学系统没有输入狭缝，因此光通量非常高，是测量极微弱光发射的理想选择。图2.A和2.B显示了两个波长的电致发光（EL）图像：1150 nm（带间发射）和1600 nm（缺陷发射），这是4次扫描的平均值（总采集时间：5分钟）。通过分析这些图像，我们可以看到，尽管缺陷区域的亮度远低于主发射区域，但它们仍被清晰地分辨出来。此外，具有强缺陷发射的区域的带间发射相对较弱。我们可以注意到有几个区域在两个波长下都是很暗的；这可能是由于样品在运输过程中损坏了电池造成的。图2.C中以对数标尺显示了小方块感兴趣区域（图2A和2B中所示）的光谱。图 2.A 和 B：两个选定波长（1150 nm 和 1600 nm）的电致发光（EL）图像。C：A和B中三个不同区域对应的电致发光光谱（图像中的彩色方框）。金属卤化物钙钛矿薄膜的光致发光显微研究通过旋涂等技术含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太阳能电池和LED。这些方法面临的一个挑战是在微观长度的尺度上保持均匀的成分。光致发光显微镜是表征这种不均匀性的一个特别强大的工具。HERA高光谱相机可以连接到任何显微镜（正置或倒置）的c-mount相机端口，并直接开始采集高光谱数据，无需任何校准程序。图3. 与尼康LV100直立显微镜连接的HERA VIS-NIR。在本实验中，我们使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立显微镜（图3）来表征两种卤化物前驱体合金的带隙分布。将两种卤化物前驱体合金化的优点是能够调整材料的带隙；然而，这两种成分经常会发生逆混合，从而导致性能损失。本实验的目的是检测这种逆混合现象：事实上，混合比的局部变化会改变局部带隙，从而导致发射不同能量的光子。在这种配置中，激发光来自汞灯，通过带通滤光片在350 nm处进行滤光，并通过发射路径上的二向色镜将其从相机中滤除。HERA的高通量使其能够在大约1分钟的测量时间内收集完整的数据立方体（130万个光谱）。图4.样品的光谱综合强度图（A：全尺寸；B：放大）。图4.A和4.B分别显示了所有波长（400-1000 nm）总集成信号的全尺寸和放大图像，揭示了长度尺度在1 µm左右的明亮特征。当我们比较亮区和暗区的光谱时（图5.B中的黑色和红色曲线），我们发现暗区实际上也有发射， 不仅强度较低，而且波长中心比亮区短。事实上，光谱具有双峰形状，很可能与逆混合前驱体的发射相对应。图5.A的发射图清楚地显示了带隙的这种变化。我们现在可以理解为什么低带隙区域看起来更亮了--载流子可能从高带隙区域弛豫到那里，并且在发生辐射重组之前无法返回。图5.A：显示平均发射波长的强度图。B：亮区和暗区的发射光谱（正常化）。东隆科技作为NIREOS国内总代理公司，在技术、服务、价格上都具有优势。如果您有任何产品相关的问题，欢迎随时来电垂询，我们将为您提供专业的技术支持与产品服务。

——该新系统可轻松整合时间分辨荧光显微镜方法PicoQuant运用公司最新的突破性技术彻底改变了显微镜技术，为全球研究人员提供了极大的帮助。PicoQuant最近开发的尖端单光子计数共聚焦显微镜Luminosa荣获LASER World of PHOTONICS颁发的生物光子学和医学工程类创新奖。颁奖仪式于2023年6月27日在德国慕尼黑举行的LASER World of PHOTONICS活动期间举行。Luminosa将最高的数据质量与极其简单的日常操作相结合。它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。创新奖由Europa Science和LASER World of PHOTONICS组织。Luminosa 是一款将超高数据质量与超简日常操作相结合的单光子计数共聚焦显微镜。 它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。 它是一个真正的显微镜系统，每个人都可以依赖。产品特点：• 全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜• 激光波长从375到1064 nm可选• VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验• 电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”• 扫描选项：FLIMbee 振镜扫描和压电物镜扫描• 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元• • 一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能• 借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM 和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果产品应用：• 单分子水平的动态结构生物学• 相分离驱动的细胞机制• 环境传感• 细胞膜动力学和结构的映射核心方法：• 荧光寿命成像 (FLIM)• FLIM-FRET – 基于寿命的 Förster 共振能量转移• smFRET – 单分子 Förster 共振能量转移• 荧光相关光谱 (FCS)• 荧光寿命相关光谱 (FLCS)• 荧光互相关光谱 (FCCS)• 各向异性成像武汉东隆科技有限公司是德国PicoQuant公司国内总代理，如需了解产品更多详情，请随时联系我们!

光纤弯曲检测仪OLI：稳定可靠 ， 检测高效 Q：光纤可以弯曲吗？A：答案是可以的， 因为在布线的过程中，网络不弯曲几乎难以实现，所以光纤可以弯曲 ，但必须保证在一定弯曲范围内，才能将损耗降至最低。光纤弯曲的问题在实际项目中经常会发生，在项目中光纤弯曲，有些操作人员，对光纤的可弯曲参数并不了解，因此担心会不会影响光纤的传输。当光从光纤的一端射入，从另一端射出时，光的强度会减弱，这意味着光信号通过光纤传播后，光能量衰减了一部分。这说明光纤中有某些物质或因某种原因，阻挡光信号通过。这就是光纤的传输损耗。只有降低光纤损耗，才能使光信号畅通无阻。       光纤对弯曲非常敏感，过度弯曲 = 光溢出。如果弯曲过大，大部分光都会从涂层溢出。单模光纤比多模光纤对弯曲损耗更敏感。然而，光纤弯曲确却有一定的限制，不同的弯曲半径、不同的光纤类型等，光纤弯曲特性的表征也会不一样。光纤的传播方式主要是全反射原理。光信号于光纤垂直端射入，在与光纤的轴心线重合时沿轴心线向前传播，如果光纤的弯曲度过大，就会造成一部分的光信号无法通过形成弯曲损耗。       如何避免光纤弯曲损耗，检测弯曲受损的情况？东隆集团自研的OLI光纤微裂纹检测仪，就用于检测光纤弯曲特性。图1. OLI低成本光学链路诊断系统OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗， 进而判断此测量范围内链路的性能。以下是OLI检测单模光纤，弯曲三种不同程度（弯曲半径：2.5mm、3.5mm、5mm）光信号反射的回波强度。图2.光纤弯曲半径2.5mm测试结果 图3.光纤弯曲半径3.5mm测试结果图4.光纤弯曲半径5mm测试结果因此，上述结果表征光纤弯曲会影响光信号的回波强度。OLI光纤微裂纹检测仪可用于该回波强度测试，该仪器高精度探测能力，可以实现对于微小裂纹的高精度检测和定位，为光学器件的生产和检测提供了有效保障。

