从SPM-on-SPM 2016看 JPK AFM

“2016扫描探针显微镜（SPM）与软物质及高分子材料国际会议（SPM-on-SPM 2016）”于2016 年 8 月 27至29日在超分子楼圆形报告厅顺利召开。本届会议主席由吉林大学杨柏教授、张文科教授，清华大学张希院士共同担任。会议期间来自中国、美国、英国、德国、比利时、日本等12个国家的150名著名专家学者，围绕软物质的纳米力学性质，高速、超分辨成像，单分子力学操纵，活细胞力学性质，SPM的新设计与新方法，SPM与其它技术的结合等主题进行了坦诚、深入的研讨。

JPK(德国)公司作为原子力显微镜的著名制造商代表受邀全程参加了此次会议。JPK应用专家 Dimitar Stamov 博士作了题目为："Application of Fast AFM for Studying Dynamic Prosesses with High Spationtemporal Resolution and Full Intefration with Optical Miroscopy”的会议报告。Stamov博士的精彩报告得到了与会者的积极响应，大家纷纷就报告提到的定量纳米成像模式（Quantitative imaging mode，QI）、快速无漂移高分辨成像以及快扫和高分辨荧光的联用进行了细致深入的讨论。

在本次会议的优秀墙报评展中，来自吉林大学和南京大学的JPK用户，经由与会专家推选，因其出色的科研成果和完美的墙报展示独揽全部三奖项中的两项大奖。

关于JPK公司

JPK 在1999 年成立于德国柏林，是一家全球领先的高科技纳米分析仪器跨国企业，其产品包括享誉全球的高分辨快速原子力显微镜、全自动力谱仪、测力型光镊、细胞力谱仪等高水平、高精度分析仪器，广泛应用于生命科学、高分子、纳米材料等高科技研究领域。JPK于2014年在中国成立“杰评科精密仪器贸易（上海）有限公司”，并设立有分析实验室、耗材备件仓库以及售后服务中心，为广大中国用户提供高效完美的测试解决方案，迅捷专业的售后服务和全方位的技术支持。

最新JPK NanoWizard^® 4 AFM 技术特点:

-高分辨闭环平板扫描器

-全针尖(XYZ)扫描模式

-无侧向力定量成像模式(QI ^TM)

-首创大范围/高速扫描器

(100umXY扫描范围,扫描速度可高达70Hz)

-完美的先进光学整合(STED,TERS,SNOM等)

更多原子力显微镜信息，请访问：

http://china.jpk.com

http://www.instrument.com.cn/netshow/SH103864/product.htm