U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪

Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。

然后通过冷凝颗粒计数器（例如Palas UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。

U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。

U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。

U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。

特点：

U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪，适合各种应用（8–1200nm）

•    粒径分布从8 nm到1.2 μm

•    连续和快速扫描的测量原理

•    高分辨率，多达128个大小类/衰减

•    适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度

•    可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器

•    图形显示测量值

•    直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI

•    集成数据记录仪

•    支持多种接口和远程访问

•    低维护

•    功能可靠

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