2023年6月21日，PicoQuant有幸邀请到了黄劲松博士，并将在线上组织一场邀请研讨会。他将探讨电子缺陷在确定光伏器件效率和稳定性方面的关键作用，并解释如何利用FLIM（荧光寿命显微成像）和电容特性测量来了解钙钛矿中缺陷的化学本质。在本次网络研讨会中，黄博士将讨论电子缺陷在决定光伏器件的效率和稳定性方面所起的关键作用。他将重点介绍金属卤化物钙钛矿太阳能电池中缺陷消除和钝化策略所取得的进展，这些电池近年来功率转换效率迅速提高。黄博士还将解释如何使用FLIM和基于电容的测量来直接可视化缺陷对材料物理性能的影响。他将介绍几项使用这些技术来回答关键问题的研究，例如缺陷的密度和化学性质，以及晶界是否与体缺陷一样良好。本次网络研讨会将是了解钙钛矿太阳能电池最新研究技术并与该领域领先专家互动的绝佳机会。网络研讨会时间：2023年6月21日欧洲中部夏令时：14:00~15:00（UTC+2，柏林时间）演讲嘉宾：黄劲松博士，美国北卡罗来纳大学黄劲松目前是北卡罗来纳大学教堂山分校的Louis D. Rubin, Jr.杰出教授。他于2007年从加州大学洛杉矶分校获得材料科学与工程博士学位。他目前的研究兴趣包括用于能源、传感和消费电子应用的溶液处理电子材料。他已发表了约300篇论文、30多项专利、10多本书和章节。请点击报名入口直接填写！也可以关注“东隆科技”公众号，发送“网络研讨会”私信即可报名！

东隆集团自研的光纤微裂纹检测仪(OLI)是以白光干涉为原理, 利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。其测试长度由最初的6cm已升级至1m，我们研发工程师在攻克横向测试长度升级的同时也在不断研究拓展纵向探测深度，现在光纤微裂纹检测仪(OLI)测试深度已由-80dB正式升级至-90dB。图1.低成本光纤微裂纹检测仪(OLI)下面我们用光纤微裂纹检测仪（OLI）测试波分复用器，OLI能明显测试出器件内部-90dB附近反射峰值。图2.-90dB探测深度本次，光纤微裂纹检测仪(OLI)测量深度从-80dB新升级到-90dB，采用全新的光路设计以及更换链路模块，完成这次-90dB测试深度升级，设备测试性能和稳定性都有所提升，因此光纤微裂纹检测仪(OLI)1m测试长度搭配-90dB的探测深度能更大程度满足客户测试所需。光纤微裂纹检测仪又称低成本光学链路诊断系统(OLI)，该系统通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能，其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-90dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。产品特点：▪ 超高采样分辨率和定位精度▪ 超宽动态范围▪ 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境▪ 可定制扫描测量长度▪ 支持多通道测量升级产品应用：▪ 光纤微裂纹检测▪ 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测▪ FA光纤阵列链路性能检测▪ 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测

