2017/05/15 15:00
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台阶仪在三维形貌表征领域的应用
Stylus-based surface profiling is a standard technique for accurate, repeatable surface shape, topography and step height measurement in applications ranging from semiconductor R&D to solar cell QC.
2008/12/15
中药提取类产品解决方案
从中药中提取分离化合物,第一步需要将中药材中的成分用有机溶剂提取出来,包括常规的有机溶剂浸泡,超声提取,超临界提取和加速溶剂萃取(Aseeker-600型加速溶剂萃取仪)等,得到一份总提物。
制药/生物制药
2021/01/04
宝德仪器助力新版《生活饮用水卫生标准》(GB5749-2022)
2022年3月15日,国家市场监督管理总局(国家标准化管理委员会)批准了新版《生活饮用水卫生标准》(GB5749-2022),该标准将于2023年4月1日起正式施行,全部代替现行的GB5749-2006。在新版国家标准中水质指标由原来的106项调整为97项,包括常规指标43项和扩展指标54项;水质参考指标由原来的28项调整为55项。北京宝德仪器有限公司现有产品可帮助用户解决14项常规指标、4项扩展指标和4项水质参考指标的测定。
环保
2022/03/30
Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOₓ成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2,对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试,展示如何通过设备小束斑+成像功能,快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况,来辅助评估表面处理效果及器件质量。
电子/电气
2023/01/10