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组件类别: 光学元件
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NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统。膜厚系统光谱仪精确地测量光学或非光学薄膜厚度,可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。
利用白光干涉测量法的原理,NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据,由于反射率n和k随膜厚的不同而变化,NanoCalc根据这一特性来进行曲线拟合从而求得膜厚。在NanoCalc中,不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述,从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。NanoCalc的膜厚测量范围为1nm到1mm,只要待测材料有一定的透射或反射就能通过NanoCalc进行膜厚测量,这些材料包括氧化物、氮化物和保护膜层等,通常这些覆膜的基地材料包括硅晶片或玻璃灯。
1nm以上的金属膜厚也能测量,只要不是完全不透光的。对于已知的系统,3层以内的多层膜厚测量可以在不到一秒钟时间内完成。
通常拟合曲线和实际曲线由于干涉会引起一些差异,NanoCalc的算法充分考虑到了这一点,从而可以在比较粗糙的表面进行测量。
产品主要优势和特点
UV/VIS/NIR高分辨率的配置
测量准确度在1nm,精度在0.1nm
可测量最大10层薄膜
膜厚测量最小可至1nm,最大可至1mm
可测量最小1nm厚的透明金属层
提供试验台及附件用于复杂外形材料的测量
对表面缺陷和光滑度不敏感
庞大的材质数据库,保证各种材料的精确测量
快 速:
准 确:
分辨率0.1nm,重复性0.3nm,绝对准确度优于1%,并且还有数百种材料组成的庞大材料库,帮助您准确分析您的薄膜。同时NanoCalc为光学测试系统,无任何运动部件,不会由于多次测量产生回程误差等机械运动误差,可长时间稳定工作。
无 损:
灵 活:
重量约为3.5kg,体积为180*150*263mm,USB连接方式,自适应90-240V的电压,携带方便,安装简单,可任意放置于实验室、生产线甚至办公桌上使用。拥有多种特种配件,可适用如非平面测量,显微测量,mapping等特殊要求。
易 用:
性价比高:
应用领域
半导体
SiO2
光刻胶
SOI等
LCD/TFT/PDP
液晶盒厚
聚亚酰胺
ITO等
LED
触摸屏
ITO
AR Coating
反射/透射率测试等
汽车
防雾层
Harding Coating
DLC等
医学
聚对二甲苯涂层
球囊/导管壁厚
药膜等
太阳能
TCO
CIGS
CdS/CdTe
A-Si等
聚合物薄膜
PET
PC
亚克力等
眼镜
技术参数
企业名称
上海佑谱光学仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310114002478384
成立日期
2012-12-13
注册资本
100
经营范围
仪器仪表、实验室设备、环保设备、光学仪器(除医疗器械)、电子元器件、电子产品、数码产品、计算机、软件及辅助设备、化工原料及产品(除危险化学品、监控化学品、烟花爆竹、民用爆炸物品、易制毒化学品)、办公用品、机电设备、橡胶制品、玻璃制品、防水材料、机械设备及配件的销售,机电设备安装和维修(除特种设备),机械设备的租赁(不得从事金融租赁),商务咨询。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
公司地址
浦东新区置业路111号1号楼413室
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佑谱光学NanoCalc膜厚系统光谱仪
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公司地址: 浦东新区置业路111号1号楼413室 联系人: 黄磊 邮编: 201299
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