——新型基于单分子级别荧光共振能量转移(smFRET)的动态结构生物学共聚焦显微镜系统量化单分子和时间分辨荧光技术，为很多生命科学与材料科学领域提供了新的视野。迄今为止，因为其数据采集和分析需要具备较为专业的背景知识，使得该技术的普及非常缓慢。现在，PicoQuant可以提供一款全新的共聚焦显微系统——单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa，它具备先进的软硬件组合，在简化日常操作流程的前提下，能有效的为操作者呈现高质量的实验数据。其配备的软件为每种应用技术都设定了标准化的引导操作流程。本文将为您介绍单光子计数共聚焦显微镜Luminosa系统如何简化单分子荧光共振能量转移(smFRET)的实验过程。单光子计数和计时应用开启了一个全新的实验维度共聚焦荧光显微镜在过去四十年中越来越受欢迎，因为其可视化动态过程和细胞结构，使其成为一种用于分子、细胞和发育生物学的常规主力仪器。除了成像之外，点测量相关的实验方法，例如荧光相关光谱(FCS)和单分子荧光共振能量转移(smFRET)也在生物物理学领域日渐普及。最近发展起来引入时间分辨的实验方法更是颇为引人注目。对荧光基团荧光寿命的测量，揭示了新的信息维度，可以和光谱信息相互补充。每个荧光基团的荧光寿命信息是独特的，因此可以作为多重检测的识别特征。它同时也可以被单分子间的荧光共振能量转移所影响，例如，由于受体的存在导致供体寿命下降而反应出的荧光共振能量转移效率。迄今为止，使用时间分辨荧光技术的门槛相对较高，需要专业的背景知识。而全新的单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa大大降低了使用门槛，并且将多种时间分辨工具集成统一。并为以下研究领域提供新的视野:▪单分子级别的动态结构生物学▪相位分离引起的细胞机制▪环境监测▪细胞膜的动态和结构成像▪功能性的纳米囊泡特性检测▪研究单分子级别下的化学反应▪先进材料的特性表征▪质量和稳定性检测在这些研究领域中，实验复现是一个难题。可能的原因之一在于所使用的显微方法的细节描述不充分。为了提升准确性，可重复性以及实验质量，通过显微系统的自动化来减少人为误差是一个潜在的可行方案，例如，硬件部件的自动化，以及将传感单元集成到智能软件中。这也增加了成像系统的易用性，总而言之，为研究人员节省了宝贵的时间和材料。此外，自动化提高了通量，甚至开辟了新的实验可能性，如延时成像、多位置成像或多点时间轨迹。直观的工作流程，易于使用单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa在寿命测量领域有着最佳的性能表现。该显微系统同样对于单分子灵敏度进行了优化，可以进行单分子级别的各种实验。我们通过MicroTime200系统的实验经验设计了这个全新的显微镜系统，并为它挑选了一批最佳硬件组合。通过精简和优选后的光学元件使得该系统达到了极高的灵敏度水平。用户既可以选择使用高速的振镜系统进行扫描成像，也可以一键切换为压电平移台的物镜扫描模式。这种切换功能目前在其他显微系统中是没有的。压电扫描成像避免了振镜扫描模式下的信号损失，根据波长的不同，大约可以提升20-30%左右的光子信号。用户同时也可以选择时间响应更优秀的混合式光电倍增管探测器，或者高探测灵敏度的单光子雪崩二极管作为定制配置。超简单的界面操作流程单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa软件是从头开始创建的。它的设计使其工作流程简单快捷，使用户能够更加专注于样品特性本身。良好的交互界面布局，清晰排列的界面仅显示与每个应用相关的参数，保证了测量数据的重复精度。单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa软件包括smFRET功能，FCS荧光相关光谱，以及时间分辨成像功能，同时也具备有自定义测量和分析模式。系统只需单击一个按钮，在不到一分钟的时间内，便可完成无样品自动对准。对准非常准确，无需进一步优化即可直接进行FCS荧光相关光谱测量，所以通过简单的操作就可以确保系统始终处于相同的最佳状态。开始操作时，用户选择在下一个实验中使用哪种测量技术方法。软件中清晰排列的软件界面仅显示该类型测量所需的参数，从而将意外错误的风险降至最低。根据选择样品中存在的荧光团，硬件会自动正确配置。然后根据实验环境分配分析通道。大多数商用LSM共聚焦显微系统中已经提供了类似的功能，但是现在还设置了对时间分辨测量很重要的其他参数（例如激光的重复频率），从而减少对用户所需专业知识的要求。设置的保存和加载，保证了测量的可重复性。此外，适当的原始数据与实际数据一起保存，方便以后查询使用。图2. 使用532nm和640 nm脉冲交错激发和双通道检测的smFRET实验的硬件和分析设置屏幕截图，产生三个逻辑分析通道。激发光的功率校准模块同时可以提供设置和显示激发功率(单位μw，如图2)的功能，并且不需要额外的功率测量设备。自动调节耗时不到十秒，而且可以在不移动样品的情况下连续进行。参考文献[2]表明了激发光强的精确控制在可重复精度中的重要性，例如它会影响到光漂白，光毒性等等，从而在结果中引入不确定性。 这个问题对实验的影响非常大， QUAREP - LiMi (光显微镜质量和重复精度评估组织)也将激发光功率的控制放在工作的首位。在实验进行测量时，会实时显示多个在线预览。这样用户就可以把控样品的情况，从而进一步进行正确的采集参数设定。在线实时分析实际上是一种动态帮助信息，旨在提高采集到的数据质量。新软件结合了用于荧光寿命成像(FLIM)，荧光相关光谱(FCS)和单分子检测的GPU加速算法。 强大的算力使得其可以实现自动分析程序，并将有关实验类型、硬件配置、荧光团和数据维度的信息考虑在内，因此无需用户交互即可获得初始结果。尽管如此，原始数据保持不变，以便于以后可以使用不同的参数设置重新分析。基于动态结构生物学的单分子荧光共振能量转移(smFRET)图3. 典型的smFRET应用 - 研究蛋白和DNA的作用(图片来自biorender.com)单分子研究，以及更具体的smFRET方法学，已成为研究蛋白质和核酸动态结构变化的标准工具。这些实验方法可以揭示在纳秒到秒级别的时间维度上的动态活动过程。例如成链动力学，蛋白的结合，折叠，探测变构信号，寡聚化以及聚集现象，如图3所示。实验结果对其他实验方法，例如电镜，核磁共振等，进行了有效的补充。这样完整的数据就可以被归档到到综合结构模型的存档系统PDB-Dev [3]。近年来，内在无序蛋白质的生物学相关性研究越来越多，突出了这些方法的力量。smFRET测试既可以在分子自由移动的溶液中进行，也可以对分子固定在盖玻片表面上的样品实施探测。单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa为两种样品分别提供了专门的工作流程。选择正确的FRET对信息后，硬件会自动切换到对应的配置，即设置激发波长和功率，启用供体和受体的脉冲交错激发，并选择正确的检测器和发射滤光片，如图2所示。此外，系统会根据实验条件选择分析通道：供体激发后的供体发射，供体激发后的敏化受体发射和直接受体激发后的受体发射作为对照。可以选择不同的停止条件进行采集。例如，在分子溶液样品测试时，停止条件可以是爆发发射数量、总时间、爆发频率的减少量等等。这有助于收集具有充分统计数据的一致数据集。采集数据时会显示四种在线数据预览: FRET效率（E）与化学计量（S）的直方图、爆发直方图、强度时间轨迹和TCSPC直方图，以及用于供体和受体寿命衰减的在线拟合。E和S在线计算并显示在E/S直方图中。根据[4]中的数据处理标准步骤，这些在线数据通过四种因子进行校正。这些校正因子分别是：光谱串扰因子α，激发波动因子β，探测效率因子γ以及直接激发因子δ。校正后以及未校正数据都在图4中有所显示，这样就可以评估校正步骤带来的影响，这些因子在随后都可以手动进行修改。图4. E/S直方图将单个FRET爆发的值显示为单个点，绿色为校正后的曲线，红色为未校正曲线。分子穿过固定的激光聚焦光斑时，所发出的荧光信号被采集。这些信号可以连同共聚焦针孔大小来确定聚焦光斑的体积。观察时间窗口，例如，爆发持续时间是由聚焦体积来决定的。在衍射极限级别的聚焦体积下，极短时间内就有高量级的光子产出，可以被用于监控快速的分子动态过程。增大聚焦体积的同时会延长爆发持续时间，如图5所示。这样就可以观察慢速分子的动态过程和测量大分子较缓慢的扩散特性。总体上说，如[5]中表述的，“更大的聚焦体积，结合高功率的激发，每个爆发持续时间能产出最高的光子量级”。单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa能够根据激发波长的不同，将观察体积从衍射极限的3倍增加到6倍。在软件中点击一个按钮，可以减小激发光束直径，对物镜进行下充，相应调整光路和共焦探测针孔的大小，从而增加有效观测体积。图5. 爆发持续时间对比图，红色为较大聚焦体积下，蓝色为较小聚焦体积下。在研究分子固定在表面的样品时，用户既可以选择压电扫描台来获得更多的光信号，也可以选择振镜扫描方式来快速成像。样品自动保持对焦，而平铺和拼接可实现大面积成像，如图6所示。图6. 用Cy3B和Atto647N标记的单DNA折纸固定在表面上。九张成像图片拼接成了一张21x21µm的图像。右图：单张小图的FLIM分析结果。上图：平均寿命图。下图：多指数寿命拟合结果叠加图。样品数据由弗里堡大学，物理学院提供。采集到一个成像图块后，通过自动算法在特定标准下，测算出单分子的位置。随后对这些单分子进行逐个探测，并在停止条件达到之前记录其光强随时间变化的数据。然后，下一个图块区域将被扫描和成像，以此类推。通过这种方式，可以轻松获得具有足够统计数据的数据集。讨论和展望单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa的自动化工作流程提高了系统的易用性并减少了人为错误，从而节省了研究人员的宝贵时间和样品材料。重要的是，自动设置的参数值可以保存为元数据，而在手动系统中，必须手动记录这些值。综上所述，与手动操作的系统相比，该系统提高了实验的精确度、可重复性和实验质量。但是，审查配置和设置（例如染料数据库条目或丢弃事件的阈值）以确保它们适合新实验仍然是很重要的。许多专业的知识应用于制定系统的工作流程和参数设定中，所以实际使用人员并不需要具备相关专业知识。即便如此，在样品制备和数据阐释方面，用户仍然需要一定的知识储备。PicoQuant持续研发新的荧光显微镜科研工具，例如光谱分辨FLIM系统，结合了寿命和光谱信息，可同时并行多目标成像，详情参阅文章[6]和[7]。PicoQuant同时活跃于各种与学术界合作的研究项目中，来拓展新型显微系统的概念和实验方法。例如，NG-FLIM计划，旨在实现一种高空间分辨率和高时间分辨率的显微系统，这样可以更加简便和精确的在活体细胞和组织中快速观察膜受体的情况。不同的光学方法再结合起来以提高成像的对比度，基于深度学习的数据处理方式用于自动化的数据评估。这项计划的参与者包括PicoQuant、Nanotag Biotechnologies、Arivis、哥廷根大学以及哥廷根中心医药大学。该计划由德国联邦教育和研究部的”Photonics Research in Germany”项目(项目编号 13N15324)拨款。另一个例子就是纠缠态的双光子吸收，可以被应用于化学选择性荧光显微镜。PicoQuant正与弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所、M Squared Lasers以及耶拿大学一起合作研究此主题。该方向同样由德国联邦教育和研究部支持，隶属于LIVE2QMIC(13N15953)研究项目。结论PicoQuant的新型单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa可以帮助研究者轻松的将单分子时间分辨荧光显微实验方法广泛应用于生命和材料科学研究领域，而不需要操作者本身具备丰富的经验。得益于新的软件功能与最先进的硬件相结合，并且更好地集成了硬件和软件，该系统以可重复的方式快速提供高质量的数据。这使研究人员能够自信地采用smFRET等新方法，从新的角度观察样品。[1] M.Baker: 1,500 scientists lift the lid on re-producibility，Nature 533 (2016) 452–454。[2] P.Montero Llopis et al.: Best practices and tools for reporting reproducible fluores-cence microscopy methods，Nat Methods 18 (2021)1463–1476。[3] E.Lerner，A. Barth，J.Hendrix et al.: FRET-based dynamic structural biology: Challenges， perspectives and an appeal for open-science practices.Ashok.(2021) eLife 10:e60416。[4] B.Hellenkamp，S.Schmid，O.Doros-henko et al.: Precision and accuracy of single-molecule FRET measurements – a multi-laboratory benchmark study，Nat Methods 15 (2018) 669–676。[5] G.Agam，C.Gebhardt，M.Popara et al.: Re-liability and accuracy of single-molecule FRET studies for characterization of struc-tural dynamics and distances in proteins.(2022)bioRxiv 2022.08.03.502619。[6] T.Niehörster et al.: Multi-target spectrally resolved fluorescence lifetime imaging mi-croscopy，Nat Methods 13 (2016) 257–262。[7] S.Rohilla et al.: Multi-target immuno-fluorescence by separation of antibody cross-labelling via spectral-FLIM-FRET，Sci Rep 10 (2020) 3820。德国PicoQuantPicoQuant由四位年轻的科学家和工程师于1996年成立，致力于发展真正为科学家所使用的光学仪器。该公司注重于在众多科学领域为各国科研工作者提供创新型和高质量的产品。 PicoQuant不忘初衷，砥砺前行，现已成为时间分辨光学测量领域的领导者。关于作者Maria Loidolt-Krüger曾就读于凯泽斯劳滕大学生物物理系，并在哥廷根普朗克研究所的Stefan Hell小组获得硕士和博士学位，专业方向围绕STED显微系统的进一步开发。2018年毕业后即加入PicoQuant公司，成为显微应用专家。2022年作为PicoQuant公司科学内容创作者。同时也在柏林应用科技大学兼职讲师，主要方向为光显微学。武汉东隆科技有限公司是德国PicoQuant公司国内总代理，如需了解以上产品更多详情，请随时联系我们！

