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粉丝量 0
核心参数
二次电子图象分辨率： **
放大倍数： **
加速电压： **
背散射电子图像分辨率： **
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为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。
Q45材料科学应用
为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求，FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据：表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成优点：
1）在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。
2）样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析
3）增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。
4）利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。
5）采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。
6）简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作
企业名称
北京源海威科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
110108015486009
成立日期
2012-12-04
注册资本
500
经营范围
技术开发、技术转让、技术咨询、技术服务;技术进出口、货物进出口、代理进出口;工程和技术研究与试验发展;销售不再分装的包装种子、机械设备、电子产品、计算机、软件及辅助设备、通讯设备、仪器仪表。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
北京源海威科技有限公司
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北京市海淀区上地信息路6层
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