武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪（OCI）是基于光频域反射技术（OFDR），单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解，光频域反射技术（OFDR）测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪（OCI）插损测量动态范围为18dB，反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时，超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没，给测试带来误差。针对上诉情况，本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。首先，测试样品为可调光衰减器，借助环形器测试大插损装置如图1，将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上，1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入，3端口输出，经过待测样品后进入端口1，最后从端口2返回OCI仪器。图1.借助环形器测试大插损装置示意图OCI测试整个光链路结果如图2，距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值，对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量，而本链路中借助环形器是透射式测量，所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时，该位置积分回损为-25.69dB，是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图第二，使用OCI单独测试光纤环形器，损耗测试装置如图3。图3.环形器损耗测试装置示意图图4.OCI测试环形器结果图测试结果如图4，从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值（实际光纤环形器光链路长度为3.72176m），回损为-2.55dB，是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。第三，使用功率计测试可调光衰减器插耗，测试装置如图5，测得可调光衰减器插耗为23.33dB，OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图改变可调光衰减器插损，按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值，下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB，且OCI测试值均比功率计测试值大，这是由于功率计测试链路时，比OCI测试链路多一个FC法兰。因此，借助光纤环形器，高分辨率光学链路诊断仪（OCI）可以透射式测量大插损链路总体损耗，测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗，OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损（RL）的动态范围，动态范围高达60dB以上时，可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量，进一步扩展OFDR设备使用场景。

拉曼光谱仪是什么？拉曼光谱仪不仅需要将高强度的激光输送到非常小的焦点，同时还需要灵敏地检测不到百万分之一的散射光子。那么，拉曼光谱仪如何将光传递到样品并从样品中收集光，对收集的数据质量和整套系统的最终灵敏度具有重大影响。拉曼光谱仪类型多种可选，比如光纤耦合探头&光谱仪、带定制光学元件的自由空间耦合光谱仪，或带集成激光器的光谱仪系统——使用者会根据样品类型、环境和使用需求对拉曼光谱仪进行选择。在这篇技术讲解文中，我们将根据多个示例，讨论每种耦合方法的优缺点，并针对如何获得最佳结果进行探讨。无论您的使用需求如何，Wasatch Photonics都能针对您的应用需求，提供优化的样品耦合选项。光纤耦合光谱仪和探头通过光纤对激光的快速耦合及准直，大大地简化了拉曼系统的安装。拉曼探头采用SMA端口与光谱仪连接，采用FC端口与激光器连接，只需快速旋转几下即可完成拉曼光谱仪的安装，并开始测量，这种简易的拉曼光谱仪工作模式，是现场工作的理想方式，因而非常有利于拉曼光谱仪在教学实验工作的展开。日常在测样时，无需精细调整，只需将样品对准光谱仪端口，探头输出的光束则直达样品，这样对于测量不规则形状的固体样品和生物样品非常有利，同时也可以与比色皿或SERS（表面增强拉曼光谱）基板配合使用。相比于自由空间光设计，光纤耦合的缺点是损耗更高。在光纤耦合结构中，由于激光引起的光纤内自发荧光也必须滤除，否则会给测量增加背景噪声。同时如果在探头设计中处理不当，未完全过滤的激光也可能造成同样的影响。那么，提高测量信噪比的一种方法就是要选择高效光谱仪，并使用数值孔径（NA）与光谱仪输入相匹配的拉曼探头。Wasatch Photonics的拉曼光谱仪使用f/1.3光学孔径，相比典型的f/3至f/4二极管阵列光谱仪能捕获更多的光，并通过使用基于衍射极限、透射增强（AR涂层）光学器件的高效光学设计来保留并检测更多的光。另外 ，Wasatch Photonics的拉曼光谱仪具有0.36 NA输入，与标准0.22 NA多模光纤对接时，输入光不会完全填充通光孔径。虽然在与0.22 NA探头配合使用时仍然可以提供良好的信噪比，但当与Wasatch Photonics的0.36 NA拉曼探头配合使用时，效果会更好。Wasatch Photonics的拉曼探头还能通过精细的滤波实现最大的传输和耦合效率，以及最小的背景噪声，再搭配Wasatch Photonics的光谱仪一起使用时即可提供极高的信噪比，并且能在所有可用的激发波长下使用。★Wasatch Photonics的光纤耦合拉曼探头、光谱仪和激光器均从可见光到近红外可选。自由空间耦合光谱仪和定制光学元件自由空间耦合光谱仪有一个圆柱形耦合端口，可提供0.36 NA视场（~42°锥体），这就要求使用者完成激光与样品、样品到光谱仪输入端口的所有准直工作，是非常不适合现场使用的。但这种配置又最常用于研究人员和OEM系统设计人员，他们希望对采样光学器件的设计（从光斑尺寸到工作距离）拥有完全的自主控制权。而Wasatch Photonics设计的低f/#光谱仪不仅为这些用户提供了高品质的信号，还大大地提高了光通量和灵敏度，因此这种自由空间耦合光谱仪在批量生产的生产线或扫描应用中非常有用。★Wasatch Photonics所有的拉曼光谱仪均能提供自由空间耦合输入版本。带自由空间耦合的集成系统Wasatch Photonics的集成拉曼系统可以使用户在尽可能小的体积内获得最佳的信噪比和灵敏度，其波长覆盖的范围从可见光到近红外可选。集成拉曼系统还简化了用户的操作，通过软件集成激光控制，以确保使用安全和操作方便，最终实现自动或远程测量。同时，还优化了集成拉曼系统的样品耦合光学元件，在标准的50 mm 工作距离上提供25 μm的激光光斑。使拉曼信号采集利用光谱仪的全f/1.3视场，在最短的采集时间内获得最大的灵敏度。OD 6滤光片可阻止不需要的散射光反射回系统，拉曼信号谱宽高达~200 cm-1（主要取决于激发波长）。同时，Wasatch Photonics使用高效的光学器件、精细滤波和内部杂散光管理，保证集成系统具有低背景光和低噪声，并且能更好地匹配NA探头/光谱仪系统设计。如上图所示，在830 nm激光激发环己烷的研究中可以看出，集成系统在信号水平方面优于模块化光谱仪/探头系统。通过下面的案例研究可以看出，集成拉曼系统对于检测极限方面的提升具有切实可行的优势。案例研究：模块化探头VS集成系统检测极限，激光器@1064 nm为了比较基于探头与集成系统的绝对灵敏度差异，此处使用带有快速安装比色皿座的WP 1064L拉曼系统与配置了1064 nm激光器和RP 1064拉曼探头的模块化WP 1064光谱仪进行水中异丙醇检测极限（LOD）和定量极限（LOQ）的测试。使用带有快速安装比色皿座，充分利用光谱仪的整个f / 1.3孔径，并最大限度地减少光耦合损耗，从而产生比探头耦合配置更高的信号。为了量化灵敏度的增强，此时测量了浓度为0.1 – 100%异丙醇在水中稀释的样品，并依据“技术说明文件”中“荧光检测极限”描述方法计算出检测极限（LOD）和定量极限（LOQ）。在本次研究中LOD定义为信噪比（SNR）=3：1时的浓度，LOQ定义为SNR=10：1时的浓度。与基于探头的系统相比，集成拉曼系统的LOD提高了2倍，LOQ也有部分提高。由此可见，Wasatch Photonics集成拉曼系统是实验室使用和概念验证的理想选择，虽然如此，Wasatch Photonics也为OEM集成，提供更精简的定制光学设计和更小巧的系统尺寸。★Wasatch Photonics会不断扩展集成拉曼系统产品线，持续为您带来更多惊喜。Wasatch Photonics始终关注您在拉曼光谱系统设计时，希望拥有完整自主性和最大灵活性的想法。这就是为什么Wasatch Photonics在量程、分辨率、探测器冷却和样品耦合提供如此多定制化选项的原因——用Wasatch Photonics的建议和经验以及技术说明来支持每个选项，从而指导您的系统设计。让Wasatch Photonics帮助您创建最适合您需求的系统。如需了解产品更多详情，请随时联系我们！

LDH-FA系列的光纤放大皮秒脉冲激光头是基于主振荡光纤放大器（MOFA）和可选变频的技术。主振荡器产生的红外皮秒脉冲，采用来自PicoQuant公司先进的增益开关技术，使其重复频率可达80 MHz并且可调。种子激光器的输出直接连接到单级或双级光纤放大器上，经过几个dB放大的同时，仍可保证种子光的各项特性，包括波长、偏振和脉宽等。▪ 595nm@1mW脉冲激光头▪ 532nm@50mW双模式激光头（脉冲模式和连续模式）▪ 775nm@100mW脉冲激光头▪ 可选波长: 266, 355, 515, 531, 560, 766, 1030，1064, 和1532 nm到1560nm▪ 脉宽低至70 ps (FWHM)▪ 平均输出功率在 1 mW ~450 mW (波长相关)▪ 重复频率高达 80 MHz▪ 准直光束或带FC/APC 光纤接头的保偏光纤输出主要应用：LDH-FA系列光纤放大皮秒脉冲激光头可用于各种需要短脉冲宽度、高重复频率、重复频率可调，并且需要稳定脉冲能量输出的应用中，例如:▪ 时间分辨荧光测量▪ 荧光寿命成像 (FLIM)▪ 磷光寿命成像 (PLIM)▪ 荧光相关光谱 (FCS)▪ 荧光寿命相关光谱 (FLCS)▪ 荧光共振能量转换 (FRET)▪ 受激发射损耗（STED）荧光显微▪ 双焦点荧光相关光谱 (2fFCS)▪ 脉冲交替激发 (PIE)▪ 荧光各向异性 (偏振相关)▪ 单线态氧▪ 激光切割/激光烧蚀▪ 时间分辨磷光测量 (TRPL)▪ TRPL 成像▪ 镧系元素上转换▪ LIDAR/Ranging/SLR▪ 反聚束测量▪ 单分子光谱 / 探测▪ 3D聚合★ 红、橙、黄、绿、紫多波长可选经过放大输出的红外激光，因其较高的脉冲能量可以进行有效的波长转换进行使用，例如，腔外二倍频(SHG)，三倍频(THG)，甚至四倍频(FHG)。以这种方式，可以产生266、355、515、531、560、595、766或775nm的皮秒脉冲激光，这些激光器重复频率可调，且最高重复频率可达80 MHz，脉冲宽度低至100 ps (FWHM)。以LDH-P-FA-355为例，通过条纹相机对其输出355 nm激光的脉冲宽度(FWHM)进行测量，获得其脉冲宽度为47.4 ps。★ 平均功率高达450mW该激光头有两种版本可供选择，一种是带有FC/APC光纤连接器的保偏单模光纤输出，另一种是准直空间光输出。531、595、1030、1063或1530 nm都有光纤耦合版本可选，并且在最大重复频率的情况下，平均输出功率高达50mW(1030和1063 nm)。266、355、515、531、560、766、775、1062和1532nm都有准直空间光输出版本可选。这些激光头可达到的平均功率水平取决于放大级的数量和可选倍频级的效率，对于1532nm的激光头来说，在最大重复频率下输出功率可以达到450mW。★ 重复频率高达80MHz大多数LDH-FA系列的激光头的最高重复频率都设计为80MHz。最小重复频率取决于对应激光头使用的光纤放大器结构，一般范围从1KHz到1MHz。对于光纤耦合版本，最低重复频率可以降低到10KHz。在MHz范围内的重复频率驱动信号可以由PDL系列激光器驱动器轻松实现。★ 光纤耦合除了355nm以下的激光头，LDH-FA系列的激光头可以通过配置不同的光纤耦合器，选配不同的耦合光纤(如：多模、单模或保偏单模光纤)。对于大多数应用，我们推荐使用带FC/APC连接头的光纤，因为它可以有效的减少反射光，保证激光工作的稳定性。有关详细信息，请参阅我们的光纤耦合解决方案。此外，一个LDH-FA系列的激光头可以和另外4个LDH系列激光头通过我们的激光耦合单元(LCU)耦合进入一根传输光纤。★ 参数详情★ 波长范围▪ 下表根据最新生产激光头的数据进行定期更新。▪ 如需其它规格，如更短的脉冲宽度，更高的功率，取决于库存激光二极管的性能参数，可直接与我们联系。注明：①在最大重复频率下②准直范围有限③765nm~780nm之间任意波长的激光头可以接受定制（发货期相对较长）

在各种光纤干涉仪器中，要想得到最大的相干效率，就需要光纤传播光的偏振态十分稳定。一般光在单模光纤中传输实际上是两个相互正交的偏振基模，当为理想光纤时传输的基模是两个相互正交的二重简并态，而实际拉制中光纤会出现不可避免的缺陷，这种缺陷会破坏二重简并态导致传输光的偏振态发生改变，且随着光纤长度增长这种效应会越来越明显，这时最好的办法就是采用保偏光纤。保偏光纤就是保持光纤中基模的偏振态，最常见的是人为的在光纤中引入很大的双折射，使两个基模的传播常数相差很大，这样两个基模就不易发生耦合实现保偏。目前市场上应用最广的是“熊猫”型保偏光纤（如图1所示），它是以应力双折射为主的高双折射光纤结构，通过掺硼层的线应力经过光弹效应转换为折射率差，从而引起很高的双折射。图1. 熊猫保偏光纤结构而保偏光纤是有两个主要的传输轴，分别称为光纤的快轴和慢轴（如图2所示），其中快轴折射率小、光传输速度快，慢轴折射率大、光传输速度慢。图2. 快慢轴示意图如何在光纤制备、光器件制造及光通信链路精确测量快慢轴时延差？本文我们将使用OCI、OCI-V和OLI测量保偏光纤快慢轴时延差，用三台仪器对同一保偏光纤进行测试，再对比三者测试结果的区别。OCI1500、OLI、OCI-V测试论证①采用高分辨光学链路诊断仪OCI1500测量1m长的熊猫保偏光纤快慢轴时延差，设置空间分辨率为10μm，测量结果如图3所示。由于快慢轴传输光的速度不同，光从起点到光纤尾端的时间会不同，在测试结果上表现为两个峰值。测得快慢轴距离差为0.0003m，折射率为1.468200，根据 时延计算公式{t=(s*n)/c}可计算出快慢轴的实际时延为t=(0.0003*1.468200)/3*10^8=1.47ps。图3. OCI1500测试时延②采用低成本光学链路诊断仪OLI测量1m长的熊猫保偏光纤快慢轴时延差，测量结果如图4所示。测得快慢轴距离差为0.000289m，折射率为1.468200，根据时延计算公式{t=(s*n)/c}可计算出快慢轴的实际时延为t=(0.000289*1.468200)/3*10^8=1.42ps。图4. OLI测试时延③采用光矢量分析仪（OCI-V）测量1m长的熊猫保偏光纤快慢轴时延差，测量结果如图5所示。测得的时延差可以直接从图中读出为1.425ps,且随着波长的增大，保偏光纤快慢轴的时延会略微增大。图5. OCI-V测试时延以上显示OCI1500、OLI与OCI-V的测试结果最大仅差0.05ps，这说明三台仪器测量结果一致性很高。因此，使用OCI1500、OCI-V和OLI均能高精度地测试出保偏光纤快慢轴时延差，并且OCI1500和OLI在测试结果表现为一致，测试的保偏光纤快慢轴时延差都是扫频波长的群时延，而OCI-V测试结果为每个波长下的保偏光纤快慢轴时延差。同时OCI1500、OCI-V和OLI三台仪器测量结果误差均在0.1ps以内，基本认定三台仪器测量结果一致，且三个设备测量精度可相互印证。所以OCI1500、OCI-V和OLI对时延差的准确测量，对光纤制备、光器件制造及光通信链路具有非常重要的意义。

什么是OCT？OCT全称叫光学相干层析成像，是一种新型三维层析成像技术。OCT最早被应用于眼科领域，近年来随着技术的成熟与创新，逐步应用于更多医学领域。与传统的800 nm OCT成像相比，使用Wasatch Photonics CS841-28/800对眼睛进行超长范围成像可以更深入地穿透眼睛。OCT成像传统上是需要在单次扫描中使用更长的波长来探测大于几毫米的深度，因而带来了与NIR探测器相关的成本更高。为了解决这个矛盾，美国Wasatch Photonics公司开发了一种新型的OCT光谱仪Cobra-S 800，可以使用800 nm OCT实现高达12 mm的成像深度，为超长范围成像在眼科、医学和无损检测中的经济高效应用开辟了新的可能性。为什么要超长范围成像？在眼科，超长范围成像有利于检查从角膜到晶状体的整个前房，因为它可以在更短的时间内获得更完整的眼睛图像来评估眼睛健康状况。如果配置得当，它甚至可以对整个眼睛进行成像。它还有助于视网膜的宽场成像，其视网膜的曲率需要更大范围的成像深度，特别是在临床环境中，患者是不太可能保持静止。新型Cobra-S 800超长范围成像光谱仪CS800-831/28拍摄的眼睛、前房和晶状体图像。在医学上，远距离OCT对于血管内和胃肠道应用中的管腔成像非常有益。在这种情况下，感兴趣的结构可能距离成像导管还有几毫米，落在典型的OCT成像窗口之外。较长的成像深度可以更好地适应成像探头和感兴趣区域之间距离的可变性，从而有助于获得更好的成像结果。通常，成像更深的能力有助于宽场成像，因为可以在一次扫描中捕获曲面的完整轮廓和结构。这对于材料加工应用中的无损检测非常有用，在这些应用中，特定的切口或孔可能很深，以及用于增材制造中的复杂表面轮廓。面临的波长成本难题SD-OCT的成像范围取决于中心波长和光源的带宽。随着中心波长的增加，成像深度也会增加（以牺牲空间分辨率为代价）。传统上，当>5 mm成像深度时，1300 nm是首选波长。而Wasatch Photonics的Cobra 1300光谱仪系列能提供1.4-11.5 mm的成像深度（空气中），主要取决于带宽。然而，随着带宽的增加，成像深度会减小。因此，当需要更深的成像时，就必须使用较窄带宽的系统。尽管1300 nm OCT可以为许多结构的超长范围成像提供足够的深度，但这是有代价的。使用这种波长需要配合InGaAs相机，其价格比用800 nm SD-OCT的CCD或CMOS相机使用的成本高很多。如果通过转向更短的中心波长（CWL），光谱仪的成本可以降低约40%，但带宽（BW）也必须降低，以保持相同的空间分辨率。然而，当800 nm超长范围成像系统的带宽在30 nm以下时，在成像深度为12 mm时，这样就可以保持等效的空间分辨率。虽然可以增加光谱仪中光栅的色散来实现这一点，但光学设计还必须能够解析落在每个相邻像素上的光。这意味着极高的光谱分辨率需低于0.02 nm！如何使用Cobra-S进行800 nm的超长范围成像为了将超长范围成像的优势转化为800 nm SD-OCT，Wasatch Photonics运用在光谱仪设计方面的专业知识，开发了具有超精细光谱分辨率的OCT光谱仪。目前，正在申请专利的光学设计代表Cobra-S光谱仪系列中的最新型号CS800-841/28。它能够在以841 nm为中心的28 nm带宽上实现0.015nm分辨率。这足以使成像深度达到12 mm，将800 nm SD-OCT的范围扩大到原来的三倍。Wasatch Photonics新的Cobra-S超长范围成像型号旨在通过衍射极限光学元件和低串扰探测器，最大限度地减少衰减。当10 mm成像深度下的衰减为由于Cobra-S超长范围成像系列的中心波长较短，尽管在水中的吸收会更低，组织中的散射依然会更高。这可能会略微改变结构的对比度，并且在某些情况下会有一定的改善效果，即对于某些内部视网膜结构，例如神经节细胞，有更清晰的成像。用超长范围成像OCT开辟新世界通过在更具成本效益的工作波长下提供可比的图像分辨率，800 nm的超长范围成像OCT有可能为深度成像在眼科、医学和工业应用中开辟新的机会。如需了解产品更多详情，请随时联系我们！

近年来随着光通信的高速发展，市场上围绕着光通信的光器件种类众多、加上产品迭代快，所以对测量仪的要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域，其对仪表测量的精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑战，由此东隆科技经过多年的技术研发并攻克以上众多难题，于去年成功发布了国产多功能光矢量分析仪（OCI-V）。光矢量分析仪（OCI-V）是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该产品采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。光矢量分析仪（OCI-V）一经推出就受到目标用户的好评，同时也不断吸纳市场反馈意见，专注设备创新升级，不断优化设备性能，以提供给客户更优质的产品。而作为国产业内的先驱者企业东隆科技自研的光矢量分析仪于近日推出损耗80dB高动态范围测试选项。如下图所示：图1.60dB动态范围图2.80dB动态范围产品特点• 自校准• 测量长度：200m• 波段：C+L、O波段（可选）• 1秒内测量多种光学参数产品应用• 平面波导器件• 硅光器件• 光纤器件• 波长可调器件、放大器、滤波器测试参数• 偏振相关损耗PDL• 偏振模色散PMD• 插损IL• 群延时GD• 色散CD• 琼斯矩阵参数• 光学相位如需了解光矢量分析仪（OCI-V）更多详情，请随时联系我们！

近日，武汉东隆科技有限公司国内独家代理的意大利NIREOS公司推出了一款放大式硅基铟镓砷光电探测器SPIDER (Single-PIxel DEtectoR)。它具有可编程式增益控制功能，以及嵌入式24位数据采集系统。其包含的双色探测器不仅探测波长范围较大（320 nm到1700 nm），且可以实现光斑准直功能。其中，硅和铟镓砷光电二极管分别同时由两个互相独立的低噪声放大器放大，并具有8种可编程增益控制选择。据介绍，SPIDER在运行模式上拥有独立运行和连接电脑运行两种模式。第一种模式独立运行时，来自Si和InGaAs通道放大的模拟信号可以通过两个BNC接头直接读出，并通过按下设备背面的按钮，可以轻松的对两个通道的增益进行选择，并在内置的OLED显示屏上读取相应的设置。第二种模式连接电脑，当SPIDER通过USB连接到计算机时，可以通过可定制的软件控制界面来对设备进行全面控制（基于用户友好的DLL），得益于内嵌的24 bit数据采集系统，Si和InGaAs模拟输出信号同时被数字化，最高可达120 kSPS-24 bit，并被发送到计算机上实时显示。另外，SPIDER还包括3个GPIO引脚（通用输入输出），可用于产生或读取数字信号。这使得SPIDER可以控制简单的外部设备（如快门开/关）和读取开始/停止采集信号（如外部触发）。 在测试中，我们对商用硅光电二极管+商用16位ADC和SPIDER进行了对比，能清晰的看到SPIDER优秀性能，如下图所示：商用硅光电二极管+商用16位ADCSPIDER此外，SPIDER探测器与GEMINI干涉仪还可以完美搭配，主要用于采集320 nm到1700 nm的光谱信息。例如：下图所示在测试荧光汞灯光谱时，该光谱是一次测量的结果，光谱范围包含了3个倍频波段，没有任何高阶伪影，如果使用基于光栅的光谱仪，就会发现这些伪影。SPIDER 特点▪ 放大式探测器&模数转换器一体化设计▪ 使用单像素元件实现较宽的光谱覆盖▪ 高灵敏度（pW范围）▪ 高动态范围（109：1）▪ 提供即插即用软件和DLLs▪ 可选光纤耦合▪ 8种可编程增益选择▪ 双通道，24位ADC，高达120 kSPS/通道▪ 两个BNC接口用于模拟信号输出▪ 三个GPIOs（用于与外部设备轻松同步）▪ USB通信连接

一年之计在于春，万物复苏之际，如果您觉得现用的功率能量计需要更新或采购储备，以保证您后续的正常生产销售，不防在春天早做计划。东隆科技携手美国相干Coherent公司推出春季大促销活动，在套件组合、探头表头等产品均有很不错的价格。由于相干Coherent公司的货源一直都比较紧俏，因此我们提醒近期如有购买需求的用户，可别错过，趁此次春季大促，提前下单。促 销 时 间2023年2月20日—3月31日促 销 折 扣①以下套件组合均可享受14%的折扣②所有功率/能量计表头/探头单独均可享受10%的折扣（不能与折扣①重叠享有）套件组合激光功率计套件：PM150 + FieldMaxII-TO   系统套件： FieldMaxII-TOP + J-50MB-YAG激光功率能量计套件（含锂电池）：J-10MT-10KHZ: + LabMax-Touch激光能量计套件（含锂电池）：J-50MB-YAG+ LabMax-Touch激光功率计套件：PM10V1 TOP + FieldMaxII-TO激光功率能量计套件：PM150-50C TOP + FieldMaxII-TOP激光功率能量计套件（含锂电池）：J-50MT-10KHZ+ LabMax-Touch激光功率计套件： PM300F-50 + FieldMaxII-TO注：本次促销活动最终解释权归武汉东隆科技有限公司所有。

光纤微裂纹检测仪以白光干涉为原理，最初受限于延时纤的测量长度只能测试6cm，使得测试场景非常局限。经过3年多的技术钻研，在刚刚过去的2022年里，东隆科技研发工程师们攻克了这个难关，在光纤测量长度上实现了二连跳，1月测量长度从最初的6cm升级至12cm，10月测量长度从12cm升级至40cm。到了2023年年初，光纤微裂纹检测仪测量长度直接升级至1m，快速实现三级跳。然而我们每一次的系统技术优化升级，都是为用户提供更好的产品和服务体验。本次，光纤微裂纹检测仪测量长度升级到1m,不仅为用户解决匹配跳线、测试繁琐等问题。而且还能更大限度的包容待测样品，并为测试器件留有更大空间，让用户使用起来更便捷。此外，在设备测试性能和稳定性也有了质的飞跃，在升级长度过程中，会不断迭代已有的光路和模块，进行长时间的实验验证，以最优化的结构，提升设备测试效果为目的。下图为光纤微裂纹检测仪测量保偏光链路，该器件长0.955m,末端是保偏光纤，OLI能测试出由保偏光纤双折射引起的2个不同时延峰值。OLI以1μm的采样分辨率能清晰判别出链路中光模块的好坏以及光纤裂纹检测。保偏光链路测试图东隆科技推出的光纤微裂纹检测仪叫做低成本光学链路诊断系统（OLI），该系统通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗， 进而判断此测量范围内链路的性能，其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。低成本光学链路诊断系统（OLI）产品特点：▪ 1μm采样分辨率▪ -80dB动态范围▪ 1m测量长度产品应用：▪ 光纤微裂纹检测▪ 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测▪ FA光纤阵列链路性能检测▪ 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测

近日获悉，来自激光光束分析仪及功率计专业供应商德国Primes公司Stefan Wolf研发团队开发的ScanFieldMonitor (SFM)激光振镜扫描场焦点分析仪荣获AKL 2022年“激光技术创新奖”（Innovation Award Laser Technology）一等奖，奖金为1万欧元。“激光技术创新奖”由AKL激光协会和ELI欧洲激光研究所联合发起，在德国亚琛每两年颁发一次，主要授予引领从应用导向研究到成功工业实施技术创新的激光制造商和用户及研发人员。德国Primes公司的SFM激光扫描场焦点分析仪是一款多功能一体化的激光光束诊断设备。这项研发是由增材制造和电动汽车的许多新应用而推动的，SFM分析仪具有独特的设计，旨在实现改进的工艺优化和系统认证，并且能实现远程控制，从而使用户能够更好地校准激光3D打印机，以进行工业激光3D打印。SFM根据玻璃板上测量线的散射光来确定激光束和扫描仪的参数SFM激光扫描场焦点分析仪——专利测量技术的原理可通过扫描矢量测量激光束参数。该分析仪适用于波长1000nm~1100nm、功率10W~1500W、入射角0 - 20 °以内的任何激光光束和激光振镜扫描设备的诊断分析，能在不到三秒钟的时间内，测量50μm~500μm焦点位置，峰值功率密度可高达100MW/cm2，使用户能够轻松确定其激光光源的各种参数：光斑直径、位置、扫描速度。同时借助特殊的测量方案，还可以确定枕形失真、重叠扫描场的合并、焦点偏移以及激光的开启和关闭延迟、热透镜检查等时间分辨分析。SFM可以测量分析扫描场聚焦光斑的直径、位置、扫描速度随着越来越多的制造商将选择性激光熔化SLM 3D打印集成到其工艺链中，需要复杂的激光扫描参数测量仪来制定质量标准并保证标准的验证，而SFM激光扫描场焦点分析仪正好满足这项需求。SFM激光扫描场焦点分析仪采用刻有一系列10~15微米厚测量线的玻璃板的专利技术对激光光束特性进行表征。当用户在该玻璃板上扫描激光光束时，光电二极管测量玻璃板上每个刻线的散射光。此过程可用于确定激光光束在SFM激光扫描场焦点分析仪上的路径、焦散和场平坦度。结合集成光电二极管的采样率，SFM激光扫描场焦点分析仪能够计算激光从路径起点到终点的传播速度。再加上德国PRIMES公司特有的算法不仅可以分析多种复杂的关系，而且数据采集是在写入扫描矢量所需的时间（几毫秒）内完成的。为了在粉末加工床中将激光的融合轨迹进行精确定位，至关重要的是使激光的照射顺序与扫描振镜的移动保持同步。因为SFM激光扫描场焦点分析仪可以提供绝对定位信息，因此该仪器最终可以用于校准这两个基本参数。SFM激光扫描场焦点分析仪的主要特点是具有全功能性，它可以将多种测量功能融合到一台设备中。这使得该仪器与各种扫描仪兼容，从而能够表征任何基于激光的扫描系统。最终节省了用户的时间成本和金钱成本。也正因为SFM激光扫描场焦点分析仪的全功能性，可以消除工艺流程对多种测量设备的需求，从而大大的降低了工艺流程的复杂性。SFM激光扫描场焦点分析仪尺寸为80 x 80 x 100mm，非常紧凑，可以放置在打印机构建区的任何位置。PRIMES甚至添加了以太网接口和WLAN模块，因此可以从3D打印机的外部远程控制SFM激光扫描场焦点分析仪。与传统的光束诊断设备不同，该系统能够全功率分析光束，还可以在实际操作条件下进行测量。武汉东隆科技有限公司独家代理德国Primes公司的工业加工激光光束品质分析仪及功率计、自动化集成激光功率计及光束分析仪，我们在技术、服务、价格上都具有独一无二的优势。如果您在使用过程遇到任何产品相关的问题，欢迎您随时来电垂询。

日前，德国PicoQuant公司在这辞旧迎新的日子推出了Sepia PDL 810单通道皮秒半导体激光器驱动器。它可以控制连接的激光头工作在脉冲（Pulsed）或连续（CW）模式下。驱动器可以通过其内置的晶体振荡器触发连接的激光头出光，如果需要更复杂的触发模式，也可以通过外部触发信号实现。支持从单发（外触发模式下）到80 MHz的任何重复频率。Sepia PDL 810激光驱动器的操作参数（如触发源、重复频率和脉冲能量）完全由计算机通过USB进行设置，可以快速设置并轻松存储预定义的设置信息。如果不需要更改参数设置，也可以独立操作。该单通道皮秒半导体激光器驱动器Sepia PDL 810具有如下特点：•  单通道皮秒半导体激光器驱动系统•  Pulsed和CW工作模式•  可通过USB轻松控制•  快速设置和轻松存储预定义信息•  适用于LDH系列、LDH-FA系列和PLS系列激光头众所周知，德国PicoQuant公司在皮秒脉冲激光器方面有着悠久的历史，以及丰富的产品线。那么它们都有哪些不一样呢？让我们通过下表进行简单的认识：不难看出，除了通道数、以及电脑控制/手动控制的控制方式不一样之外，在功能上的区别主要表现为：是否具有Burst模式，那么Burst模式到底是什么呢？在Burst模式下工作，它可以生成用户定义的脉冲串序列，该脉冲串序列由多达1700万个脉冲组成，脉冲串周期可自由选择。使用Burst模式对时间分辨磷光测量，或其他需要较大脉冲能量做激发的待测样品的应用具有重要的价值。下面列举在应用实例中，在Burst模式下的工作优势：使用Burst模式对丙酮溶剂中的H₂TTPS进行激发，产生时间分辨单线态氧发射。将脉冲串作为一个大能量脉冲对样品进行激发，然后采集样品相对缓慢的衰变光子信息。通过尾部拟合得出的寿命为3.4us±0.3us，该结果与文献发表值高度吻合。